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采用低溫輻射計(jì)在1064 nm波長(zhǎng)對(duì)兩個(gè)硅陷阱探測(cè)器(trap 0#和trap B)進(jìn)行絕對(duì)光功率響應(yīng)度定標(biāo)。描述了定標(biāo)方法、實(shí)驗(yàn)裝置和數(shù)據(jù)的分析方法,提出了低溫輻射計(jì)窗口的精確復(fù)位和窗口透過率的測(cè)量方案,測(cè)量得到的透過率達(dá)到0.999以上。結(jié)果表明,兩個(gè)探測(cè)器絕對(duì)響應(yīng)度定標(biāo)的合成不確定度分別為1.457×10~(-4)和1.458×10~(-4),定標(biāo)結(jié)果的重復(fù)性分別達(dá)到了0.014%和0.008%。分析了測(cè)量時(shí)各項(xiàng)不確定度來源,對(duì)光功率響應(yīng)度定標(biāo)不確定度進(jìn)行了評(píng)估。對(duì)0~#硅陷阱探測(cè)器在1064 nm波長(zhǎng)處光功率響應(yīng)度的溫度穩(wěn)定性進(jìn)行了測(cè)試研究。
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發(fā)射率是測(cè)量紅外輻射特性中的重要參數(shù),直接影響測(cè)量的精度.在傳統(tǒng)的能量法測(cè)發(fā)射率的基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn),利用紅外輻射計(jì)MR170測(cè)量目標(biāo)的光譜輻射亮度并在同一溫度相同波段下建立一標(biāo)準(zhǔn)黑體模型,對(duì)目標(biāo)光譜發(fā)射率進(jìn)行求解.實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證該方法可以獲得滿意的測(cè)量結(jié)果.對(duì)實(shí)驗(yàn)求取的光譜發(fā)射率進(jìn)行誤差分析,結(jié)果顯示誤差小于3%.
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