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更新時(shí)間:2024.12.28
EXFO光纖測(cè)試儀的GE通道測(cè)試指導(dǎo)手冊(cè)

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EXFO光纖測(cè)試儀 GE測(cè)試方法 EXFO測(cè)試儀表采用的 window XP操作系統(tǒng)。打開儀表的程序后,出 現(xiàn)以下界面: 圖一; 圖二、 圖三、測(cè)試 GE端口時(shí),需要選擇此窗口 圖四、 圖五、 圖六、 圖七、 圖八、 圖九、 圖十、 圖十一、 圖十二、 圖十三、 圖十四、 圖十五、 圖十六、 圖十七、 圖十七、

光纖連接器端面測(cè)試儀的研制

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為確保高質(zhì)量連接器的批量生產(chǎn)研制了端面測(cè)試儀.采用光學(xué)相位測(cè)量技術(shù),通過高精度測(cè)量連接器端面的表面形貌,借助Matlab的圖像處理技術(shù),可以得到端面的曲率半徑、球面偏心度及凹陷度等決定連接器質(zhì)量的關(guān)鍵參數(shù).測(cè)量精度高(曲率半徑相對(duì)誤差為0.2%,凹陷度誤差為2nm,偏心度誤差為1μm),速度快,易操作.

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