²多功能的X射線衍射儀
²C機(jī)控制的原位微處理器,得到超高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器
²帶有可旋轉(zhuǎn)管的管罩,可以使用點(diǎn)焦點(diǎn)或焦點(diǎn)
²聚焦Kα1單色器可以得到高強(qiáng)度和高分辨率
²Göbel鏡平行束光學(xué)器件
²透射模式和反射模式可以自動(dòng)轉(zhuǎn)換
²高精度、高速測角儀
²Cr、Fe、Co、Cu和Mo輻射的二次單色器
²支持精確測角儀定位的數(shù)控定位系統(tǒng)
²填充氙氣的正比、閃爍、線性和彎曲位敏探測器
²非常規(guī)環(huán)境分析,低溫、高溫附件
主要特點(diǎn):
²配備了最先進(jìn)的數(shù)字電路,計(jì)算機(jī)和微軟Windows NT/2000/ME操作系統(tǒng)。
²配備多種輔助備件滿足特定領(lǐng)域的研究需要。還可根據(jù)用戶特殊要求定制附件。
²操作安全:采用一系列裝置來防止來自輻射的任何偶然危險(xiǎn)以及用X射線保護(hù)罩覆蓋工作臺(tái)。
²操作簡便:緊湊的尺寸便于利用合適的光學(xué)支架進(jìn)行垂直和水平安裝。
²GD 2000型高精度、垂直/水平測角儀具有高速率(1000º/min)、高精
度的角度重現(xiàn)性(±0.001º)保證高速測量 和高的數(shù)據(jù)可靠性。
²卡口式連接光鑭來實(shí)現(xiàn)X射線光束的準(zhǔn)直確保光束在水平方向的完美調(diào)整;索拉狹縫限制垂直方向上光的發(fā)散。
儀器介紹
APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數(shù)字式粉末衍射系統(tǒng),該儀器
設(shè)計(jì)精巧、結(jié)構(gòu)緊湊、數(shù)據(jù)精確、使用簡便、功能強(qiáng)大,廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)
系統(tǒng)。
x射線熒光和x射線衍射的區(qū)別在于前者是對材料進(jìn)行成份分析的儀器,而后者則主要是對材料進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)分析以便確定其物理性狀的設(shè)備。
X射線衍射儀(XRD)是礦物學(xué)研究領(lǐng)域內(nèi)的主要儀器,用于對結(jié)晶物質(zhì)的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。兩種儀器構(gòu)造與使用對象不同,XR...
防護(hù)墻有幾種:水泥及專、專用水泥(鋇)、鉛板。通常根據(jù)射線能量等級、防護(hù)墻的厚度、防護(hù)距離等來選擇,是否使用鉛板,需要根據(jù)計(jì)算來確定。
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評分: 4.8
多功能 報(bào)告廳室內(nèi)全彩 P2.5LED顯示屏技術(shù)參數(shù)、要求 序號(hào) 貨物名稱 技術(shù)規(guī)格 1 P 2.5 室內(nèi) 全彩 LED 顯示屏 一、技術(shù)參數(shù) ★1、凈屏顯示面積 4.56(w) ×2.5 (H)=11.4 平方 ★2、掃描方式 32掃 ★3、PCB采用四層 1.6 厚板 , ICN2038S ★4、每張模組使用 24顆驅(qū)動(dòng) IC,32個(gè)行管控制,保證整屏的刷新和低灰均勻性,整屏效 果好,不會(huì)出現(xiàn)掃描線、毛毛蟲和鬼影。 ★5、刷新頻率:≥ 3800 幀/ 秒,效果非常好,手機(jī)、攝像機(jī)拍攝沒有任何掃描線、鬼影、拖 影現(xiàn)象,以保證直播時(shí)顯示屏的效果。 ★6、電源線: 35cm紅黑四線主線, 20cm兩線分線,接插件表面鍍金,更耐拔插。 排 線: 14cm 16PIN 排線,結(jié)構(gòu)牢固,抗震抗拉能力強(qiáng) ★7、每塊模組獨(dú)立控制,當(dāng)其中一塊模組不亮,不會(huì)影響后續(xù)模組造成整條不亮或整條閃。 二、
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評分: 4.4
多功能報(bào)告廳室內(nèi)全彩 P2.5LED 顯示屏技術(shù)參數(shù)、要求 序號(hào) 貨物名稱 技術(shù)規(guī)格 1 P 2.5 室內(nèi) 全 彩 LED 顯示屏 一、技術(shù)參數(shù) ★ 1、凈屏顯示面積 4.56(w) X 2.5 ( H) =11.4 平方 ★ 2、掃描方式 32 掃 ★ 3、PCB 采用四層 1.6 厚板, ICN2038S ★4、每張模組使用 24 顆驅(qū)動(dòng) IC , 32 個(gè)行管控制,保證整屏的刷新和低灰均勻性,整屏效 果好,不 會(huì)出現(xiàn)掃描線、毛毛蟲和鬼影。 ★5、刷新頻率:》 3800 幀/秒,效果非常好,手機(jī)、攝像機(jī)拍攝沒有任何掃描線、鬼影、拖 影現(xiàn)象, 以保證直播時(shí)顯示屏的效果。 ★ 6、電源線: 35cm 紅黑四線主線, 20cm 兩線分線,接插件表面鍍金,更耐拔插。 排 線:14cm 16PIN 排線,結(jié)構(gòu)牢固,抗震抗拉能力強(qiáng) ★ 7、每塊模組獨(dú)立控制,當(dāng)其中一塊模組不亮,不會(huì)影響后續(xù)模組造
