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更新時(shí)間:2025.03.30
基于ARM9芯片S3C2410異常中斷程序設(shè)計(jì)

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基于ARM9芯片S3C2410異常中斷程序設(shè)計(jì)

多重中斷程序測(cè)試框架

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為了解決多重中斷的執(zhí)行不確定性帶來(lái)的測(cè)試?yán)щy問(wèn)題,在多重中斷產(chǎn)生并發(fā)錯(cuò)誤的特點(diǎn)的基礎(chǔ)上,提出了一種多重中斷程序測(cè)試框架。該測(cè)試框架通過(guò)從外部加載一組合適的中斷信號(hào)序列控制中斷處理程序的執(zhí)行過(guò)程,迫使中斷程序經(jīng)歷待測(cè)序列,避免了構(gòu)造復(fù)雜的運(yùn)行時(shí)控制環(huán)境。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,相對(duì)于一般的中斷錯(cuò)誤分析方法,該測(cè)試框架能夠?qū)樞虺绦蚨嘀刂袛喹h(huán)境下可能產(chǎn)生并發(fā)錯(cuò)誤的時(shí)序環(huán)境和具體原因進(jìn)行較為準(zhǔn)確地分析。

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