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更新時間:2024.12.28
低阻抗同軸電纜的制備與可調(diào)電阻測試法

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在射頻功放運用中經(jīng)常會涉及到使用一些低阻抗的同軸電纜的情況,如制作平衡-非平衡輪換的巴倫,以及特定阻抗變換電路。研究了根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)同軸電纜的結(jié)構(gòu),通過改變部分關(guān)鍵結(jié)構(gòu)參數(shù),制備任意非標(biāo)準(zhǔn)的低阻抗同軸電纜技術(shù)方法;通過同軸電纜中的電磁傳播理論分析和推導(dǎo),提出準(zhǔn)確測試低阻抗同軸電纜的可調(diào)電阻測試法。

BurnIn(老化)插座接觸電阻的在板測試

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技術(shù)背景Burn In板子又叫老化板子。由于芯片需要在高溫(125℃以上)下,進(jìn)行加電的老化測試,當(dāng)Burn In板子在生產(chǎn)線上使用一段時間后,就會出現(xiàn)一些問題。1 Burn In Qcheck不穩(wěn)定Qcheck是做Burn In的第一個流程,用來判斷哪些插座里有芯片,

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