造價(jià)通
更新時(shí)間:2025.04.19
基于光譜橢偏術(shù)的Si球表面氧化層厚度測(cè)量

格式:pdf

大?。?span class="single-tag-height">789KB

頁(yè)數(shù): 4頁(yè)

為改善X射線晶體密度法測(cè)得的阿伏伽德羅常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)不確定度,研制了一種基于光譜橢偏術(shù)和二維Si球掃描機(jī)構(gòu)的Si球表面氧化層厚度自動(dòng)掃描測(cè)量系統(tǒng),用于測(cè)量直徑約93.6 mm、質(zhì)量約1 kg的單晶Si球表面氧化層平均厚度。用本文系統(tǒng)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)Si球表面進(jìn)行400點(diǎn)掃描測(cè)量實(shí)驗(yàn),得到氧化層厚度分布,且測(cè)得其平均厚度為6.00(22)nm。測(cè)量結(jié)果可將由氧化層導(dǎo)致的阿伏伽德羅常數(shù)測(cè)量相對(duì)不確定度降低至2.5×10-8。

鋼柱柱底二次灌漿技術(shù)_pdf

格式:pdf

大?。?span class="single-tag-height">293KB

頁(yè)數(shù): 1頁(yè)

維普資訊 http://www.cqvip.com

最新知識(shí)

橢二柱
點(diǎn)擊加載更多>>

相關(guān)問(wèn)答

橢二柱
點(diǎn)擊加載更多>>
專題概述
橢二柱相關(guān)專題

分類檢索: