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從AT切的石英晶體等效電路出發(fā),利用電路理論推導(dǎo)單片石英晶體上耦合電極的相互影響.相互耦合作用用復(fù)電阻描述,然后通過(guò)實(shí)驗(yàn)觀察復(fù)電阻的頻率特性,分析其具體的形式.同時(shí)通過(guò)實(shí)驗(yàn)初步觀察了MQCM(multi-channelquartzcrystalmicrobalance)對(duì)石英片諧振頻率的影響,以及不同電極尺寸對(duì)耦合的影響.
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為了測(cè)量石英晶體最大雙折射率的色散特性,在橢偏光譜儀的水平透射測(cè)量模式下,通過(guò)對(duì)確定厚度的石英波片相位延遲量的精確測(cè)量,計(jì)算出了石英晶體的最大雙折射率值,并進(jìn)行了誤差分析。結(jié)果表明:這種方法光路簡(jiǎn)單、操作方便,屏蔽了光源的不穩(wěn)定性;雙折射率測(cè)量精度達(dá)到了10-6,比連續(xù)偏光干涉法的測(cè)量精度提高了1個(gè)數(shù)量級(jí);實(shí)現(xiàn)了對(duì)石英晶體的最大雙折射率色散特性的連續(xù)光譜測(cè)量;此方法對(duì)其它雙折射晶體材料的雙折射率色散特性的研究也同樣適用。
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