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對高溫計的結(jié)構(gòu)及測溫進(jìn)行了簡介 ,提出了紅外輻射高溫計通過操作鍵盤在計算機(jī)中設(shè)定熱彎的溫度參數(shù)等過程而實現(xiàn)在玻璃深加工設(shè)備上的應(yīng)用 ,并對其正確使用及必要的維護(hù)保養(yǎng)進(jìn)行了闡述
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采用低溫輻射計在1064 nm波長對兩個硅陷阱探測器(trap 0#和trap B)進(jìn)行絕對光功率響應(yīng)度定標(biāo)。描述了定標(biāo)方法、實驗裝置和數(shù)據(jù)的分析方法,提出了低溫輻射計窗口的精確復(fù)位和窗口透過率的測量方案,測量得到的透過率達(dá)到0.999以上。結(jié)果表明,兩個探測器絕對響應(yīng)度定標(biāo)的合成不確定度分別為1.457×10~(-4)和1.458×10~(-4),定標(biāo)結(jié)果的重復(fù)性分別達(dá)到了0.014%和0.008%。分析了測量時各項不確定度來源,對光功率響應(yīng)度定標(biāo)不確定度進(jìn)行了評估。對0~#硅陷阱探測器在1064 nm波長處光功率響應(yīng)度的溫度穩(wěn)定性進(jìn)行了測試研究。