造價通
更新時間：2025.04.05
基于頻率響應(yīng)法的雙CPU架構(gòu)變壓器繞組變形測試儀設(shè)計

格式：pdf

大?。?span class="single-tag-height">416KB

頁數(shù)：

針對日益增多的變壓器繞組變形故障,設(shè)計了一種以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103為核心的基于頻率響應(yīng)法的變壓器繞組變形測試儀。詳細介紹了系統(tǒng)硬件設(shè)計方案及軟件編程思想。DSP模塊負責(zé)高速數(shù)據(jù)采集與運算。ARM模塊通過SPI總線與DSP通信,實現(xiàn)測試儀的數(shù)據(jù)管理、用戶界面以及聯(lián)機通訊。采用數(shù)字頻率合成技術(shù)DDS對待測變壓器繞組進行掃頻測量。系統(tǒng)采用軟件濾波和硬件同步交流采樣技術(shù)減小測量誤差。能夠在不對變壓器進行吊罩、拆裝的情況下進行繞組變形測試,顯示高、低壓三相繞組頻率響應(yīng)曲線及相關(guān)系數(shù)R。仿真測試結(jié)果表明該裝置能夠滿足變壓器繞組變形的測試要求。

電容測試儀論文

格式：pdf

大小：247KB

頁數(shù)： 6頁

word 文檔 可復(fù)制編輯 電容測試儀 摘 要 本系統(tǒng)以 51單片機為控制核心，通過 555構(gòu)成的脈沖發(fā)生器，產(chǎn)生 150ms， 占空比約為 100%的觸發(fā)脈沖作為單穩(wěn)態(tài)電路的輸入。根據(jù)單片機控制選擇不同 量程的電容值進行切換，測量脈沖寬度，從而求出 1000PF—1UF電容。 Abstract The single-chip microcomputer system for the control of the core 51 through 555 constitute the pulse generator, resulting in 150ms, duty cycle of approximately 100% of the trigger pulse monostable circuit as input. Single-chip control in accordan

熱門知識

HWBR繞組變形測試儀

精華知識

HWBR繞組變形測試儀

最新知識

HWBR繞組變形測試儀
點擊加載更多>>

相關(guān)問答

HWBR繞組變形測試儀
點擊加載更多>>
專題概述
HWBR繞組變形測試儀相關(guān)專題

分類檢索：