可以直接電視機或電腦上觀察實物圖像。
1.物鏡變倍范圍: 0.7--4.5X
2.變倍比: 6.5:1
3.移動工作距離: 200mm
4.臺面尺寸: 390×160(mm)
5.總放大倍數(shù): 7—450X (以21寸電視機,2X倍的大物鏡為例)
CCD平面度測試儀的功能
檢測針腳的個數(shù);
可測量芯片針腳的多個位置的幾何尺寸,包括pitch間隔、寬度、高度等;
檢測針腳的共線度等平面度指標(biāo);
系統(tǒng)檢測到質(zhì)量問題時,能發(fā)出報警信號,并輸出控制信號;
可對檢查出的所有廢品對應(yīng)的圖像能夠存儲和查看;
系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能,且學(xué)習(xí)過程操作簡單;
系統(tǒng)可通過RS232或以太網(wǎng)接收上位機控制信號。2100433B
檢測精度達到0.01mm以上;
可選擇局部掃描功能,提高檢測速度;
操作界面清晰明了,簡單易行,只需簡單設(shè)定即可自動執(zhí)行檢測;
檢測軟件及算法完全自主開發(fā),采用亞像素技術(shù)實現(xiàn)超高的檢測精度;
可靈活設(shè)置模板查找、平均灰度值檢測等多種檢測算法;
專業(yè)化光源設(shè)計,成像清晰均勻,確保不形成光斑;
支持多種IC產(chǎn)品的檢測、具備產(chǎn)品在線自動搜索等功能;
安裝簡單,不影響原生產(chǎn)線工作;結(jié)構(gòu)緊湊,易于操作、維護和擴充;
可靠性高,運行穩(wěn)定,適合各種現(xiàn)場運行條件。
基于PC平臺,系統(tǒng)可擴充性強,基于EF-VS機器視覺軟件平臺可擴展管腳測量等功能,也可外接SPC軟件。
兒童智力測試儀的技術(shù)參數(shù): PPVT具有聲報圖片詞匯性能。 CRT—C3及MOD測試均具有語音提示性能。CRT—C3為全國唯一獲得準(zhǔn)許應(yīng)用于計算機進行測試的產(chǎn)品。 PPVT、CRT—C3測試時...
Elcometer 106附著力測試儀操作簡單攜帶方便,測量范圍廣泛。應(yīng)用范圍包括油漆或橋面噴漿,鋼鐵、鋁、混凝土上的涂層,等等。配備手提箱——適合現(xiàn)場測試 手工操作——無需電源 包含 EN...
光學(xué)系統(tǒng):(1)成像:標(biāo)準(zhǔn)CCD攝像機和連續(xù)變倍顯微鏡鏡頭;(2)光源:可調(diào)亮度單色冷光LED背光光源,圖像中液滴邊緣分辨更清晰;(3)指標(biāo):最快拍攝25幀/秒,顯微鏡放大率0.7-4.5倍連續(xù)變倍,...
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軌道殘壓測試儀設(shè)計
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烙鐵溫度測試儀校驗規(guī)程 1、目的 規(guī)范烙鐵溫度測試儀之校準(zhǔn)程序 ,確保其于使用期間能維持其精密度和準(zhǔn)確度 , 以保證產(chǎn)品之測試質(zhì)量 . 2、適用范圍 本公司各種型號之烙鐵溫度測試儀均適用之。 3、權(quán)責(zé) 3.1 品質(zhì)部 QE:烙鐵溫度測試儀之校準(zhǔn),儀器異常之處理。 4、定義 校驗:在規(guī)定條件下,為確定測量儀器或測量系統(tǒng)所指示的量值,或?qū)嵨锪烤?或參考物質(zhì)所代表的量值, 與對應(yīng)的由校準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之間關(guān)系的一組操作。 測量準(zhǔn)確度:測量結(jié)果與被測量真值之間的一致程度。 相對標(biāo)準(zhǔn)偏差:標(biāo)準(zhǔn)偏差與平均值的比值。 5、內(nèi)容 5.1 烙鐵溫度表校準(zhǔn) 5.1.1 將待校溫度表與已校準(zhǔn)溫度表之感溫器分別連接 ,并將恒溫烙鐵之溫度 調(diào)至 2000C,然后開啟恒溫烙鐵電源。 5.1.2 首先用恒溫烙鐵在已校準(zhǔn)之溫度表上量測三次,記錄其讀值。 5.1.3 再用恒溫烙鐵在待校準(zhǔn)之溫度表上量測三次,記錄其讀值。并與
"CCD光度計"是天文學(xué)專有名詞。來自中國天文學(xué)名詞審定委員會審定發(fā)布的天文學(xué)專有名詞中文譯名,詞條譯名和中英文解釋數(shù)據(jù)版權(quán)由天文學(xué)名詞委所有。
中文譯名 | CCD光度計 |
英文原名/注釋 | CCD photometer |
平面度測量
平面度測量是指被測實際表面對其理想平面的變動量。
平面度誤差是將被測實際表面與理想平面進行比較,兩者之間的線值距離即為平面 度誤差值;或通過測量實際表面上若干點的相對高度差,再換算以線值表示的平面度誤差值。
平面度誤差測量的常用方法有如下幾種:
