電化學(xué)測量系統(tǒng)簡單試驗(yàn)系統(tǒng)包括

自腐蝕電位 - 時(shí)間曲線測定。用于測定 “ 材料 - 介質(zhì)體系 ” 的自腐蝕電位，內(nèi)設(shè)試驗(yàn)向?qū)ё饔?，指?dǎo)用戶設(shè)定采樣周期、試驗(yàn)時(shí)間等試驗(yàn)參數(shù)。尤其具有先進(jìn)的設(shè)置雙采樣周期作用，方便用戶長時(shí)間連續(xù)跟蹤自腐蝕電位的變化趨勢。

恒電位極化試驗(yàn)。用于測定 “ 材料 - 介質(zhì)體系 ” 的在恒定電位極化條件下的電流 - 時(shí)間曲線，內(nèi)設(shè)試驗(yàn)向?qū)ё饔?，指?dǎo)用戶設(shè)定極化電位和采樣周期等試驗(yàn)參數(shù)。

恒電流極化試驗(yàn)。用于測定 “ 材料 - 介質(zhì)體系 ” 的在恒定電流極化條件下的電位 - 時(shí)間曲線，內(nèi)設(shè)試驗(yàn)向?qū)ё饔茫笇?dǎo)用戶設(shè)定極化電流和采樣周期等試驗(yàn)參數(shù)。

極化曲線測定試驗(yàn)。用于測定 “ 材料 - 介質(zhì)體系 ” 的極化曲線，內(nèi)設(shè)試驗(yàn)向?qū)ё饔?，指?dǎo)用戶設(shè)定采樣周期、掃描速率等試驗(yàn)參數(shù)。

循環(huán)伏安試驗(yàn)。用于測定 “ 材料 - 介質(zhì)體系 ” 的循環(huán)伏安曲線，內(nèi)設(shè)試驗(yàn)向?qū)ё饔?，指?dǎo)用戶設(shè)定采樣周期、掃描速率、循環(huán)周期等試驗(yàn)參數(shù)。

硬件安裝方便易行，只需要用USB連接線將 PS-268 型電化學(xué)測量儀和計(jì)算機(jī)的 USB 口相連接。

儀器技術(shù)性能穩(wěn)定可靠，電路和面板設(shè)計(jì)合理，數(shù)據(jù)測量響應(yīng)速度快。

應(yīng)用軟件《電化學(xué)測量系統(tǒng)》可以自動(dòng)地完成測量、采集、計(jì)算、存儲(chǔ)、顯示各種電化學(xué)測量工作。

軟件具有方便的試驗(yàn)向?qū)ё饔茫菍I(yè)人士也可以輕松完成試驗(yàn)過程，操作使用方便。

實(shí)時(shí)保存數(shù)據(jù)作用，無論是筆記本電腦的內(nèi)置電池電量耗光，還是臺(tái)式電腦突然停電或者重新啟動(dòng)，在此之前的試驗(yàn)數(shù)據(jù)均已經(jīng)保存。

直觀的試驗(yàn)結(jié)果動(dòng)態(tài)顯示作用，用戶可以很直觀地觀察到動(dòng)態(tài)顯示的試驗(yàn)數(shù)據(jù)及試驗(yàn)曲線，以了解試驗(yàn)的進(jìn)行狀況。試驗(yàn)曲線包括“E~I 曲線”、“E~logI 曲線”、“E~t 曲線”和“I~t 曲線”4 種坐標(biāo)形式，軟件可以切換顯示，各個(gè)曲線的坐標(biāo)比例根據(jù)試驗(yàn)進(jìn)程實(shí)時(shí)轉(zhuǎn)換或者由用戶設(shè)置試驗(yàn)圖形的坐標(biāo)。

電流量程自動(dòng)換檔。PS-268 系列電化學(xué)測量系統(tǒng)的電流量程檔，可根據(jù)實(shí)際電流大小自動(dòng)切換，保證了試驗(yàn)結(jié)果測量和顯示的最大精度。

硬件系統(tǒng)的檢測和顯示，可以直觀顯示 PS-268A 型電化學(xué)測量儀是否安裝到位，并提醒用戶。

電化學(xué)測量系統(tǒng)可進(jìn)行多種控電位極化或者控電流極化的測量，該系統(tǒng)由 “ 簡單試驗(yàn)系統(tǒng) ” 和 “ 自定義系統(tǒng) ”2 個(gè)子系統(tǒng)組成。2100433B

