X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發(fā)射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生次級的特征X射線(X光熒光)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。
1948年由H.費(fèi)里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺波長色散X射線熒光分析儀,至60年代本法在分析領(lǐng)域的地位得以確立。
中文名稱 | X射線熒光分析 | 用途 | 確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量 |
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屬性 | 分析 | 類型 | 射線熒光 |
X射線熒光分析儀器分類
根據(jù)分光方式的不同,X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也 就是通常所說的能譜儀和波譜儀,縮寫為EDXRF和WDXRF。
通過測定熒光X射線的能量實(shí)現(xiàn)對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析,相應(yīng)的儀器稱之為能譜儀,通過測定熒光X射線的波長實(shí)現(xiàn)對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X射線熒光分析,相應(yīng)的儀器稱之為X射線熒光光譜儀。
根據(jù)激發(fā)方式的不同,X射線熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種:用放射性同位素源發(fā)出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀稱為源激發(fā)儀器;用X射線發(fā)生器(又稱X光管)產(chǎn)生原級X射線的X熒光分析儀稱為管激發(fā)儀器。
就能量色散型儀器而言,根據(jù)選用探測器的不同,X射線熒光分析儀可分為半導(dǎo)體探測器和正比計(jì)數(shù)管兩種主要類型。
根據(jù)分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱 呼多用于能量色散型儀器。
在波長色散型儀器中,根據(jù)可同時分析元素的多少可分為,單道掃描X熒光光譜儀、小型多道X熒光光譜儀和大型X熒光光譜儀。
X射線熒光分析法的特點(diǎn)與適應(yīng)范圍是
(1)適應(yīng)范圍廣
除了H,He,Li,Be外,可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。
(2)操作快速方便
在短時間內(nèi)可同時完成多種元素的分析。
(3)不受試樣形狀和大小的限制,不破壞試樣,分析的試樣應(yīng)該均勻。
(4)靈敏度偏低
一般只能分析含量大于0.01%的元素。
現(xiàn)代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成:X射線發(fā)生器(X射線管、高壓電源及穩(wěn)定穩(wěn)流裝置)、分光檢測系統(tǒng)(分析晶體、準(zhǔn)直器與檢測器)、記數(shù)記錄系統(tǒng)(脈沖輻射分析器、定標(biāo)計(jì)、計(jì)時器、積分器、記錄器)。不同元素具有波長不同的特征X射線譜,而各譜線的熒光強(qiáng)度又與元素的濃度呈一定關(guān)系,測定待測元素特征X射線譜線的波長和強(qiáng)度就可以進(jìn)行定性和定量分析。本法具有譜線簡單、分析速度快、測量元素多、能進(jìn)行多元素同時分析等優(yōu)點(diǎn),是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛應(yīng)用的三大分析手段之一(其他兩方法為中子活化分析和質(zhì)子熒光分析)。
X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由...
儀器是較新型X射線熒光光譜儀,具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻...
優(yōu)點(diǎn):原裝進(jìn)口電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域特點(diǎn):1. 同時分析元素周期表中由鈉(Na...
