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為了減少投射電容式觸摸屏互電容的檢測(cè)數(shù)量,提出了一種自適應(yīng)檢測(cè)算法,并對(duì)該算法進(jìn)行分析和驗(yàn)證。將整個(gè)投射電容式觸摸屏抽象成一個(gè)網(wǎng)格,互電容為網(wǎng)格橫縱的交錯(cuò)點(diǎn)。分析網(wǎng)格橫縱2個(gè)方向變閾值的自適應(yīng)掃描,并將其與逐行掃描法進(jìn)行對(duì)比。設(shè)計(jì)出以FPGA為控制核心、外加檢測(cè)電路的自適應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)該算法進(jìn)行驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,對(duì)電極間距為1mm,驅(qū)動(dòng)區(qū)為71×54的投射電容式觸摸屏,在識(shí)別點(diǎn)數(shù)分別為3、2、1時(shí),與采用傳統(tǒng)的逐行掃描法相比,采用自適應(yīng)檢測(cè)法需要的檢測(cè)次數(shù)分別相應(yīng)地減少為1/5.0、1/6.5、1/10.4,有效地縮短了觸摸信息的檢測(cè)時(shí)間,對(duì)投射電容式觸摸屏在大尺寸方向的發(fā)展與應(yīng)用有積極意義。
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