造價通
更新時間：2025.06.15
高亮度LED用電路板線鍵合強度試驗方法(線拉力)

格式：pdf

大?。?span class="single-tag-height">77KB

頁數(shù)： 4頁

（資料性附錄） 線鍵合強度試驗方法（線拉力） C.0 引言 本方法譯自日本 JEITA 協(xié)會的 EIAJ ED-4703 ，K-112 線鍵合強度 ( 線拉力 )。 C.1 適用范圍 本標準規(guī)定了評價金屬線連接拉伸強度的方法， 線鍵合采用熱壓法、 超聲波法和其它相 關技術，涉及半導體器件封裝內(nèi)部芯片、引線框架、線端子之間的金屬線連接強度。 注： (1) 本標準應根據(jù) IEC749 第 2 章 機械試驗方法， 6、鍵合強度試驗； (2) 此項 試驗主要用于器件封裝之前。已封裝產(chǎn)品進行試驗時，必須開啟封裝體。對 于器件的塑料封裝體去除，可能會降低線鍵合強度，難以得到正確的數(shù)值， 因此不希望用來測試封裝后產(chǎn)品。 C.2 試驗裝置 所用試驗裝置必須符合規(guī)定的試驗條件， 裝置對引線加載的拉力適當符合規(guī)定要求。 測 量和發(fā)生故障時施加的拉力應以牛頓 (N)表示。測量時校正裝置的拉力精度， 1

動態(tài)電路分析方法

格式：pdf

大?。?span class="single-tag-height">32KB

頁數(shù)： 3頁

動態(tài)電路分析方法 電路的動態(tài)分析， 是歐姆定律的具體應用， 在歷年的高考中經(jīng)常出現(xiàn)。 此類問題能力要 求較高， 同學們分析時往往抓不住要領， 容易出錯。 電路發(fā)生動態(tài)變化的原因是由于電路中 滑動變阻器觸頭位置的變化，引起電路的電阻發(fā)生改變，從而引起電路中各物理量的變化， 在此將動態(tài)電路的分析方法介紹如下。 一、程序法 根據(jù)歐姆定律及串、 并聯(lián)電路的性質(zhì)進行分析?；舅悸肥牵?“部分—整體—部分” ，即從阻 值變化的部分如手， 由串并聯(lián)電路規(guī)律判知 R總的變化情況， 再由歐姆定律判知 I總和U 端的 變化情況，最后由部分電路的歐姆定律得知個部分物理量的變化情況，一般思路是： 1確定電路的外電阻 R外總?cè)绾巫兓?2根據(jù)閉合電路的歐姆定律 E I R r 總 外總 確定電路的總電流如何變化。 （利用電動勢不變） 3由U I r內(nèi) 內(nèi) 確定電源內(nèi)電壓如何變化。 （利用 r 不變） 4由U E U

熱門知識

電路查驗方法

精華知識

電路查驗方法

最新知識

電路查驗方法
點擊加載更多>>

相關問答

電路查驗方法
點擊加載更多>>
專題概述
電路查驗方法相關專題

分類檢索：