中文名 | X射線高分辨率多層膜設(shè)計、制作與檢測方法研究 | 項目類別 | 青年科學(xué)基金項目 |
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項目負(fù)責(zé)人 | 朱京濤 | 依托單位 | 同濟(jì)大學(xué) |
針對我國同步輻射與激光等離子診斷實驗對高分辨率X射線多層膜的需要,系統(tǒng)開展了高分辨率多層膜反射鏡的設(shè)計、制備以及檢測方法研究等。設(shè)計1~25 keV工作能量范圍的高分辨率多層膜;通過理論與實驗研究,解決了多層膜沉積速率修正、界面粗糙度、納米超薄多層膜的膜厚控制、應(yīng)力等難題,掌握了X射線高分辨率多層膜制作的關(guān)鍵技術(shù);建立了高分辨率多層膜性能的評價體系。特別是在沉積速率校正,界面平滑層研究,納米薄膜標(biāo)記層方法研究等方面取得了創(chuàng)新成果,解決了關(guān)鍵科學(xué)與技術(shù)難題,制備了W/Si,Cr/C,W/B4C, WSi2/Si等一系列高分辨率多層膜單色器,取得了一系列研究成果。 采用WSi2/Si材料組合,研制了周期厚度2.2nm,膜對數(shù)N=300對的高分辨率多層膜單色器,在8keV的反射率為38%,分辨率為0.98%,接近理論值0.77%。采用B4C作為平滑層,顯著改善了Cr-Ti界面材料之間的擴(kuò)散,成功把超薄膜層推進(jìn)到1.0nm以下,實現(xiàn)了周期厚度只有1.38nm,膜對數(shù)600對的超薄高分辨率Cr/Ti多層膜制備,而且多層膜的熱穩(wěn)定性顯著提高,同步輻射反射率測量、電子顯微鏡測試與退火實驗證明了膜層結(jié)構(gòu)的顯著改善。采用標(biāo)記層方法,成功解決了上千層,幾十微米厚的多層膜中每一層薄膜的精確定位。成功制備了周期厚度D分別為1.03nm,1.12nm,1.24nm和1.77nm的超薄W/B4C多層膜,在英國Diamond同步輻射光源與國外同類多層膜元件對比測試了1.24nm和1.77nm多層膜,結(jié)果優(yōu)于或相當(dāng)國際同行。為我國北京同步輻射實驗室4W1B光束線研制了15keV的高分辨率多層膜單色器,已經(jīng)安裝在光束線上應(yīng)用;為激光等離子體診斷實驗研究,提供了2.5keV和3.0keV的高分辨率多層膜單色器,獲得成功應(yīng)用,替代了進(jìn)口元件。 本項目的研究成果為我國同步輻射和激光稠密等離子診斷等實驗需要的高分辨率多層膜元件研制提供堅實的研究基礎(chǔ)和技術(shù)支撐,并在X射線天文觀測等領(lǐng)域有重要應(yīng)用前景。 2100433B
高分辨率和高通量X射線單色器在X射線晶體衍射、X射線熒光分析、激光稠密等離子體診斷和X射線天文學(xué)等領(lǐng)域有重要應(yīng)用。周期可調(diào)的多層膜不但能填補(bǔ)傳統(tǒng)光柵與天然晶體之間的波段空隙,而且具有光通量大、性能穩(wěn)定、成本低和測量時間短等優(yōu)點。但其最大限制是光譜分辨率低,因此,如何在保證多層膜反射率不變的情況下盡量提高多層膜光譜分辨率成為這一領(lǐng)域內(nèi)新的研究熱點。高分辨率多層膜的研制將開創(chuàng)一些新的實驗方法,如用其構(gòu)成的單色器在保證光譜分辨率的前提下,大大提高了X射線強(qiáng)度,使得測量蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)更加快速。本項目擬開展X射線高分辨率多層膜設(shè)計、制備與檢測方法研究,探索高光譜分辨多層膜的選材原則和設(shè)計準(zhǔn)則,優(yōu)化多周期數(shù)小周期多層膜制作的實驗參數(shù),探尋高光譜分辨X射線多層膜結(jié)構(gòu)和性能的檢測方法,實現(xiàn)高光譜分辨X射線多層膜的研制,為我國同步輻射和激光稠密等離子體診斷實驗等需求的單色器元件研制提供堅實的設(shè)計基礎(chǔ)和技術(shù)支撐。
光譜分辨率為探測光譜輻射能量的最小波長間隔,而確切的講,為光譜探測能力。 中文名光譜分辨率 外文名band width 定 ...
