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近年來(lái),由于市場(chǎng)的需求與技術(shù)的革命,電氣工業(yè)得到了長(zhǎng)足的發(fā)展。然而由于電子元件板越來(lái)越小,也越來(lái)越復(fù)雜,設(shè)計(jì)工程師需要更多地考慮如何保證它們是可測(cè)試的,傳統(tǒng)的測(cè)試方法和設(shè)備都面臨著重大挑戰(zhàn),可測(cè)試的要求將會(huì)極大影響電子元件板的設(shè)計(jì),如果測(cè)試儀表技術(shù)沒(méi)有突破,將會(huì)制約電子元件的發(fā)展,需要及早研究開(kāi)發(fā)新的測(cè)試方法。本文結(jié)合直讀式電測(cè)儀表在電氣測(cè)試運(yùn)用的實(shí)際情況展開(kāi)分析,為今后在電氣測(cè)試研究中提供依據(jù)。
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