測量系統(tǒng)的構(gòu)成：如圖所示

開環(huán)測量系統(tǒng)與閉環(huán)測量系統(tǒng)：

如圖所示:

可分為經(jīng)緯儀測量系統(tǒng)、全站儀測量系統(tǒng)、GPS測量系統(tǒng)、激光雷達(dá)測量系統(tǒng)、激光跟蹤測量系統(tǒng)、數(shù)字近景攝影測量系統(tǒng)等。

工業(yè)測量系統(tǒng)GPS測量系統(tǒng)

利用全球定位系統(tǒng)進(jìn)行定位測量的技術(shù)和方法。全球定位系統(tǒng)是導(dǎo)航衛(wèi)星測時(shí)和測距/全球定位系統(tǒng) (Navigation Satellite Timing andRanging/Global Positioning System，NAVSTAR/GPS，通常簡寫為GPS)的簡稱，是美國國防部主持開發(fā)的第二代衛(wèi)星導(dǎo)航定位系統(tǒng)?，F(xiàn)這種測量技術(shù)和方法已經(jīng)在大地測量、工程測量、地籍測量、航空攝影測量、城市規(guī)劃、地殼形變監(jiān)測與地震預(yù)報(bào)、地球動(dòng)力學(xué)研究等領(lǐng)域顯示出良好的應(yīng)用潛力和

基本定位測量方法 GPS衛(wèi)星定位測量的基本定位方法有靜態(tài)定位和動(dòng)態(tài)定位，單點(diǎn)定位和相對定位之分。按基本定位測量的原理論，則有偽距法定位、載波相位測量定位和射電干涉測量定位等幾種。

如果待定點(diǎn)相對于周圍的固定點(diǎn)沒有可察覺到的運(yùn)動(dòng)，或者其運(yùn)動(dòng)極其緩慢以致在一次觀測期間(一般為幾個(gè)小時(shí)至幾天)無法被覺察到，因而在進(jìn)行觀測資料處理時(shí)待定點(diǎn)的位置可以認(rèn)為是固定不動(dòng)的，則確定這些待定點(diǎn)位置的測量稱為靜態(tài)定位。監(jiān)測地殼形變、測量地表沉陷、監(jiān)測地球板塊運(yùn)動(dòng)等屬于這種定位。反之，如果在一次觀測期間待定點(diǎn)相對于周圍固定點(diǎn)有可察覺到的運(yùn)動(dòng)，或者顯著的運(yùn)動(dòng)，則確定這些待定點(diǎn)位置的測量稱為動(dòng)態(tài)定位。靜態(tài)定位能夠通過大量的重復(fù)觀測來提高定位精度，是精密定位的基本作業(yè)模式。

獨(dú)立確定待定點(diǎn)在WGS-84坐標(biāo)系中的絕對位置的方法稱為單點(diǎn)定位或絕對定位。單點(diǎn)定位的優(yōu)點(diǎn)是只需使用一臺(tái)接收機(jī)即可獨(dú)立定位，外業(yè)觀測、數(shù)據(jù)處理也較簡便，缺點(diǎn)是定位精度較低。這種定位模式在地質(zhì)礦產(chǎn)勘測、河海浮標(biāo)定位、導(dǎo)航及低精度測量中應(yīng)用廣泛。相對定位是使用若干臺(tái)接收機(jī)同步跟蹤、觀測幾顆相同的GPS衛(wèi)星信號(hào)，以確定接收機(jī)站之間的相對位置的定位方法。由于各同步觀測值中存在的許多誤差相同或大體相同 (特別是當(dāng)測站間的距離較短時(shí))，因而這些誤差可得以消除或減弱，使定位精度很高。相對定位需要使用至少兩臺(tái)接收機(jī)進(jìn)行同步觀測，必須已知其中某點(diǎn)的坐標(biāo)值。這種定位模式既可用于靜態(tài)定位，也可用于動(dòng)態(tài)定位。

