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WGG2-201原理圖
WGG2-323原理圖
測量范圍℃ |
量程℃ |
允許基本誤差℃ |
附注 |
|
700-2000 |
700-1500 |
800-<900 |
±33 |
800℃以下僅作參考 |
900-1500 ±22 |
900-1500 |
±22 |
||
1200-2000 |
±30 |
WGG2型光學高溫計是非接觸式測量高溫的儀表,當被測量的溫度高於熱電偶所能使用的范圍,以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所,用光學高溫計一般可以滿足這個要求。它廣泛地用來測量冶練、澆鑄、軋鋼、政璃熔害、鍛打、熱處理等溫度,是冶金、化工和機械等工業(yè)生產(chǎn)過程中不可缺少的溫度測量儀表之一。
什么叫光學幕,在投影機領域中,經(jīng)常聽見光學幕,背投光學幕 光學背投幕 光學是什么意思?》
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誰能告訴我導光板的光學原理,最好能用幾何光學的知識解釋一...
導光板是以高透明光學級壓克力(PMMA)為基材,運用LCD顯示屏及筆記本電腦的背光源模塊顯示技術,利用熒光燈、CCFL、LED光源透過按光學原理計算后的導光點或?qū)Ч獠郏瑫r高折射成平面光源。在反光膜和...
光纖主要分為兩類: 單模光纖(Single-mode Fiber):一般光纖跳線用黃色表示,接頭和保護套為藍色;傳輸距離較長。 &nbs...
WGG2型光學高溫計能在環(huán)境溫度1O~50°C,相對濕
度不大于85%的情況下連續(xù)工作。
物鏡與目標之間的距離不小于700毫米。標尺長度不小于90毫米。
凈重約1.8公斤。
有效波長λ=0.66um時各種金屬材料的單色輻射黑度系數(shù)
材料名稱 |
表面無氧化層 |
有氧化層光滑表面 |
||
固態(tài) |
液態(tài) |
|||
鋁 |
—— |
—— |
0.22-0.4 |
|
銀 |
0.07 |
0.07 |
—— |
|
銅 |
0.35 |
0.37 |
0.8 |
|
鑄鐵 |
0.37 |
0.4 |
0.7 |
|
銅 |
0.1 |
0.15 |
0.6-0.8 |
|
康銅 |
0.35 |
—— |
0.84 |
|
鎳 |
0.36 |
0.37 |
0.85-0.96 |
|
鎳鉻合金 |
90%Ni,10%Cr |
0.35 |
—— |
0.87 |
80%Ni,20%Cr |
0.35 |
—— |
0.9 |
|
鎳鉻合金95Ni,Al,Mn,Si |
0.37 |
—— |
—— |
|
磁器 |
—— |
—— |
0.25-0.50 |
|
石墨(粉狀) |
0.95 |
—— |
—— |
|
炭 |
0.80-0.93 |
—— |
—— |
紅外輻射高溫計在玻璃熱彎加工設備上的應用
格式:pdf
大?。?span id="xudmcop" class="single-tag-height">433KB
頁數(shù): 未知
對高溫計的結構及測溫進行了簡介 ,提出了紅外輻射高溫計通過操作鍵盤在計算機中設定熱彎的溫度參數(shù)等過程而實現(xiàn)在玻璃深加工設備上的應用 ,并對其正確使用及必要的維護保養(yǎng)進行了闡述
一種利用物體光譜輻射度(即光譜輻射亮度)測量其溫度的高溫計。由熱輻射的能量分布定律求得物體的實際溫度T與亮度溫度Ts的關系為
,
式中λ為所測量的單色輻射波波長,普通光學高溫計中利用紅色濾光片得到λ=0.650μm;c2=0.014388m·K為普朗克第二輻射常數(shù);ε(λ,T)是物體的光譜發(fā)射率(黑度系數(shù)),它與溫度、波長、物質(zhì)種類及物體表面狀態(tài)等因素有關,其值可以從有關手冊中查閱或按需要自行測定。用光學高溫計測出物體的亮度溫度Ts后,由上式就可以算出待測溫度。
根據(jù)熱輻射的斯忒藩-玻耳茲曼定律制成的高溫計。
輻射高溫計有折射式和反射式兩種。
折射式輻射高溫計接受器通常用熱電堆組成,熱端收集輻射能,冷端為室溫。測量時通過目鏡瞄準待測的物體,使物體的像正好落在接受器的“ ”形鉑片上。
電表指示出接受器的溫升,通常的分度標示為黑體輻射溫度值Tp。這種高溫計的主要缺點是:因物鏡聚焦時有色差, 只能使一部分輻射能聚焦到接受器上而引起誤差。
反射式高溫計是利用凹面鏡將輻射能量聚焦到接受器上而進行測量的。
結構與折射式高溫計大致相同。這種高溫計雖然避免了透鏡存在色差所引起的誤差,但因空腔敞開,灰塵容易進入腔內(nèi)而需要更好地維護。
輻射高溫計的測溫范圍及性能與光學高溫計的相同。
輻射高溫計的測量誤差主要來源于:
①中間媒質(zhì)(如大氣等)的選擇吸收作用,使達到接受器的輻射能量中紅外部分損失較多;
②沒有按規(guī)定的熱源到高溫計的距離進行測量(通常每種輻射高溫計對于被觀測面面積的直徑與高溫計透鏡間的距離都規(guī)定了比值);
③各種高溫計中接受器的選擇吸收特性不同,致使光譜發(fā)射率偏離選取值;④熱電堆冷熱端溫度的改變、儀表的誤差等。2100433B
測量較高溫度的儀器。以光學高溫計和輻射高溫計兩類最為重要。
在光學高溫計中,燈絲加熱到標定的熱度,與高熱物體的顏色相比較,調(diào)整燈絲熱度,使其顏色與高熱物體相一致,燈絲的溫度即為高熱物體的溫度。
在輻射高溫計中,將來自物體的輻射集中在溫差電堆(thermopile)上,根據(jù)其所截獲的熱輻射量產(chǎn)生相應的電壓,再將電壓換算為該物體的溫度。
高溫計是有兩種形式:
1)一種用于測量熔池溫度的裝置,包括:耐火材料安裝套筒以及光學高溫計;
2)一般指測量溫度高于 500℃所使用的溫度計。常用的高溫計有光學高溫計、比色高溫計及輻射高溫計等。
此外,熱電偶溫度計也可以用來測量3000℃以下的高溫。但因熱電偶溫度計的測量范圍可低到-200℃,所以一般不把它歸于高溫計內(nèi)。