斷層效應(yīng)分類

斷層效應(yīng)走向斷層

走向斷層引起的地層缺失與重復(fù)。缺失是指一套層序完整的地層中缺失了某些層位的地層；重復(fù)是指按層序排列的地層部分或全部重復(fù)出現(xiàn)。走向斷層可引起地層的缺失或重復(fù)。由于斷層面產(chǎn)狀、地層產(chǎn)狀、斷層性質(zhì)三者關(guān)系的組合不同，會造成6種基本的重復(fù)與缺失。

斷層效應(yīng)橫向斷層

橫向斷層引起的地層效應(yīng)是指當(dāng)巖層產(chǎn)狀傾斜，橫向斷層滑動在水平面和垂直剖面上引起不同效應(yīng)。如橫向平移在平面上為平移斷層效應(yīng)，在垂直剖面上為逆斷層效應(yīng)；正斷層在平面上為平移斷層效應(yīng)，在垂直剖面上為正斷層效應(yīng)。同理可推知，逆斷層在垂直剖面上表現(xiàn)為逆斷層效應(yīng)，在水平剖面上表現(xiàn)為平移斷層效應(yīng)。

斷層效應(yīng)是指由斷層作用引起的各種現(xiàn)象，其中包括真效應(yīng)與視效應(yīng)兩類現(xiàn)象。

能產(chǎn)生大震和具有以下至少一點特征的活斷層是能動斷層：

在3.5萬年以來至少產(chǎn)生過一次近地表或在地表發(fā)生的運動。

發(fā)生過地震運動（3.5級或者更高），并且有儀器測定的記錄其精確度能夠證明地震運動與斷層有直接關(guān)系。

對于能動斷層來說，斷層一邊發(fā)生地震運動，另一邊也會受到影響。

儀器記錄到歷史上有小震活動產(chǎn)生，且跟斷層有關(guān)。

能動斷層（capable fault）

可能引起地表或近地表明顯錯動的斷層。2100433B

巖層或巖體在構(gòu)造應(yīng)力作用下，發(fā)生破裂，并沿破裂面兩側(cè)巖塊發(fā)生明顯位移的構(gòu)造。斷層在地殼中廣泛發(fā)育，常常構(gòu)成一定地區(qū)的構(gòu)造格架，區(qū)域性的大斷層不僅控制或影響區(qū)域地質(zhì)的結(jié)構(gòu)和發(fā)展，而且以其為背景形成區(qū)域成礦帶;礦區(qū)內(nèi)的斷層，有的控制著礦床分布、礦體的形態(tài)產(chǎn)狀和礦石品位的貧富，有的則對礦體起破壞作用，使礦床開采復(fù)雜化。對斷層的調(diào)查、觀察、測定其產(chǎn)狀要素、確定其類型、分析它與成礦的關(guān)系，對指導(dǎo)開采十分重要。

斷層要素：指斷層的幾何要素，包括斷層面、斷層線、斷盤、滑距、斷距等。(1)斷層面：即巖層或巖體的破裂和錯位面，其產(chǎn)出狀態(tài)由該面的走向、傾向、傾角確定。(2)斷層線：指斷層面與地面的交線，即斷層在地表的出露線。(3)斷盤：指斷層面兩側(cè)的巖塊。斷層面傾斜時，面的上側(cè)巖塊叫上盤；下側(cè)巖塊稱下盤；斷層面垂直時，則兩盤以方位命名，如東盤、西盤、南盤、北盤等。(4)滑距：指斷層面上同一地質(zhì)現(xiàn)象點錯斷后的實際距離稱總滑距；總滑距在斷層面走向線上的分量叫走向滑距；總滑距在斷層面傾斜線上的分量為傾斜滑距；總滑距在水平面上的投影長度稱水平滑距。(5)斷距：斷層面上對應(yīng)層之間的垂直斷距；對應(yīng)層間的水平距離稱水平斷距。

斷層的工程地質(zhì)性質(zhì)：①逆斷層面呈舒緩波狀，有時有鏡面，擠壓面常集中出現(xiàn)構(gòu)成擠壓帶，斷層面礦物定向排列，抗剪強度低，常具有隔水性能。②正斷層面粗糙，有時呈鋸齒狀，抗剪強度較逆斷層高，透水排水性能好，常為地下水的通道，在石灰?guī)r地區(qū)容易沿其形成喀斯特洞穴。③平移斷層面平直光滑，有鏡面，產(chǎn)狀穩(wěn)定，傾角一般較陡，延伸長，在平面上常成X形分布，抗剪強度亦較低。

斷層發(fā)育的 3 個階段:

階段1：初始發(fā)育階段。斷距較小，沉積和成巖作用控制的垂直各向異性產(chǎn)生順層間斷面， 斷層垂向具分段特點，泥巖層中發(fā)育大量的向下變形的張性緩沖區(qū)(Releasing dip relay)，泥巖層厚度越大，緩沖區(qū)越寬。

階段2：過渡形變階段。斷層沿間斷面剪切，產(chǎn)生次生裂縫或與順斷層滑動的斜裂紋。斷層形成時伴生的微小裂縫具有定向性， 其方位與 Riedel 剪切一致，在富泥地層中，斷距增大形成泥巖涂抹的概率很高 。

階段3：斷層形成階段。隨著斷距的進(jìn)一步增大，斷層下降盤的泥巖源層變形，可能使涂抹的泥巖層厚度變薄，從而失去連續(xù)性。巖石塊狀發(fā)生破裂、旋轉(zhuǎn)，破碎的塊體沿斷層向下混雜。斷裂帶由構(gòu)造變形拉長的斷層核和兩側(cè)的破壞區(qū)域復(fù)合組成。斷層發(fā)育階段的識別是研究斷層封閉性評價的基礎(chǔ)，通常用泥質(zhì)源巖層厚度和斷距的比值來區(qū)分不同階段：斷層在初始—過渡階段，斷距為60～80 m時， 泥巖層厚度與斷距比值0.007；在斷層形成階段，斷距為 600 m 時 這一比值約為0.0009。泥巖涂抹層在斷層發(fā)育時已形成，后期厚度不再增加。在斷層位移較小時，涂抹的泥巖能保持連續(xù)，隨著斷距的增大，泥質(zhì)沿斷層分布變分散、涂抹厚度逐漸減少，至這一距離約為泥質(zhì)源巖層厚度的6～8 倍時，單個或互層的涂抹層將存在缺口，出現(xiàn)封閉上的泄漏點，可以推測，泄漏點與SGR、SSF等比值上的臨界值具有對應(yīng)關(guān)系。2100433B