痕量土壤及水質(zhì)金屬污染物定性和定量分析。

符合人機工效學(xué)設(shè)計的四極桿ICP-MS，其所用空間甚至小于一些AAS系統(tǒng)。 創(chuàng)新的保護性離子提取技術(shù)和Infinity II型離子透鏡技術(shù)，以chicane離子偏轉(zhuǎn)裝置的六極桿設(shè)計為基礎(chǔ)，提供最低的背景噪聲。 用戶可互換Xt接口和Xs接口 離子透鏡設(shè)計使簡單的場升級到碰撞反應(yīng)池技術(shù)性能，不會影響到正常（非CCT模式）靈敏度或背景。 高性能四級桿分析器所需的高真空系統(tǒng)由一個全新的分流式渦流分子泵后接一個機械泵提供。 Peltier冷卻和第三代碰撞反應(yīng)池技術(shù)選項提供增強的性能，使具有碰撞反應(yīng)池功能的四極桿ICP-MS儀器獲得出色的信號/背景。 高效泵系統(tǒng)可以使用稀釋的反應(yīng)氣體，如7% 氫氣/氦氣混合氣H2或1%氨氣/氦氣混合氣用于CCT模塊中，而非使用未稀釋的氫氣H2或氨氣以減少腐蝕問題，提高可靠性和安全性。 同時型模擬／脈沖檢測器以及其實時的多通道電子學(xué)系統(tǒng)提供了大于8個量級的動態(tài)線性范圍，使得儀器能夠同時適應(yīng)穩(wěn)定信號和瞬時信號分析。 利用經(jīng)現(xiàn)場證實的PlasmaLab軟件通過計算機全面控制儀器和附件。

測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發(fā)生器，霧化室，炬管，四極質(zhì)譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。其工作原理是：霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1～2毫米直徑的截取板進入四極質(zhì)譜分析器，經(jīng)濾質(zhì)器質(zhì)量分離后，到達離子探測器，根據(jù)探測器的計數(shù)與濃度的比例關(guān)系,可測出元素的含量或同位素比值。其優(yōu)點是:具有很低的檢出限（達ng/ml或更低），基體效應(yīng)小,譜線簡單，能同時測定許多元素，動態(tài)線性范圍寬及能快速測定同位素比值。地質(zhì)學(xué)中用于測定巖石、礦石、礦物、包裹體，地下水中微量、痕量和超痕量的金屬元素，某些鹵素元素、非金屬元素及元素的同位素比值。

以電感耦合等離子體作為離子源，將無機元素電離成帶電離子后通過接口部分將離子束從等離子體中提取進入質(zhì)量分析器，再根據(jù)質(zhì)荷比不同，通過質(zhì)譜儀進行檢測的無機多元素分析儀器。ICP-MS可進行多元素濃度快速分析和同位素分析，且具有高靈敏度、低檢出限、線性范圍寬、譜線簡單、干擾少、分析精密度高、可分析元素范圍廣等特點。 2100433B

主要用途： 1.痕量及超痕量多元素分析 2.同位素比值分析

儀器類別： 0303071402 /儀器儀表 /成份分析儀器 /質(zhì)譜儀

指標(biāo)信息： 靈敏度：115mbarIn>2×107Cps ppm-1 檢出限：Cu<0.01μg/L Cd<0.01μg/L Pb<0.01μg/L 分辨率：≈0.8AMU 同位素比精度：<0.2%(107Ag/109Ag) 短期精度：<2.0%RSD(10μg/L,n=10) 長期精度：<4.0%RSD(4h) 質(zhì)量范圍：0～260AMU 等離子體發(fā)生器： 頻率：27.12MHz 輸出功率：2kW