測地型GPS接收機(jī)大都選用相對定位的作業(yè)模式。常用的作業(yè)方法有：靜態(tài)相對定位、準(zhǔn)動(dòng)態(tài)相對定位、快速靜態(tài)相對定位、動(dòng)態(tài)相對定位等。靜態(tài)相對定位法的特點(diǎn)是，基線邊往往構(gòu)成閉合圖形，以便于成果檢核和進(jìn)行GPS網(wǎng)平差，因而精度高，適宜于建立各級(jí)大地控制網(wǎng)、工程網(wǎng)和變形監(jiān)測網(wǎng)，進(jìn)行島嶼-陸地聯(lián)測及海上精密定位等。準(zhǔn)動(dòng)態(tài)相對定位又稱停行(Stop/go)動(dòng)態(tài)測量，測量方法是，在測區(qū)中選擇一基準(zhǔn)站，該站上的接收機(jī)連續(xù)跟蹤、觀測可見衛(wèi)星，其他接收機(jī)分別在待測點(diǎn)上流動(dòng)觀測。這種作業(yè)方法適宜于在開闊地區(qū)進(jìn)行加密測量、工程定位、線路測量及細(xì)部測量等。動(dòng)態(tài)相對定位又稱差分動(dòng)態(tài)定位。該法是在一基準(zhǔn)點(diǎn)上安置一臺(tái)接收機(jī)，連續(xù)跟蹤所有可見衛(wèi)星，另一臺(tái)接收機(jī)安置在運(yùn)動(dòng)的載體上，在出發(fā)點(diǎn)上按快速靜態(tài)相對定位法觀測衛(wèi)星若干分鐘，然后接收機(jī)隨載體在運(yùn)動(dòng)過程中按預(yù)定的時(shí)間間隔自動(dòng)觀測. 實(shí)現(xiàn)載體的連續(xù)定位。定位精度可達(dá)1～2cm。

工業(yè)測量系統(tǒng)經(jīng)緯儀測量系統(tǒng)

經(jīng)緯儀測量系統(tǒng)是以高精度的電子經(jīng)緯儀作為角度傳感器構(gòu)成的工業(yè)測量系統(tǒng),是最常用的工業(yè)測量系統(tǒng)之一，是解決大尺寸工件形體測量的有效途徑。它由兩臺(tái)高精度經(jīng)緯儀、一把標(biāo)定尺、一臺(tái)工業(yè)電腦及后處理軟件組成。兩臺(tái)經(jīng)緯儀組成一個(gè)直角坐標(biāo)系，首先對未知點(diǎn)進(jìn)行采樣，然后進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

經(jīng)緯儀上采集到的都是角度值。由其中一臺(tái)經(jīng)緯儀上獲得一個(gè)水平角和一個(gè)垂直角，從另一臺(tái)經(jīng)緯儀上只須獲得一個(gè)水平角。得到這些角度之后，需要通過數(shù)學(xué)關(guān)系將其換算成坐標(biāo)值。然后根據(jù)測量者的需要，引入不同計(jì)算公式、數(shù)學(xué)模型及評定標(biāo)準(zhǔn)。完成對應(yīng)的測量計(jì)算及誤差評定。得到所需的結(jié)果。如，兩點(diǎn)間的距離、直線度、平面度、平行度、垂直度、圓度、傾斜度等。

工業(yè)測量系統(tǒng)全站儀測量系統(tǒng)

全站儀極坐標(biāo)測量系統(tǒng)正朝智能化方向發(fā)展，最新的APX-Win系統(tǒng)采用馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的電子經(jīng)緯儀或全站儀，能夠自動(dòng)搜索、照準(zhǔn)目標(biāo)。如Leica公司的TCAI 800機(jī)器人有以下特點(diǎn):(1)配備了高精度測角和測距裝置TCA2003機(jī)器人將高精度的測距儀、絕對編碼度盤的電子經(jīng)緯儀和高性能的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)融為一體，可獲取高精度的角度、距離和坐標(biāo)信息。(2)安置了精密伺服馬達(dá)。儀器根據(jù)指令，啟動(dòng)馬達(dá)，轉(zhuǎn)動(dòng)儀器，自動(dòng)照準(zhǔn)目標(biāo)。(3)用ATR(Automatic Target Recognition)自瞄準(zhǔn)目標(biāo)。用CCD器件裝備的自動(dòng)目標(biāo)識(shí)別機(jī)構(gòu)，可在整個(gè)視場范圍內(nèi)快速搜尋目標(biāo)，精確照準(zhǔn)，自動(dòng)觀測。(4)用LOCK自動(dòng)跟蹤目標(biāo)。目標(biāo)一旦被識(shí)別，就可啟用LOCK自動(dòng)跟蹤模式，自動(dòng)跟蹤動(dòng)態(tài)目標(biāo)。(5)支持用戶編程編碼。徠卡提供強(qiáng)有力的編程編碼工具，用戶可在仿真環(huán)境下利用PC機(jī)進(jìn)行程序和編碼的開發(fā)。由多臺(tái)TCA1800測量機(jī)器人構(gòu)成的智能型極坐標(biāo)系統(tǒng)已經(jīng)應(yīng)用于香港地鐵的變形監(jiān)測之中。

