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更新時間:2025.04.19
雷電沖擊試驗中的壓敏電阻性能

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雷電沖擊試驗中的壓敏電阻性能

一種嵌入Bicmos帶隙電路的過溫保護(hù)電路

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提出一種集成于帶隙電路中的過溫保護(hù)電路。該電路結(jié)構(gòu)簡單,在正常溫度工作情況下不消耗額外功耗,具有低功耗的特性,同時電路不受電源電壓變化的影響。電路采用JAZZ0.5umBiCMOS工藝庫模型,對電路進(jìn)行仿真表明,電路對電源電壓變化的抑制能力強(qiáng)、對閾值溫度和遲滯溫度差的精度高。

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