標(biāo)尺刻度的設(shè)計
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基于虛擬點探測器模型的HPGe探測器體源效率刻度
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基于虛擬點探測器(VPD)模型應(yīng)用平方反比定律,介紹了一種通過點源模擬實驗進行HPGe探測器對圓柱體源樣品的峰效率刻度方法。實驗驗證表明:在一定范圍內(nèi)利用該方法對圓柱體源進行效率刻度是合理可行的,并能獲得較好的刻度結(jié)果,該方法可操作性強,可應(yīng)用于工程實踐。
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