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LED 加速老化測(cè)試技術(shù) 【摘要】 LED 作為一種全新的光源技術(shù),其應(yīng)用越來越廣泛。怎樣去測(cè)試 LED 的性能及使用壽命,一直受到行業(yè)和各使用部門的關(guān)注。本文就基于 LED 本身的發(fā)光原理,關(guān)鍵特性參數(shù)以及常見的使用環(huán)境去模擬測(cè)試出 LED 的壽命, 從而給相關(guān)行業(yè)和部門以技術(shù)參考。 【關(guān)鍵詞】 LED; 輸入功率 ; 壽命 ; 性能測(cè)試 ; 光輸出功率 ; 加速老化 ; 積分 球 ; 光譜曲線 一、概述 LED(Light Emitting Diode),又稱發(fā)光二極管, 它是利用固體半導(dǎo)體芯片作 為發(fā)光材料,當(dāng)兩端加上正向電壓, 半導(dǎo)體中的載流子發(fā)生復(fù)合, 放出過剩的光 強(qiáng)而引起光子發(fā)射產(chǎn)生可見光,具有高亮度、長(zhǎng)壽命、高效節(jié)能等顯著優(yōu)點(diǎn)?;?于目前的半導(dǎo)體制造技術(shù), LED 輸入功率中只有大約 5%~10%的能量轉(zhuǎn)化為光 能,其他的則轉(zhuǎn)化為熱能。 很多功率型 LED 的驅(qū)動(dòng)電流可以達(dá)
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