油田錄井
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量,并形成了定性、定量的巖性識(shí)別方法,為錄井隨鉆巖性快速識(shí)別、建立地質(zhì)剖面提供了技術(shù)保障。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜,樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強(qiáng)度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中,一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān),這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的"指紋",不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點(diǎn)陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等),結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強(qiáng)度也就各不相同,所以通過比較X 射線衍射線位置與強(qiáng)度可區(qū)分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量,并系統(tǒng)采集各種礦物的標(biāo)準(zhǔn)圖譜,包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分,通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性,為現(xiàn)場巖性定名提供定量化的參考依據(jù),提高特殊鉆井條件下巖性識(shí)別準(zhǔn)確度。
X射線衍射儀基本構(gòu)造
X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, 圖4為X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。
(1) 高穩(wěn)定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
(2) 樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng) 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3) 射線檢測器 檢測衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
(4) 衍射圖的處理分析系統(tǒng) 現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng), 它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。
1913年英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ),不僅成功地測定了NaCl、KCl等的晶體結(jié)構(gòu),并提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的著名公式──布拉格方程:2dsinθ=nλ
式中d為晶面間距;n為反射級數(shù);θ為掠射角;λ為X射線的波長。布拉格方程是X射線衍射分析的根本依據(jù)。
Darwin的理論稱為X射線衍射運(yùn)動(dòng)學(xué)理論。該理論把衍射現(xiàn)象作為三維Frannhofer衍射問題來處理,認(rèn)為晶體的每個(gè)體積元的散射與其它體積元的散射無關(guān),而且散射線通過晶體時(shí)不會(huì)再被散射。雖然這樣處理可以得出足夠精確的衍射方向,也能得出衍射強(qiáng)度,但運(yùn)動(dòng)學(xué)理論的根本性假設(shè)并不完全合理。因?yàn)樯⑸渚€在晶體內(nèi)一定會(huì)被再次散射,除了與原射線相結(jié)合外,散射線之間也能相互結(jié)合。Darwin不久以后就認(rèn)識(shí)到這點(diǎn),并在他的理論中作出了多重散射修正。
Ewald的理論稱為動(dòng)力學(xué)理論。該理論考慮到了晶體內(nèi)所有波的相互作用,認(rèn)為入射線與衍射線在晶體內(nèi)相干地結(jié)合,而且能來回地交換能量。兩種理論對細(xì)小的晶體粉末得到的強(qiáng)度公式相同,而對大塊完整的晶體,則必須采用動(dòng)力學(xué)理論才能得出正確的結(jié)果。