在24寸的顯示器中要比27寸的顯示器中要顯得細(xì)膩。所以在大屏幕的顯示器中,我們都盡量調(diào)高分辨率,便得畫面更細(xì)膩。但分辨率高了,機(jī)器的負(fù)荷顯然也就升高了,要保持同樣的畫面流暢,必然對顯卡、內(nèi)存等要求要更...
求景物建筑的高分辨率照片。建筑主體明確。一定要高分辨率原圖,幾兆的那種!
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與傳統(tǒng)的信息提取方法相比;將機(jī)器學(xué)習(xí)算法應(yīng)用到遙感影像信息提取中;可以提高結(jié)果的精度;文章以WorldView-2遙感影像為例;首先利用多尺度分割選取最優(yōu)分割尺度;獲得影像對象;在基于對象的基礎(chǔ)上利用特征空間優(yōu)選工具獲得最優(yōu)特征子集;最后利用J48算法、隨機(jī)森林算法對建筑物提取的效果進(jìn)行分析;實驗結(jié)果表明:J48算法在高分辨率影像建筑物提取中有更好地效果;
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評分: 4.3
基于高分辨率影像的城市綠地快速提取方法
在質(zhì)子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續(xù)本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素,各元素都發(fā)射一組特征X 射線譜,能量相同或相近的譜峰疊加在一起,直觀辨認(rèn)譜峰相當(dāng)困難,需要通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬和峰面積。譜的數(shù)學(xué)解法已研究出多種,并已編制成計算機(jī)程序。從解X 射線譜中可得到某一待測元素的特征譜峰的面積(峰計數(shù)),根據(jù)峰面積可計算出該元素的含量。這種直接計算的辦法需要對探測系統(tǒng)標(biāo)定探測效率、確定探頭對靶子所張立體角、測定射到靶子上的質(zhì)子數(shù)等。
在實際分析工作中多采用相對測定法,即將試樣和標(biāo)樣同時分析比較,
設(shè)試樣和標(biāo)樣中待測元素的特征X 射線譜峰計數(shù)為NX 和NS,含量為Wx 和WS則得:
Wx=NxWs/Ns
怎樣根據(jù)需要去購置合適的,既經(jīng)濟(jì)又實用的X射線探傷機(jī),就必須正確地選擇X射線探傷機(jī)。一般選擇X射線探傷機(jī)都要考慮穿透能力、X射線管焦點大小、被檢工件形狀等。
X射線探傷機(jī)的穿透能力取決于X射線探傷機(jī)的容量,既X射線探傷機(jī)的管電壓,管電壓愈高,X射線愈硬,能量愈大,穿透能力就愈強(qiáng),穿透能力與管電壓平方成正比。另外,在相同的管電壓下,還與被檢驗工件的材質(zhì)的密度等性質(zhì)有關(guān),也就是與被檢驗工件對X射線的衰減能力有關(guān)。對于鋼鐵等重金屬以及較厚的工件,由于其對X射線的衰減能力較強(qiáng),故應(yīng)選擇管電壓較高的X射線探傷機(jī);而對于鋁、鎂等輕金屬和較薄的工件,可以選擇管電壓較低的X射線探傷機(jī)。
對于圓形的工件,如鍋爐簡體或容器上的環(huán)焊縫,應(yīng)首先考慮選擇周向曝光的射線探傷機(jī),以提高工件效率,減輕勞動強(qiáng)度,減少放射線損傷。
對于工件較小,移動方便的,可選用移動式探傷機(jī)(固定式)X射線探傷機(jī),而對工件笨重或高大設(shè)備,移動不方便,可選用攜帶式X射線探傷機(jī)。
X射線探傷機(jī)英文名稱X-ray Flaw Detector
硬X射線調(diào)制望遠(yuǎn)鏡衛(wèi)星設(shè)計壽命4年,承載高能、中能、低能X射線望遠(yuǎn)鏡和空間環(huán)境監(jiān)測儀,通過巡天觀測、定點觀測和小天區(qū)掃描3種工作模式,能夠?qū)崿F(xiàn)寬波段、高靈敏度、高分辨率的X射線空間觀測。衛(wèi)星成功發(fā)射和正常運(yùn)行后,將使我國在X射線空間觀測方面具有國際先進(jìn)的暗弱變源巡天能力、獨(dú)特的多波段快速光觀測能力等,推動我國高能天體物理研究進(jìn)入世界先進(jìn)行列。