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目前一般概念上的嵌入式CPU應(yīng)用于PCB板級(jí)上,隨著集成電路技術(shù)成本的大幅度下降,芯片內(nèi)系統(tǒng)集成技術(shù)已成為ASIC設(shè)計(jì)的主流,而芯片內(nèi)嵌入式CPU已經(jīng)成為片內(nèi)系統(tǒng)的重要組成部分。應(yīng)用于定頻空調(diào)的控制器中的基于RISC架構(gòu)的嵌入式CPU核。采用RISC方式實(shí)現(xiàn)CISC方式譯碼,用狀態(tài)控制器來(lái)實(shí)現(xiàn)核心控制單元,通過(guò)中斷來(lái)實(shí)現(xiàn)各種事件與CPU之間的通信。處理器正常工作頻率為8MHz,運(yùn)行速度最高可以達(dá)到27.6MHz。
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介紹了基于雙核結(jié)構(gòu)全數(shù)字化閃變檢測(cè)儀的功能、特點(diǎn)及軟硬件實(shí)現(xiàn)方案。該檢測(cè)儀的硬件設(shè)計(jì)采用ARM+DSP模式的高速雙處理器為核心,包括前置信號(hào)處理、A/D轉(zhuǎn)換、觸摸屏、USB接口、LCD驅(qū)動(dòng)及顯示等部分。算法上,針對(duì)目前將IEC閃變檢測(cè)方法數(shù)字化過(guò)程中所帶來(lái)的不足,利用二次采樣方法,對(duì)IEC閃變檢測(cè)數(shù)字化算法進(jìn)行了優(yōu)化,并用M atlab軟件驗(yàn)證了此方法的正確性,克服了數(shù)字化過(guò)程中因采樣頻率過(guò)高帶來(lái)的硬件資源緊張等方面的不足,尤其是對(duì)嵌入式全數(shù)字IEC閃變儀的研制和原有儀表的升級(jí)改造具有重要的理論和實(shí)際意義。
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