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更新時間:2025.06.08
電離輻射防護涂料的研究

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電離輻射防護涂料的研究

反熔絲FPGA電路瞬時電離輻射效應及加固設計

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針對反熔絲FPGA電路,在"強光一號"加速器上進行了瞬時電離輻射試驗,發(fā)現(xiàn)γ射線瞬時電離輻射會導致FPGA內(nèi)部寄存器清零,使FPGA運行狀態(tài)被初始化。為了解決該問題,設計了一種"FPGA+FRAM(鐵電存儲器)+特殊時序讀寫軟件"的加固電路,通過γ射線瞬時電離輻射試驗證明:該加固電路實現(xiàn)了瞬時電離輻射狀態(tài)下FPGA內(nèi)部重要數(shù)據(jù)的實時保存與恢復,成功規(guī)避了FPGA電路的瞬時電離輻射效應。

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