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更新時(shí)間:2025.04.12
雙光柵衍射位移測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀的研制

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介紹了一種雙光柵衍射位移測(cè)量教學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器的工作原理、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、研制內(nèi)容、實(shí)測(cè)結(jié)果以及在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的應(yīng)用。

一種顯微狀態(tài)下的數(shù)顯位移測(cè)量裝置

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1引言在進(jìn)行微米級(jí)微距測(cè)量時(shí),普通位移測(cè)量工具很難找到測(cè)量參考點(diǎn),致使測(cè)量的準(zhǔn)度和精度存在較大的偏差,而使用普通顯微鏡觀察,則又不能進(jìn)行位移測(cè)量。如果采用市場(chǎng)上基于成像技術(shù)的裝置來進(jìn)行測(cè)量,成本太高?;谶@種情況,如果在顯微鏡

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