1、平晶干涉法:用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面,直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測表面的平面度誤差值。主要用于測量小平面,如量規(guī)的工作面和千分尺測頭測量面的平面度誤差。
平面是由直線組成的,因此直線度測量中直尺法、光學(xué)準(zhǔn)直法、光學(xué)自準(zhǔn)直法、重力法等也適用于測量平面度誤差。測量平面度時,先測出若干截面的直線度,再把各測點的量值按平面度公差帶定義(見形位公差)利用圖解法或計算法進行數(shù)據(jù)處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板涂色法測量平面誤差的。
光波干涉法常利用平晶進行,圖為測量所得的不同干涉條紋。圖中a的干涉條紋是直的,而且間距相等,只在周邊上稍有彎曲。這說明被檢驗表面是平的,但與光學(xué)平晶不平行,而且在圓周部分有微小的偏差。圖中b的干涉條紋彎曲而且間隔不相等,表明被檢驗表面是球形的,平晶有微小傾斜。條紋彎曲度約為條紋間距的1.5倍,表示平面度誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中c的干涉條紋呈圓形,同樣表明被檢驗表面是球形表面。將條紋數(shù)目乘以所用光束波長的一半,即得所求的平面誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中d的干涉條紋成橢圓形排列,說明被檢驗表面是桶形的。可以把干涉圖案作為被檢驗表面的等高線,因此可以畫出該表面的形狀。這種方法僅適宜測量高光潔表面,測量面積也較小,但測量精確度很高。平面是由直線組成的,因此直線度測量中直尺法、光學(xué)準(zhǔn)直法、光學(xué)自準(zhǔn)直法、重力法等也適用于測量平面度誤差。測量平面度時,先測出若干截面的直線度,再把各測點的量值按平面度公差帶定義(見形位公差)利用圖解法或計算法進行數(shù)據(jù)處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板涂色法測量平面誤差的。
光波干涉法常利用平晶進行,圖為測量所得的不同干涉條紋。圖中a的干涉條紋是直的,而且間距相等,只在周邊上稍有彎曲。這說明被檢驗表面是平的,但與光學(xué)平晶不平行,而且在圓周部分有微小的偏差。圖中b的干涉條紋彎曲而且間隔不相等,表明被檢驗表面是球形的,平晶有微小傾斜。條紋彎曲度約為條紋間距的1.5倍,表示平面度誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中c的干涉條紋呈圓形,同樣表明被檢驗表面是球形表面。將條紋數(shù)目乘以所用光束波長的一半,即得所求的平面誤差為1.5×0.3μm=0.45μm。圖中d的干涉條紋成橢圓形排列,說明被檢驗表面是桶形的。可以把干涉圖案作為被檢驗表面的等高線,因此可以畫出該表面的形狀。這種方法僅適宜測量高光潔表面,測量面積也較小,但測量精確度很高。
2、打表測量法:打表測量法是將被測零件和測微計放在標(biāo)準(zhǔn)平板上,以標(biāo)準(zhǔn)平板作為測量基準(zhǔn)面,用測微計沿實際表面逐點或沿幾條直線方向進行測量。打表測量法按評定基準(zhǔn)面分為三點法和對角線法:三點法是用被測實際表面上相距最遠(yuǎn)的三點所決定的理想平面作為評定基準(zhǔn)面,實測時先將被測實際表面上相距最遠(yuǎn)的三點調(diào)整到與標(biāo)準(zhǔn)平板等高;對角線法實測時先將實際表面上的四個角點按對角線調(diào)整到兩兩等高。然后用測微計進行測量,測微計在整個實際表面上測得的最大變動量即為該實際表面的平面度誤差。
3、液平面法:液平面法是用液平面作為測量基準(zhǔn)面,液平面由 "連通罐"內(nèi)的液面構(gòu)成,然后用傳感器進行測量。此法主要用于測量大平面的平面度誤差。
4、光束平面法:光束平面法是采用準(zhǔn)值望遠(yuǎn)鏡和瞄準(zhǔn)靶鏡進行測量,選擇實際表面上相距最遠(yuǎn)的三個點形成的光束平面作為平面度誤差的測量基準(zhǔn)面。
5、激光平面度測量儀:激光平面度測量儀用于測量大型平面的平面度誤差 。
6、利用數(shù)據(jù)采集儀連接百分表測量平面度誤差的方法 。
測量儀器:偏擺儀、百分表、數(shù)據(jù)采集儀。
測量原理:數(shù)據(jù)采集儀可從百分表中實時讀取數(shù)據(jù),并進行平面度誤差的計算與分析,平面度誤差計算工式已嵌入我們的數(shù)據(jù)采集儀軟件中,完全不需要人工去計算繁瑣的數(shù)據(jù),可以大大提高測量的準(zhǔn)確率。
1)無需人工用肉眼去讀數(shù),可以減少由于人工讀數(shù)產(chǎn)生的誤差;
2)無需人工去處理數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)采集儀會自動計算出平面度誤差值;
3)測量結(jié)果報警,一旦測量結(jié)果不在平面度公差帶時,數(shù)據(jù)采集儀就會自動報警。