中文名 | 標準曲線法 | 外文名 | standard curve calibration curve |
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別????名 | 外標法或直接比較法 | 性????質 | 是一種簡便、快速的定量方法 |
適合范圍 | 特別適合于大量樣品的分析 |
標準曲線法的優(yōu)點是:繪制好標準工作曲線后測定工作就變得相當簡單,可直接從標準工作曲線上讀出含量,因此特別適合于大量樣品的分析。
標準曲線法的缺點是:每次樣品分析的色譜條件(檢測器的響應性能,柱溫,流動相流速及組成,進樣量,柱效等)很難完全相同,因此容易出現(xiàn)較大誤差。此外,標準工作曲線繪制時,一般使用欲測組分的標準樣品(或已知準確含量的樣品),而實際樣品的組成卻千差萬別,因此必將給測量帶來一定的誤差。2100433B
在測定樣品中的組分含量時,要用與繪制標準曲線完全相同的色譜條件作出色譜圖,測量色譜峰面積或峰高,然后根據(jù)峰面積和峰高在標準曲線上直接查出注入色譜柱中樣品組分的濃度。
標準曲線法的優(yōu)點是:繪制好標準工作曲線后測定工作就變得相當簡單,可直接從標準工作曲線上讀出含量,因此特別適合于大量樣品的分析。標準曲線法的缺點是:每次樣品分析的色譜條件(檢測器的響應性能,柱溫,流動相...
理論上來說標準加入法和標準曲線法做出來的結果應當是一樣的。標準加入法一般在樣品量少時使用,而標準曲線法適用范圍相對較廣。當很難配置與樣品溶液相似的標準溶液,或樣品基體成分很高,而且變化不定或樣品中含有...
標準曲線法:最常用的定量方法具體做法:采用相同的處理方式配制一系列已知濃度(c1<c2<…<cn)標準溶液和待測試樣(cx),并保證c1<cx<cn,在相同的條件下分別測...
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頁數(shù): 4頁
評分: 4.6
提出一種新的處理方法-XPS標準曲線法來測量硅片上超薄氧化硅層(SiO2/Si)的厚度。該方法利用一系列氧化硅厚度(d)準確已知的SiO2/Si標準樣品,分別記錄其氧化硅和元素硅的Si(2p)譜線,并得到峰高比(R),然后將厚度(d)對峰高比(R)作圖得到標準曲線。在相同的實驗條件下,測得未知樣品氧化硅和元素硅的Si(2p)譜線并計算其峰高比,通過插入法在標準曲線上得到相應的氧化硅層厚度。SiO2/Si標準樣品由設備一流和經驗豐富的權威實驗室提供,其氧化硅厚度采用多種方法進行測量比對。實驗表明:基于氧化硅厚度準確知道的標準樣品制作的XPS標準曲線,用于硅片上超薄氧化硅層厚度測量時具有快速、簡便和比較準確等優(yōu)點,有較好的實用價值。
4 1/2位LED數(shù)字顯示
具有定位調節(jié)、等電位調節(jié)、溫度補償、斜率校準等功能
適用于標準曲線法、標準添加法、多次添加法、GRAN法等多種測量方法
配適當記錄儀,可自動記錄電極電位