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更新時間：2024.12.22
Zn~(2+)脅迫對白皮松針葉電阻抗圖譜參數(shù)的影響

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研究了Zn2+脅迫下白皮松(Pinus bungeana)針葉細胞膜的電特性,對盆栽6a生白皮松苗,應用電阻抗圖譜法測定了不同濃度Zn2+(0,200,500,1000,2000,3000 mg.L-1)脅迫下白皮松針葉的胞外電阻率、胞內(nèi)電阻率、弛豫時間、弛豫時間分布系數(shù)、高頻電阻率和低頻電阻率。結(jié)果表明:在Zn2+脅迫下,隨處理時間的延長,胞外電阻率和低頻電阻率總是增加,胞內(nèi)電阻率和高頻電阻率則先減小后增加,弛豫時間先增加后減小,弛豫時間分布系數(shù)無明顯變化趨勢。隨Zn2+脅迫濃度的增加,處理7d后各參數(shù)均無明顯變化;處理14d后,各參數(shù)均隨濃度的增加逐漸增加,相比對照,胞外電阻率和低頻電阻率都分別增加了115%~235%,胞內(nèi)電阻率分別增加了34%~95%;處理21d后,除弛豫時間分布系數(shù)外,其余各參數(shù)在3000mg.L-1Zn2+處理相比對照差異顯著,胞外電阻率和低頻電阻率增加129%,胞內(nèi)電阻率增加232%,弛豫時間減少74%,高頻電阻率增加216%;處理28d后,胞外電阻率、胞內(nèi)電阻率、高頻電阻率和低頻電阻率均在Zn2+濃度200,2000,3000 mg.L-1時與對照相比有顯著差異?？梢?Zn2+脅迫處理14d時,對白皮松針葉均有明顯傷害,可能是對Zn2+脅迫最敏感時期;白皮松針葉不能忍耐2000 mg.L-1以上Zn2+濃度脅迫。

長安街道路綠地內(nèi)白皮松衰弱原因分析及復壯措施

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本文對長安街沿線(南禮士路至建國門橋)白皮松的外觀生長勢、根系分布情況、立地生長條件和養(yǎng)護管理等進行了調(diào)查,分析認為衰弱主要是由于多種因素共同作用造成白皮松的根系分布發(fā)生改變,根系衰退所致。經(jīng)實踐研究,本文提出科學控制土壤的水分、合理植物配置、增強土壤的透氣性等復壯措施來改善白皮松衰弱現(xiàn)狀。

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