X射線熒光分析選型誤區(qū)
隨著技術(shù)發(fā)展,X射線熒光分析儀的種類越來越多,商品名稱也比較混亂,再加上用戶對相關(guān)知識的了解有限,使得用戶合理選擇儀器的難度大大增加。
強(qiáng)調(diào)"熒光",許多用戶誤認(rèn)為只有用X光管作為激發(fā)源的管激發(fā)儀器才是X熒光儀,一味地強(qiáng)調(diào)所謂"熒光"。事實(shí)上,如前所述,無論是采用X光管還是采用放射性同位素源作為激發(fā)源,只要是由X射線激發(fā)、通過測定被測樣品發(fā)出的熒光X射線得出其化學(xué)成分及含量的儀器,都是X熒光分析儀。
源激發(fā)和管激發(fā)各有優(yōu)缺點(diǎn)。源激發(fā)類型的儀器結(jié)構(gòu)簡單、緊湊,特別是放射性同位素源發(fā)出X射線是自然現(xiàn)象,其強(qiáng)度是非常穩(wěn)定的。雖然有著自然衰減,但這種衰減是遵循可描述的物理規(guī)律的,也就是說是我們可以準(zhǔn)確計(jì)算出來的,而且作為商品化儀器選用的同位素源半衰期都比較長,在短周期內(nèi)這種衰減幾乎反映不出來。放射源的最大弱點(diǎn)在于,它發(fā)出的X射線強(qiáng)度小,能量分布不可調(diào)。因此可分析元素種類是受限制的,光路的幾何布置必須非常緊湊,分析時間相對要長一些,譜線處理和定量分析計(jì)算難度較大。
管激發(fā)型儀器的激發(fā)源是X射線管。與放射性同位素源相比,最大的優(yōu)點(diǎn)在于其可調(diào)節(jié)性。通過調(diào)節(jié)管流和高壓,可以在一定范圍內(nèi)改變輸出X射線的強(qiáng)度和分布,進(jìn)而有選擇性地提高或減小對某些特定元素的激發(fā)效率,提高分析能力。再者,X射線管的輸出強(qiáng)度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于放射性同位素源,光路的幾何布置受限制小,可使用準(zhǔn)直器、濾光片、狹縫等進(jìn)一步提高性能。采用X光管的最大問題在于穩(wěn)定性,給X光管提供高壓的高壓電源穩(wěn)定性必須在萬分之三以下,X光管本身還需要冷卻,而且環(huán)境溫度、電網(wǎng)波動等因素都會影響X光管輸出X射線的穩(wěn)定性,從而影響儀器的穩(wěn)定性。因此,一般來講,管激發(fā)儀器對使用環(huán)境及外圍條件的要求要比源激發(fā)儀器高得多。
重硬件輕軟件和技術(shù)。任何一種分析儀器在某一領(lǐng)域的成功應(yīng)用都是硬件、軟件和分析技術(shù)有機(jī)結(jié)合的結(jié)果,三者缺一不可。毫無疑問,硬件是基礎(chǔ),但硬件并不能決定一切。從應(yīng)用的角度來講,硬件只有通過軟件才能充分發(fā)揮作用,而分析技術(shù)涉及到儀器應(yīng)用的每一個環(huán)節(jié)。一臺好儀器,一定是建立在分析技術(shù)研究基礎(chǔ)之上的,否則,它就很難適應(yīng)眾多用戶的各種需求,這樣的儀器等于沒有靈魂。對于軟件的考察,絕不能停留在畫面的漂亮與否、花樣是否齊全等表面文章上 ,關(guān)鍵要看采用的算法是否先進(jìn)有效,建立在怎樣的分析技術(shù)基礎(chǔ)上,是否適應(yīng)于主要被分析樣品的特性,還要考慮是否適合操作人員的素質(zhì)和能力。
重價格輕服務(wù)。價格當(dāng)然是選購商品的重要因素,但不應(yīng)當(dāng)是決定性因素。分析儀器各部件質(zhì)量及其價格懸殊極大,并且直接決定了儀器的售價,單純追求價格便宜,很難保證質(zhì)量。對于X熒光分析儀這樣的設(shè)備來說,服務(wù)往往更為重要。這里所說的服務(wù)不僅指安裝調(diào)試、備品備件供應(yīng)、維修服務(wù)等,更重要的是應(yīng)用技術(shù)服務(wù)。對于大多數(shù)用戶來講,是不具備自行研究分析技術(shù)并用于指導(dǎo)應(yīng)用的,這種情況下,技術(shù)服務(wù)顯得尤為重要。
