第1章概論1
11硅材料工業(yè)的發(fā)展1
12半導(dǎo)體市場(chǎng)及發(fā)展2
13中國(guó)擴(kuò)建新建多晶硅廠應(yīng)注意的問(wèn)題3
本章小結(jié)5
習(xí)題5
第2章半導(dǎo)體材料基本性質(zhì)6
21半導(dǎo)體材料的分類(lèi)及性質(zhì)6
22硅的物理化學(xué)性質(zhì)8
23硅材料的純度及多晶硅標(biāo)準(zhǔn)10
本章小結(jié)11
習(xí)題12
第3章晶體幾何學(xué)基礎(chǔ)13
31晶體結(jié)構(gòu)13
32晶向指數(shù)16
33晶面指數(shù)16
34立方晶體17
35金剛石和硅晶體結(jié)構(gòu)19
36倒格子22
本章小結(jié)22
習(xí)題23
第4章晶體缺陷24
41點(diǎn)缺陷24
42線缺陷26
43面缺陷30
44體缺陷31
本章小結(jié)32
習(xí)題32
第5章能帶理論基礎(chǔ)33
51能帶理論的引入33
52半導(dǎo)體中的載流子35
53雜質(zhì)能級(jí)36
54缺陷能級(jí)38
55直接能隙與間接能隙38
56熱平衡下的載流子39
本章小結(jié)45
習(xí)題45
第6章pn結(jié)46
61pn結(jié)的形成46
62pn結(jié)的制備47
63pn結(jié)的能帶結(jié)構(gòu)48
64pn結(jié)的特性49
本章小結(jié)50
習(xí)題50
第7章金屬半導(dǎo)體接觸和MIS結(jié)構(gòu)51
71金屬半導(dǎo)體接觸51
72歐姆接觸55
73金屬絕緣層半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)(MIS)56
本章小結(jié)57
習(xí)題57
第8章多晶硅材料的制取58
81冶金級(jí)硅材料的制取58
82高純多晶硅的制取59
83太陽(yáng)能級(jí)多晶硅的制取61
本章小結(jié)62
習(xí)題62
第9章單晶硅的制備63
91結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)63
92晶核的形成65
93區(qū)熔法69
94直拉法72
95雜質(zhì)分凝和氧污染80
96直拉硅中的碳85
97直拉硅中的金屬雜質(zhì)86
98磁拉法(MCz)89
99CCz法(連續(xù)加料法)93
本章小結(jié)96
習(xí)題97
第10章其他形態(tài)的硅材料98
101鑄造多晶硅98
102帶狀硅材料110
103非晶硅薄膜112
104多晶硅薄膜116
本章小結(jié)118
習(xí)題119
第11章化合物半導(dǎo)體材料120
111化合物半導(dǎo)體材料特性120
112砷化鎵(GaAs)122
本章小結(jié)131
習(xí)題131
第12章硅材料的加工132
121切去頭尾132
122外徑滾磨133
123磨定位面(槽)134
124切片136
125倒角(或稱圓邊)139
126研磨140
127腐蝕142
128拋光144
129清洗148
本章小結(jié)150
習(xí)題151
附錄152
附錄1常用物理量152
附錄2一些雜質(zhì)元素在硅中的平衡分凝系數(shù)、溶解度152
參考文獻(xiàn)153
《半導(dǎo)體硅材料基礎(chǔ)》系統(tǒng)地介紹了半導(dǎo)體硅材料的基本性質(zhì)、與半導(dǎo)體晶體材料相關(guān)的晶體幾何學(xué)、能帶理論、微電子學(xué)方面的基礎(chǔ)理論知識(shí),系統(tǒng)地介紹了作為光伏技術(shù)應(yīng)用的硅材料的制備基礎(chǔ)理論知識(shí),為系統(tǒng)學(xué)習(xí)多晶硅生產(chǎn)技術(shù)和單晶硅及硅片加工技術(shù)奠定理論基礎(chǔ),是硅材料技術(shù)專(zhuān)業(yè)的核心教材。
《半導(dǎo)體硅材料基礎(chǔ)》可作為高職高專(zhuān)硅材料技術(shù)及光伏專(zhuān)業(yè)的教材,同時(shí)也可作為中專(zhuān)、技校和從事單晶硅生產(chǎn)的企業(yè)員工的培訓(xùn)教材,還可供相關(guān)專(zhuān)業(yè)工程技術(shù)人員學(xué)習(xí)參考。
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半導(dǎo)體材料(semiconductor &n...
