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更新時(shí)間：2024.12.22
絕緣電阻測(cè)試儀

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絕緣電阻測(cè)試儀 型號(hào) 技術(shù)指標(biāo) 產(chǎn)地 3121 2500V, 2G/100GΩ(自動(dòng)量程 ),指針式 日本 3122 5000V, 5G/200GΩ(自動(dòng)量程 ),指針式 日本 3123 5000/10000V,0.2 G/200GΩ(自動(dòng)量程 ),指針式 日本 3124 1K~10KV 可調(diào) , 1.6GΩ/100GΩ(自動(dòng)量程 ), 指針式 日本 3125 500/1000/2500/5KV,1000G, 可測(cè)極化指數(shù) , 吸收比 日本 3007A 250V/500V/1000V , 20MΩ/200MΩ/2000MΩ ,數(shù)字式 日本 DY30 500/1000/2500V, 20M/200M/2000M/20GΩ ,數(shù)字式 國(guó)產(chǎn) BY2671 500/1000/2000/2500V ,10M～19990 MΩ 國(guó)產(chǎn) 接地電阻測(cè)試儀 型號(hào) 技術(shù)指標(biāo) 產(chǎn)地 4105A 電阻： 0-20Ω

絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量常見(jiàn)問(wèn)題

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絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量常見(jiàn)問(wèn)題 1. 在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為 什么? 絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。 當(dāng)被測(cè) 試品存在電容量時(shí)， 在測(cè)試過(guò)程的開(kāi)始階段， 絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該 電容充電， 并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。 顯然，如果試品的電容量 值很大， 或高壓源內(nèi)阻很大， 這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。 其長(zhǎng)度可由 R內(nèi)和 C負(fù)載的乘 積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測(cè) 試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分 量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。 如：額定電壓為 5000V的絕緣電阻測(cè)試儀，若其短路輸出電流為 80μA(日本共立產(chǎn) )，其 內(nèi)阻為 5000V/80

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