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更新時(shí)間:2025.05.31
用顯微鏡的一維位移測(cè)量二維坐標(biāo)的垂線儀

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簡(jiǎn)要地闡述了垂線儀的用途。揭示了原來垂線儀存在的問題。從而提出了用顯微鏡的一維移動(dòng)完成二維坐標(biāo)測(cè)量的裝置。說明了測(cè)量原理,并給出了幾種可行的光路結(jié)構(gòu)。

裂隙燈顯微鏡測(cè)試分析

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