常用的半導(dǎo)體材料分為元素半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體。元素半導(dǎo)體是由單一元素制成的半導(dǎo)體材料。主要有硅、鍺、硒等,以硅、鍺應(yīng)用最廣?;衔锇雽?dǎo)體分為二元系、三元系、多元系和有機(jī)化合物半導(dǎo)體。二元系化合物半導(dǎo)體...
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綜述了近年來(lái)我國(guó)硅材料工業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r,提出了加強(qiáng)投資、提高效益、開(kāi)拓市場(chǎng)等進(jìn)一步加快發(fā)展的設(shè)想。
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綜述了近年來(lái)我國(guó)硅材料工業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r,提出了加強(qiáng)投資、提高效益、開(kāi)拓市場(chǎng)等進(jìn)一步加快發(fā)展的設(shè)想。
結(jié)晶態(tài)硅材料的制備方法通常是先將硅石(SiO2)在電爐中高溫還原為冶金級(jí)硅(純度95%~99%),然后將其變?yōu)楣璧柠u化物或氫化物,經(jīng)提純,以制備純度很高的硅多晶。包括硅多晶的西門(mén)子法制備、硅多晶的硅烷法制備。在制造大多數(shù)半導(dǎo)體器件時(shí),用的硅材料不是硅多晶,而是高完整性的硅單晶。通常用直拉法或區(qū)熔法由硅多晶制得硅單晶。
世界上直拉硅單晶和區(qū)熔硅單晶的用量約為9:1,直拉硅主要用于集成電路和晶體管,其中用于集成電路的直拉硅單晶由于其有明確的規(guī)格,且其技術(shù)要求嚴(yán)格,成為單獨(dú)一類(lèi)稱集成電路用硅單晶。區(qū)熔硅主要用于制作電力電子元件,純度極高的區(qū)熔硅還用于射線探測(cè)器。硅單晶多年來(lái)一直圍繞著純度、物理性質(zhì)的均勻性、結(jié)構(gòu)完整性及降低成本這些問(wèn)題而進(jìn)行研究與開(kāi)發(fā)。
材料的純度主要取決于硅多晶的制備工藝,同時(shí)與后續(xù)工序的玷污也有密切關(guān)系。材料的均勻性主要涉及摻雜劑,特別是氧、碳含量的分布及其行為,在直拉生長(zhǎng)工藝中采用磁場(chǎng)(見(jiàn)磁控直拉法單晶生長(zhǎng))計(jì)算機(jī)控制或連續(xù)送料,使均勻性得到很大改善;對(duì)區(qū)熔單晶采用中子嬗變摻雜技術(shù),大大改善了均勻性。在結(jié)構(gòu)完整性方面,直拉硅單晶早已采用無(wú)位錯(cuò)拉晶工藝,目前工作主要放在氧施主、氧沉淀及其誘生缺陷與雜質(zhì)的相互作用上。
氧在熱處理中的行為非常復(fù)雜。直拉單晶經(jīng)300~500℃熱處理會(huì)產(chǎn)生熱施主,而經(jīng)650℃以上熱處理可消除熱施主,同時(shí)產(chǎn)生氧沉淀成核中心,在更高溫度下處理會(huì)產(chǎn)生氧沉淀,形成層錯(cuò)和位錯(cuò)等誘生缺陷,利用這些誘生缺陷能吸收硅中有害金屬雜質(zhì)和過(guò)飽和熱點(diǎn)缺陷的特性,發(fā)展成使器件由源區(qū)變成"潔凈區(qū)"的吸除工藝,能有效地提高器件的成品率。
