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分析鋼珠運(yùn)動(dòng)軌跡跟曲線的關(guān)系
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為了提高整體葉盤通道余量分布的均勻性,提出了電極運(yùn)動(dòng)軌跡優(yōu)化方法。分析了電解加工間隙對(duì)電極運(yùn)動(dòng)軌跡的影響,優(yōu)化了工具電極在葉頂及葉根圓柱面上的運(yùn)動(dòng)軌跡,并基于軌跡線上采樣點(diǎn)作擬合垂線段中點(diǎn)的樣條曲線獲得新的軌跡線。為了驗(yàn)證優(yōu)化后軌跡的合理性,進(jìn)行了葉盤通道電解加工對(duì)比試驗(yàn)。試驗(yàn)表明,與優(yōu)化前的軌跡相比,采用優(yōu)化后的軌跡,通道型面余量差從4.5mm減小到2.0mm,葉片上采樣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的葉盆與葉背的余量差從3.5mm減小到1.2mm,說明該軌跡優(yōu)化方法能夠均勻通道型面的余量分布,優(yōu)化了后續(xù)精加工工序的加工環(huán)境。
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