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更新時(shí)間：2025.04.05
動(dòng)力觸探標(biāo)貫儀校驗(yàn)方法

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動(dòng)力觸探（標(biāo)貫）儀自檢校驗(yàn)方法 一、 技術(shù)要求 動(dòng)力觸探（標(biāo)貫）儀技術(shù)參數(shù)見下表： 類型 落錘質(zhì)量 （kg） 落距 （cm） 探桿直徑（mm） 圓錐頭或貫入器 輕型 10±0.01 50±1 25±0.5 錐角 a=60.5±0.5° 錐底面積 A=12.6±0.1cm2 重 型 動(dòng)力 觸探 63.5±0.5 ±762 42±0.5(壁厚 ) 錐角 a=60±0.5° 錐底面積 A=43±0.4cm2 標(biāo)準(zhǔn) 貫入 63.5±0.5 76±2 42±0.5 外徑 51±0.5mm 內(nèi)徑 35±0.5mm 長(zhǎng) 700±10mm 二、 校驗(yàn)項(xiàng)目及條件 1、 校驗(yàn)項(xiàng)目 （1）落錘質(zhì)量、落距。 （2）探桿直徑。 （3）圓錐頭錐角及錐底面積或貫入器內(nèi)徑、外徑及長(zhǎng)度。 2、 校驗(yàn)用器具 （1）鋼直尺：量程 1m、分度值 1mm。 （2）臺(tái)稱：稱量 100kg、感量 50g。 （3）案稱：稱量

“全國(guó)制冷空調(diào)產(chǎn)品采標(biāo)宣貫大會(huì)”報(bào)道

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在 - 200 ℃和 - 120 ℃低溫下保存的土豆 ,可 以看到明顯的裂紋 ;在 - 80 ℃下保存的土豆 可以看到微小裂 ;在 - 40 ℃下保存的土豆看 不到明顯裂紋。圖 9 是低溫保存后的土豆 照片。低溫保存土豆實(shí)驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)裂紋一般 由中心部位產(chǎn)生 ,逐漸向外周延展。而且裂 紋都是沿半徑方向 ,沒有出現(xiàn)分層的現(xiàn)象 , 這與計(jì)算結(jié)果 :在壁面的各個(gè)位置周向應(yīng)力 都大于徑向應(yīng)力 ,十分吻合。 參考文獻(xiàn) 1、徐紅艷 ,血管保存實(shí)驗(yàn)研究 ,低溫工程增刊 , 1999 ,4 ,p263 - 167 2、Rubinsky , B. , Cravalho , E. G. , Thermal stresses in frozen organs ,Cryobiology ,17 ,1980 ,p66 - 73 3、Rabin. R ,Steif . P. S ,Analysis of thermal

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