對(duì)硅單晶錠需經(jīng)切片、研磨或拋光(見(jiàn)半導(dǎo)體晶片加工)后,提供給器件生產(chǎn)者使用。
某些器件還要求在拋光片上生長(zhǎng)一層硅外延層,此種材料稱硅外延片。
非晶硅材料具有連續(xù)無(wú)規(guī)的網(wǎng)格結(jié)構(gòu),最近鄰原子配位數(shù)和結(jié)晶硅一樣,仍為4,為共價(jià)鍵合,具有短程有序,但是,鍵角和鍵長(zhǎng)在一定范圍內(nèi)變化。由于非晶硅也具有分開(kāi)的價(jià)帶和導(dǎo)帶,因而有典型的半導(dǎo)體特性,非晶硅從一晶胞到另一晶胞不具有平移對(duì)稱性,即具有長(zhǎng)程無(wú)序性,造成帶邊的定域態(tài)和帶隙中央的擴(kuò)展態(tài),非晶硅屬亞穩(wěn)態(tài),具有某些不穩(wěn)定性。其制備方法有輝光放電分解法等(見(jiàn)太陽(yáng)電池材料)。
硅為周期表中Ⅳ族元素。在地殼中主要以二氧化硅和硅酸鹽形式存在。豐度為27.7%,僅次于氧。硅的原子量為28.05,25℃下密度為2.329g/cm3,具有灰色金屬光澤,較脆,硬度6.5Mohs,稍低于石英。熔點(diǎn)1410℃,在熔點(diǎn)時(shí)體積收縮率9.5%。常溫下硅表面覆蓋一層極薄氧化層,化學(xué)性質(zhì)不活潑。
高溫下與氧反應(yīng)生成無(wú)定形二氧化硅層,在器件工藝中常用半作掩蔽層和隔離層。硅不溶于酸,但溶于HNO3。和HF的混合溶液中,常用這種溶液作腐蝕液。硅稍溶于加溫的堿溶液中,還可采用等離子腐蝕技術(shù)來(lái)腐蝕硅。硅有結(jié)晶態(tài)和非晶。常溫下硅單晶介電系數(shù)11.7,對(duì)光具有高的折射率(n=3.42),反射損失較大,涂以適當(dāng)減反射膜可大大提高透過(guò)率。硅中的雜質(zhì)會(huì)引起光的吸收,氧和碳的吸收帶在室溫下分別位于1107和607cm-1處。
1) 墻下條形基礎(chǔ)和柱下獨(dú)立基礎(chǔ)(單獨(dú)基礎(chǔ))統(tǒng)稱為擴(kuò)展基礎(chǔ)。擴(kuò)展基礎(chǔ)的作用是把墻或柱的荷載側(cè)向擴(kuò)展到土中,使之滿足地基承載力和變形的要求。擴(kuò)展基礎(chǔ)包括無(wú)筋擴(kuò)展基礎(chǔ)和鋼筋混凝土擴(kuò)展基礎(chǔ)。
2) 無(wú)筋擴(kuò)展基礎(chǔ):無(wú)筋擴(kuò)展基礎(chǔ)系指由磚、毛石、混凝土或毛石混凝土、灰土和三合土等材料組成的無(wú)需配置鋼筋的墻下條形基礎(chǔ)或柱下獨(dú)立基礎(chǔ)。無(wú)筋基礎(chǔ)的材料都具有較好的抗壓性能,但抗拉、抗剪強(qiáng)度都不高,為了使基礎(chǔ)內(nèi)產(chǎn)生的拉應(yīng)力和剪應(yīng)力不超過(guò)相應(yīng)的材料強(qiáng)度設(shè)計(jì)值,設(shè)計(jì)時(shí)需要加大基礎(chǔ)的高度,其基礎(chǔ)的寬高比必須符合規(guī)范要求。因此,這種基礎(chǔ)幾乎不發(fā)生撓曲變形,故習(xí)慣上把無(wú)筋基礎(chǔ)稱為剛性基礎(chǔ)。