比表面測(cè)試儀性能參數(shù)

測(cè)試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,bet法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法外比表面積測(cè)定; 測(cè)定范圍:0.01(㎡/g)--至無(wú)上限(比表面積); 測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5]; 真空系統(tǒng):v-sorb獨(dú)創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高比表面積測(cè)定的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命; 液位控制:v-sorb獨(dú)創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差; 控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命; 樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理; 壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口雙壓力傳感器,顯著提高低 p/po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000torr(0-133kpa),0-10torr(0-1.33kpa)(可選) 壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10]-15%); 分壓范圍:p/po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10-6-0.995; 極限真空:4x10-2pa(3x10-4torr); 樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等; 測(cè)試氣體:高純n2氣(99.999])或其它(按需選擇如ar,kr); 數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng); 數(shù)據(jù)處理:windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表。

) 采用直接對(duì)比法，測(cè)試速度快，有利于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè); 1. 測(cè)試系統(tǒng)中加入濾波穩(wěn)流系統(tǒng)，抗干擾能力強(qiáng)，穩(wěn)定性高，不會(huì)出現(xiàn)市場(chǎng)上同類產(chǎn)品頻繁死機(jī)現(xiàn)象; 2. 通過采用并聯(lián)氣路，可同時(shí)進(jìn)行3個(gè)樣品的比表面積測(cè)定，大大提高測(cè)試效率; 3. 獨(dú)立的樣品脫氣及預(yù)處理系統(tǒng)，可減少樣品處理對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的干擾和損害;可根據(jù)樣品不同選擇合適的處理方式，預(yù)處理和測(cè)試可同時(shí)進(jìn)行，提高工作效率。配以我公司研制的樣品預(yù)處理裝置-jw吹掃機(jī)，可實(shí)現(xiàn)市場(chǎng)同類動(dòng)態(tài)法產(chǎn)品無(wú)法實(shí)現(xiàn)的真空處理; 4. 動(dòng)態(tài)測(cè)試方法過程十分直觀，可以觀察到不同氮分壓條件下，氮吸附和脫附的全過程，測(cè)試程序手動(dòng)和自動(dòng)控制有機(jī)結(jié)合，有利于對(duì)測(cè)試過程的靈活掌控; 5. 配套軟件由我公司自主開發(fā)，功能完善，操作簡(jiǎn)單，軟件無(wú)需安裝，拷貝后即可直接運(yùn)行，減少了對(duì)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的依賴性;同時(shí)數(shù)據(jù)歸檔系統(tǒng)能將客戶的每次測(cè)試結(jié)果及時(shí)保存到統(tǒng)一的數(shù)據(jù)庫(kù)，有利于客戶測(cè)試數(shù)據(jù)的積累、統(tǒng)一管理和后期查詢分析。

比表面測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于石墨、電池、稀土、陶瓷、氧化鋁、化工等行業(yè)及高校粉體材料的研發(fā)、生產(chǎn)、分析、監(jiān)測(cè)環(huán)節(jié)。