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更新時(shí)間：2025.01.05
基于FPGA的雷達(dá)恒虛警模塊的設(shè)計(jì)

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恒虛警處理技術(shù)可以使雷達(dá)在保持較高發(fā)現(xiàn)概率的同時(shí),降低虛警概率。為了提高機(jī)載雷達(dá)在雜波與噪聲背景條件下發(fā)現(xiàn)目標(biāo)的能力,針對(duì)復(fù)雜統(tǒng)計(jì)模型應(yīng)用的局限性,提出了一種基于FPGA的恒虛警模塊的設(shè)計(jì)思想,并在軟件平臺(tái)環(huán)境下,對(duì)設(shè)計(jì)方法的可行性進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。

云山星座苑施工測量

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一. 施工測量 1、定位方法 本工程測量定位根據(jù)業(yè)主提供的施工總平面圖，先用J2E經(jīng)緯儀控制點(diǎn)和軸線，再由直角關(guān)系定位出其他方向軸線。 本工程的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)施工將采用“軸線平面坐標(biāo)測量定位”的方法來進(jìn)行軸線控制。 地上部分將采用垂準(zhǔn)經(jīng)緯儀將閉合控制點(diǎn)由下引上來測定控制軸線的方案。 水準(zhǔn)測量采用往返“精密水準(zhǔn)”的測量方案。 2、測量儀器的選用 名 稱 型 號(hào) 等 級(jí) 產(chǎn) 地 光學(xué)經(jīng)緯儀 J2E 22級(jí) 蘇州光學(xué)儀器廠 垂準(zhǔn)經(jīng)緯儀 DJ6-C6 22級(jí) 上海光學(xué)儀器廠 水準(zhǔn)儀 NA28 二等 LEICA 鋼卷尺 50M 上海卷尺廠 3、平面軸線控制測量 基準(zhǔn)平面軸線的設(shè)置以業(yè)主提供的基準(zhǔn)點(diǎn)為依據(jù)，根據(jù)設(shè)計(jì)總平面圖紙軸線的布置要求，采用平面坐標(biāo)測量法測量軸線，原則上應(yīng)一次測量到位。 軸線坐標(biāo)控制點(diǎn)投測完畢之后，互相

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