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為了提高存儲(chǔ)器的邊界掃描測試軟件的通用性,提出一種基于TCL語言及邊界掃描技術(shù)的存儲(chǔ)器測試腳本設(shè)計(jì)方案。結(jié)合存儲(chǔ)器測試?yán)碚摷斑吔鐠呙柽壿嫶販y試技術(shù),研究基于TCL腳本語言的存儲(chǔ)器測試腳本設(shè)計(jì)方法,用以在進(jìn)行存儲(chǔ)器簇測試時(shí)描述存儲(chǔ)器自身的讀寫特性及與其外部邊界掃描測試單元的連接關(guān)系等,并給出HY6264SRAM靜態(tài)存儲(chǔ)器功能測試的例子。通過測試驗(yàn)證,使用TCL腳本語言與高級語言聯(lián)合編程能夠提高邊界掃描測試軟件的工作效率。
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