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更新時間：2024.12.21
地基望遠鏡主鏡支撐性能分析

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主鏡面型精度是地基大口徑望遠鏡最關(guān)鍵的技術(shù)指標之一。為了研究主鏡室以及主鏡底支撐和側(cè)支撐系統(tǒng)的重力變形造成的主鏡面型誤差,介紹了一地基光電望遠鏡的主鏡室及詳細的主鏡支撐結(jié)構(gòu),借助于有限元法,建立了主鏡,主鏡室和支撐結(jié)構(gòu)的詳細有限元模型,分析計算了主鏡在支撐狀態(tài)下的鏡面變形情況,并通過ZYGO干涉儀進行了面型檢測。計算結(jié)果和實測結(jié)果對比,說明了主鏡室及其支撐結(jié)構(gòu)引入的主鏡面型誤差大小,同時也驗證了有限元模型的正確性。

電鏡和光鏡的區(qū)別

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方法 優(yōu)點 缺點 適用范圍 SYBR Green I 方 法 適用性廣、靈敏、方便、 便宜 引物要求高，易出現(xiàn)非特異性帶不能 進行多重定量 適合科研中對各種目的基因定量分析， 基因表達量的研究， 轉(zhuǎn)基因重組動植物研究 TaqMan 方法 特異性高、重復性好、多 重定量 價格高，只適合特定目標 病原體檢測，疾病耐藥基因研究 ,藥物療效考核，遺傳疾病 的診斷 電鏡和光鏡的區(qū)別 電鏡 光鏡 光源 電子束 可見光為光源 透鏡 電磁透鏡 玻璃凸透鏡 成像原理 在電鏡中，作用于被檢樣品的電子束經(jīng)電磁透鏡放大后達到熒光屏上成像或作用于 感光膠片成像。其電子濃淡的差別產(chǎn)生的機理是， 電子束作用于被檢樣品時，入射 電子與物質(zhì)的原子發(fā)生碰撞產(chǎn)生散射，由于樣品的不同部位對電子有不同的散射 度，故樣品電子像以濃淡呈現(xiàn) 而光鏡中樣品的物像以亮度差呈現(xiàn)，它是由被檢樣品的不同 結(jié)構(gòu)吸引光線多少的不同所造成的。 功能用途

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