VCU測試簡介

術語“負載測試”在測試文獻資料中通常都被定義為給被測系統(tǒng)加上它所能操作的最大任務數(shù)的過程。負載測試有時也會被稱為“容量測試”，或者“耐久性測試/持久性測試”。 容量測試的例子：

通過編輯一個巨大的文件來測試文字處理軟件；

通過發(fā)送一個巨大的作業(yè)來測試打印機；

通過成千上萬的用戶郵箱來測試郵件服務器；

有一種比較特別的容量測試是叫作“零容量測試”，它是給系統(tǒng)加上空任務來測試的。 耐久性測試/持久性測試的的例子：在一個循環(huán)中不停的運行客戶端超過一個擴展時間段。

負載測試的目的：

找到一些在測試流程中前面的階段所進行的粗略測試中沒有被找出的bugs，例如，內存管理bugs，內存泄露，緩沖器溢出等等。保證應用程序達到性能測試中確定的性能基線。這個可以在運行回歸試驗時，通過加載特定的最大限度的負載來實現(xiàn)。盡管性能測試和負載測試似乎很像，但他們的目的還是有差異的。一

方面，性能測試使用負載測試的技術，工具，以及用不同的負載程度來測度和基準化系統(tǒng)。在另一方面來講，負載測試是在一些已經定義好的負載程度上進行測試的，通常對系統(tǒng)加上最大負載之后，系統(tǒng)應該仍然可以提供全部功能。這里需要明確一點，負載測試并不是要對系統(tǒng)加載上過度的負載而使系統(tǒng)不能工作，而是要使系統(tǒng)像一個上滿了油的機器嗡嗡叫。 在負載測試的相關內容中，我想應該非常重要的是要有十分充足的數(shù)據(jù)來進行測試。從我的經驗中得知，假若不用非常大的數(shù)據(jù)*去測的話，有很多嚴重的bug是不會的到的。比如說，LDAP/NIS/ActiveDirectory數(shù)據(jù)庫中成千上萬的用戶，郵件服務器中成千上萬的郵箱，數(shù)據(jù)庫中成G成G的表，文件系統(tǒng)中很深的文件或者目錄的層次，等等。顯然，測試人員就需要使用自動化工具來產生這些龐大的數(shù)據(jù)集，比較幸運的是任何優(yōu)秀的腳本語言都可以勝任這些工作。

飛針測試機是一個在制造環(huán)境測試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測試機上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面，飛針測試使用四到八個獨立控制的探針，移動到測試中的元件。在測單元(UUT, unit under test)通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機內。然后固定，測試機的探針接觸測試焊盤(test pad)和通路孔(via)從而測試在測單元(UUT)的單個元件。測試探針通過多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅動器(信號發(fā)生器、電源供應等)和傳感器(數(shù)字萬用表、頻率計數(shù)器等)來測試UUT上的元件。當一個元件正在測試的時候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾(圖一)。

飛針測試機可檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個相機來幫助查找丟失元件。用相機來檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復性達到5-15微米的范圍，飛針測試機可精密地探測UUT。

飛針測試解決了在PCB裝配中見到的大量現(xiàn)有問題，如在開發(fā)時缺少金樣板(golden standard board)。問題還包括可能長達4-6周的測試開發(fā)周期；大約$10,000-$50,000的夾具開發(fā)成本；不能經濟地測試少批量生產；以及不能快速地測試原型樣機(prototype)裝配。這些情況說明，傳統(tǒng)的針床測試機缺少測試低產量的低成本系統(tǒng)；缺乏對原型樣機裝配的快速測試覆蓋；以及不能測試到屏蔽了的裝配。

因為具有緊密接觸屏蔽的UUT的能力和幫助更快到達市場(time-to-market)的能力，飛針測試是一個無價的生產資源。還有，由于不需要有經驗的測試開發(fā)工程師，該系統(tǒng)可認為是節(jié)省人力的具有附加價值和時間節(jié)省等好處的設備。