聽別人多,看自己少。用戶在設(shè)備選型時經(jīng)常會開展一些調(diào)研考察,一方面了解一些各種儀器及廠家的基本情況,作一些相互比較;另一方面會去一些與自己情況類似的用戶那里考察。這當(dāng)然是必要的。但最重要的還是要根據(jù)自己的實(shí)際情況和具體需求來選擇。比如:以全廠質(zhì)量控制為主要目的,樣品種類多,需要做全分析,準(zhǔn)確度要求高,應(yīng)用環(huán)境比較好,可以考慮X熒光光譜儀;以生產(chǎn)過程控制為主要目的,應(yīng)用環(huán)境較差則可考慮多元素分析儀、鈣鐵儀等源激發(fā)類儀器;原料不太好、波動大,沒有預(yù)均化措施或很簡陋,分析儀器要配置高一些,最好考慮在線分析儀器,在線鈣鐵儀加多元素分析儀或小型多道X熒光光譜儀便是很好的組合,當(dāng)然,有條件的可以上中子活化在線分析儀,而原料穩(wěn)定、預(yù)均化很有效,分析儀器的配置則可以低一些,多元素分析儀甚至離線鈣鐵儀便可以解決問題;操作人員素質(zhì)較高,儀器可以選擇小型多道X熒光光譜儀等功能多樣、靈活性較大的,反之則應(yīng)考慮選擇功能單一、操作簡單的源激發(fā)類儀器。
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X 射線熒光分析儀在水泥生產(chǎn)中的應(yīng)用 祝建清 ,吳松良 (浙江紅火集團(tuán) 江山虎球水泥有限公司 ,浙江 江山 324109) 中圖分類號:TQ172.16 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:B 文章編號:1002-9877(2009)04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引進(jìn)一臺 Venus200 X 射線熒光 分析儀,經(jīng)過 5 個多月的使用和維護(hù) ,建立 了生料、熟料、廢鋁土 、石 煤渣、石灰石和銅礦渣 6 條 工 作曲 線 ,能較 穩(wěn) 定分析各種物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量,為生料配料和 2 樣片的制備 在水泥行業(yè)的應(yīng)用中 ,熔片法雖然能消除顆粒效 應(yīng)及礦物效應(yīng) ,準(zhǔn)確性較好 ,但因操作費(fèi)時 、成本較高 而尚未被廣泛采用 ;壓片法則操作簡單 、快速 ,是目前 國內(nèi)水泥廠主要采用的 XRF 制樣方法 。我公司采用 壓片法 。 2
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我公司熒光分析制樣選擇制作成本較低的壓片法。該方法雖然分析速度快、精度高,但如果標(biāo)樣配制不好,工作曲線不理想,熒光分析儀就很難發(fā)揮它的優(yōu)勢。本文介紹熒光分析石灰石標(biāo)樣的制作過程。
確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發(fā)待分析樣品中的原子,使原子發(fā)出標(biāo)識X射線(熒光),通過測量這些標(biāo)識X射線的能量和強(qiáng)度來確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量。根據(jù)激發(fā)源的不同,可分成帶電粒子激發(fā)X熒光分析,電磁輻射激發(fā)X熒光分析和電子激發(fā)X熒光分析。
在質(zhì)子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續(xù)本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素,各元素都發(fā)射一組特征X 射線譜,能量相同或相近的譜峰疊加在一起,直觀辨認(rèn)譜峰相當(dāng)困難,需要通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬和峰面積。譜的數(shù)學(xué)解法已研究出多種,并已編制成計(jì)算機(jī)程序。從解X 射線譜中可得到某一待測元素的特征譜峰的面積(峰計(jì)數(shù)),根據(jù)峰面積可計(jì)算出該元素的含量。這種直接計(jì)算的辦法需要對探測系統(tǒng)標(biāo)定探測效率、確定探頭對靶子所張立體角、測定射到靶子上的質(zhì)子數(shù)等。
在實(shí)際分析工作中多采用相對測定法,即將試樣和標(biāo)樣同時分析比較,
設(shè)試樣和標(biāo)樣中待測元素的特征X 射線譜峰計(jì)數(shù)為NX 和NS,含量為Wx 和WS則得:
Wx=NxWs/Ns
電子激發(fā)X熒光分析的軔致輻射本底比PIXE高二個量級以上,因此分析靈敏度低得多。但是,用聚焦的電子束激發(fā)樣品表面1微米的區(qū)域,使產(chǎn)生元素的特征X 射線,可以觀察樣品表面組成的局部變化。用這種方法能測定合金、礦物、陶瓷等樣品中的夾雜物和析出物,決定合金元素的局部富集區(qū)等。