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通過對USB連接線中USB端子表面產(chǎn)生銹蝕機理的分析與試驗驗證,發(fā)現(xiàn)了導致USB銹蝕的主要機理是,殼外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑膠層因其穩(wěn)定性不理想,在高溫高濕的環(huán)境條件下容易分解產(chǎn)生腐蝕性的氯化氫氣體殘存于USB殼的表面,并在空氣中存在的氧氣及水的共同作用下使其發(fā)生了腐蝕;當USB殼表面鍍層存在缺陷或污染時,這種銹蝕愈發(fā)嚴重。針對銹蝕產(chǎn)生的機理給出了相應的控制對策。