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為研究由中子-可見光圖像轉(zhuǎn)換屏、光學系統(tǒng)以及CCD相機組成的中子圖像探測器的成像性能,根據(jù)探測效率、量子增益和調(diào)制傳遞函數(shù)等性能評價參數(shù),分析了中子探測效率與閃爍體厚度的關(guān)系以及薄板型和陣列型閃爍體與CCD相機之間采用不同耦合方式下的量子增益,并給出了透鏡耦合條件下的調(diào)制傳遞函數(shù)及相應(yīng)的量子探測效率,最后全面分析了中子圖像探測器的等效噪聲量子數(shù)。
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利用光學軟件仿真的方法分析了積分球涂層特性、不同測量方法對熒光粉熒光外量子效率測量準確性的影響。為提高傳統(tǒng)方法的測量精度,提出了基于內(nèi)置標準散射片于積分球中的準確測定LED熒光粉熒光外量子效率的新方法,制作了專用實驗系統(tǒng),測試結(jié)果顯示商用的不同LED熒光粉熒光外量子效率存在差距較大,數(shù)值在0.744到0.92之間,且實驗測試結(jié)果和理論仿真規(guī)律一致。當積分球吸收系數(shù)在1%~5%間變化時,測試系統(tǒng)誤差可控制在2%的范圍之內(nèi)。