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為了提高存儲器的邊界掃描測試軟件的通用性,提出一種基于TCL語言及邊界掃描技術(shù)的存儲器測試腳本設(shè)計方案。結(jié)合存儲器測試理論及邊界掃描邏輯簇測試技術(shù),研究基于TCL腳本語言的存儲器測試腳本設(shè)計方法,用以在進行存儲器簇測試時描述存儲器自身的讀寫特性及與其外部邊界掃描測試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲器功能測試的例子。通過測試驗證,使用TCL腳本語言與高級語言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測試軟件的工作效率。
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為了提高存儲器的邊界掃描測試軟件的通用性,提出一種基于TCL語言及邊界掃描技術(shù)的存儲器測試腳本設(shè)計方案。結(jié)合存儲器測試理論及邊界掃描邏輯簇測試技術(shù),研究基于TCL腳本語言的存儲器測試腳本設(shè)計方法,用以在進行存儲器簇測試時描述存儲器自身的讀寫特性及與其外部邊界掃描測試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲器功能測試的例子。通過測試驗證,使用TCL腳本語言與高級語言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測試軟件的工作效率。