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主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。
1、光纖系統(tǒng)的測(cè)試指標(biāo)
光纖線路的測(cè)試只要求測(cè)試一項(xiàng)結(jié)果──衰減:
· 衰減量<1.5dB,(1300nm)
· 衰減量<2.5dB,(850nm)
2、測(cè)試項(xiàng)目
· 連通性測(cè)試
· 全程衰減及SC連接頭衰減測(cè)試
3、具體測(cè)試方法
· 多模光纖水平子系統(tǒng)需要測(cè)試端的參數(shù);
沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm或1300nm處測(cè)試衰耗值
· 多模光纖主干系統(tǒng)需要測(cè)試的參數(shù);
沿一個(gè)方向在波長(zhǎng)850nm及1300nm處測(cè)試衰耗值
光纖檢測(cè)主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。
由于不同方向的測(cè)試的數(shù)值之差,一般會(huì)很小,而且多半由測(cè)試儀器的精度或測(cè)試手法而引起,所以單方向測(cè)試已足夠。而水平子系統(tǒng)的距離標(biāo)準(zhǔn)極限很短(90米),所以其在不同波長(zhǎng)處測(cè)試值的差別不大,因而單波長(zhǎng)測(cè)試已足夠)。
為符合TIA/EIA528-14A關(guān)于"多模光纖的安裝及光功率損耗的測(cè)試"等要求,光纖測(cè)試采用FTK200型測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試,對(duì)于光纖系統(tǒng),測(cè)試指標(biāo)可由以下公式計(jì)算得出:
全程鏈路衰耗值=光纜的衰耗值 耦合器光纖連接頭損耗
注:耦合連接具體依據(jù)其連接插頭型號(hào)有多種方式,相關(guān)的一些測(cè)試指標(biāo)如下:
50um多模光纖系統(tǒng)
多模光纖 |
連接頭 |
|||
信號(hào)波長(zhǎng) |
最大衰減dB/km |
最大容量MHz/km |
類型 |
最大衰減dB |
850nm |
3.50 |
1500 |
多模LC/LC連接頭 |
0.39 |
1300nm |
1.50 |
500 |
多模LC/LC連接頭 |
0.39 |
50um多模光纖損耗公式:
光纖線纜的損耗=光纖線纜長(zhǎng)度(km)×(3.50dB/km在850nm處或1.50dB/km在1300nm處)
耦合器的衰耗(ST或SC連接器)=(連接器的數(shù)目×0.39dB) 0.42dB
磨光機(jī)是用來(lái)進(jìn)行金屬表面打磨處理一種手動(dòng)電動(dòng)工具。進(jìn)行安全檢測(cè)要用儀器設(shè)備的.影響安全的包括電氣性能和機(jī)械性能.要測(cè)塑料外殼的耐電壓性能(會(huì)不會(huì)被電壓擊穿),耐重壓的性能(會(huì)不會(huì)被壓碎),根據(jù)不同場(chǎng)合...
1、堿性過(guò) 鉀紫外 分光光度法(GB 11894-89):如英國(guó)RAIKING,中國(guó)銳泉等品牌是主流的在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上優(yōu)化的產(chǎn)品。2、氣相分子吸收光譜法:該方法主要應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室。3...
一般的防雷的接地體和引上線都是在地下和建筑物的墻體內(nèi)敷設(shè)完成的,所以我們?cè)谕饷媸菬o(wú)法接觸到防雷引線的,所以為了方便檢測(cè)我們就在引上線的某處進(jìn)行可靠的連接一根金屬體把它引到我們比較方便的地方一般在建筑物...
光纖面板透過(guò)率分布檢測(cè)方法
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頁(yè)數(shù): 5頁(yè)
通過(guò)建立光纖面板圖像中的透過(guò)率與灰度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,運(yùn)用數(shù)字圖像采集、處理技術(shù)和面陣CCD成像技術(shù),設(shè)計(jì)了用于測(cè)量光纖面板透過(guò)率分布的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。通過(guò)實(shí)驗(yàn)給出了該系統(tǒng)的測(cè)量結(jié)果,并驗(yàn)證了該檢測(cè)方法的可行性。
基于PCI Express總線的光纖檢測(cè)系統(tǒng)
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提出了一種基于高速外設(shè)互聯(lián)組件總線的光纖檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)方案,介紹了系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu),對(duì)系統(tǒng)軟/硬件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了探討,研究了現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列內(nèi)嵌的高速外設(shè)互聯(lián)組件硬核,Windows下WDM驅(qū)動(dòng)程序的開(kāi)發(fā)和Win32應(yīng)用程序的設(shè)計(jì)。軟硬件合理結(jié)合,較好地滿足了系統(tǒng)對(duì)外接口的要求。在雷達(dá)系統(tǒng)實(shí)際應(yīng)用中效果顯著,極大地提高了系統(tǒng)的調(diào)試效率。
光纖檢測(cè)的主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。檢測(cè)方法很多,主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。
1.人工簡(jiǎn)易測(cè)量
這種方法一般用于快速檢測(cè)光纖的通斷和施工時(shí)用來(lái)分辨所做的光纖。它是用一個(gè)簡(jiǎn)易光源從光纖的一端打入可見(jiàn)光,從另一端觀察哪一根發(fā)光來(lái)實(shí)現(xiàn)。這種方法雖然簡(jiǎn)便,但它不能定量測(cè)量光纖的衰減和光纖的斷點(diǎn)。
2.精密儀器測(cè)量
使用光功率計(jì)或光時(shí)域反射圖示儀(OTDR)對(duì)光纖進(jìn)行定量測(cè)量,可測(cè)出光纖的衰減和接頭的衰減,甚至可測(cè)出光纖的斷點(diǎn)位置。這種測(cè)量可用來(lái)定量分析光纖網(wǎng)絡(luò)出現(xiàn)故障的原因和對(duì)光纖網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)價(jià)。
圖1A、1B是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》傳感光纖封裝示意圖,圖1A是側(cè)視圖,圖1B是截面圖;
圖2是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》基于分布式光纖檢測(cè)技術(shù)的灌注樁檢測(cè)系統(tǒng);
圖3是《灌注樁基礎(chǔ)分布式光纖傳感檢測(cè)方法與系統(tǒng)》分布式樁身變分布圖。
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內(nèi)容介紹
《現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)技術(shù)(西安交通大學(xué)研究生創(chuàng)新教育系列教材)》編著者沈玉娣等。
《現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)技術(shù)(西安交通大學(xué)研究生創(chuàng)新教育系列教材)》內(nèi)容提要:本書(shū)詳細(xì)闡述了超聲、射線、渦流、磁粉、滲透、聲發(fā)射、工業(yè)CT、紅外、激光全息、電子錯(cuò)位散斑、微波、振動(dòng)與噪聲、泄漏、目視檢測(cè)技術(shù)的檢測(cè)原理,檢測(cè)方法,特點(diǎn)和應(yīng)用范圍,同時(shí)介紹了中子照相檢測(cè)、電子舌和電子鼻檢測(cè)、光纖檢測(cè)等無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)。
本書(shū)可作為大專院校研究生、本科生的參考教材,也可作為相關(guān)專業(yè)的技術(shù)人員的參考用書(shū)。
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