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更新時(shí)間：2025.04.12
BurnIn(老化)插座接觸電阻的在板測(cè)試

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技術(shù)背景Burn In板子又叫老化板子。由于芯片需要在高溫(125℃以上)下,進(jìn)行加電的老化測(cè)試,當(dāng)Burn In板子在生產(chǎn)線上使用一段時(shí)間后,就會(huì)出現(xiàn)一些問題。1 Burn In Qcheck不穩(wěn)定Qcheck是做Burn In的第一個(gè)流程,用來判斷哪些插座里有芯片,

玩具老化測(cè)試指導(dǎo)書

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德信誠(chéng)培訓(xùn)網(wǎng) 更多免費(fèi)資料下載請(qǐng)進(jìn)： http://www.55top.com 好好學(xué)習(xí)社區(qū) 玩具老化測(cè)試指導(dǎo)書 1﹑目的 制定此一測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)﹐以評(píng)估玩具在正常使用﹑運(yùn)輸或貯存過程中抵抗高溫 的能力。 2﹑適用范圍 卡通箱成品﹑彩盒成品和未包裝的光身成品玩具或配件。 3﹑測(cè)試儀器 高溫爐﹕內(nèi)腔可保持 57±3℃(135±5℉)的高溫爐 4﹑測(cè)試程序 4.1 先對(duì)樣辦進(jìn)行編號(hào)﹐以供識(shí)別﹔ 4.2 對(duì)樣辦進(jìn)行外觀﹑功能檢查﹐并記錄相關(guān)問題﹔ 4.3 對(duì)高溫爐進(jìn)行檢查﹐溫度是否保持于要求的范圍﹔ 4.4 將測(cè)試樣辦放置在溫度為 57±3℃的高溫爐內(nèi)至少 48小時(shí)﹔ 4.5 將樣辦取出﹐放置于溫度為 20-25℃﹐相對(duì)濕度在 20-70%環(huán)境內(nèi)至少 4 小時(shí)﹔ 4.6 檢查樣辦的外觀和功能。 注﹕光身成品樣辦在高溫爐內(nèi)的擺放姿態(tài)﹐應(yīng)模擬彩盒中樣辦的擺放姿態(tài)進(jìn) 行擺放。 德信誠(chéng)培訓(xùn)網(wǎng) 更多免費(fèi)資料下載

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