工業(yè)測量系統(tǒng)激光雷達(dá)測量系統(tǒng)

用激光器作為輻射源的雷達(dá)。激光雷達(dá)是激光技術(shù)與雷達(dá)技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物 。由發(fā)射機(jī) 、天線 、接收機(jī) 、跟蹤架及信息處理等部分組成。發(fā)射機(jī)是各種形式的激光器，如二氧化碳激光器、摻釹釔鋁石榴石激光器、半導(dǎo)體激光器及波長可調(diào)諧的固體激光器等；天線是光學(xué)望遠(yuǎn)鏡；接收機(jī)采用各種形式的光電探測器，如光電倍增管、半導(dǎo)體光電二極管、雪崩光電二極管、紅外和可見光多元探測器件等。激光雷達(dá)采用脈沖或連續(xù)波2種工作方式，探測方法分直接探測與外差探測。

自從1839年由Daguerre和Niepce拍攝第一張像片以來，利用像片制作像片平面圖(X、Y)技術(shù)一直沿用于今。到了1901年荷蘭人Fourcade發(fā)明了攝影測量的立體觀測技術(shù)，使得從二維像片可以獲取地面三維數(shù)據(jù)(X、Y、Z)成為可能。一百年以來，立體攝影測量仍然是獲取地面三維數(shù)據(jù)最精確和最可靠的技術(shù)，是國家基本比例尺地形圖測繪的重要技術(shù)。

工業(yè)測量系統(tǒng)激光跟蹤測量系統(tǒng)

激光跟蹤測量系統(tǒng)是工業(yè)測量系統(tǒng)中一種高精度的大尺寸測量儀器，具有高精度、高效率、實(shí)時(shí)跟蹤測量、安裝快捷、操作簡便等特點(diǎn)，適合于大尺寸工件配裝測量。它集合了激光干涉測距技術(shù)、光電探測技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論等各種先進(jìn)技術(shù)，對空間運(yùn)動(dòng)目標(biāo)進(jìn)行跟蹤并實(shí)時(shí)測量目標(biāo)的空間三維坐標(biāo)。

激光跟蹤儀的實(shí)質(zhì)是一臺(tái)能激光干涉測距和自動(dòng)跟蹤測角測距的全站儀，區(qū)別之處在于它沒有望遠(yuǎn)鏡，跟蹤頭的激光束、旋轉(zhuǎn)鏡和旋轉(zhuǎn)軸構(gòu)成了激光跟蹤儀的三個(gè)軸，三軸相交的中心是測量坐標(biāo)系的原點(diǎn)。一臺(tái)激光干涉儀是跟蹤儀的核心部分，自動(dòng)跟蹤球反射鏡裝在鋼球中，采用球形反射鏡可以捕獲跟蹤儀發(fā)射的激光束。從跟蹤頭發(fā)射出的激光，發(fā)向一個(gè)三面棱鏡反射器，且始終保持激光束對準(zhǔn)反射鏡中心，操作人員可以手持反射球在物體表面進(jìn)行移動(dòng)，因此只要保持反射鏡與跟蹤儀的聯(lián)系，跟蹤頭會(huì)始終跟著反射器的移動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)激光束會(huì)被反射鏡反射回跟蹤儀。

工業(yè)測量系統(tǒng)數(shù)字近景攝影測量系統(tǒng)

它包括很多分支學(xué)科，如航空攝影測量、航天攝影測量和近景攝影測量等。

攝影測量在工業(yè)測量和工程測量中的應(yīng)用一般稱為非地形攝影測量。其中，近景攝影測量（close range photogrammetry）是指測量范圍小于100m、像機(jī)布設(shè)在物體附近的攝影測量。它經(jīng)歷了從模擬、解析到數(shù)字方法的變革，硬件也從膠片像機(jī)發(fā)展到數(shù)字像機(jī)。

數(shù)字近景攝影測量系統(tǒng)一般分為單臺(tái)像機(jī)的脫機(jī)測量系統(tǒng)、多臺(tái)像機(jī)的聯(lián)機(jī)測量系統(tǒng)。此類系統(tǒng)與其它類系統(tǒng)一樣具有精度高、非接觸測量和便攜等特點(diǎn)。此外，還具有其它系統(tǒng)所無法比擬的優(yōu)點(diǎn)：測量現(xiàn)場工作量小、快速、高效和不易受溫度變化、振動(dòng)等外界因素的干擾。國外的生產(chǎn)廠家和產(chǎn)品很多，如美國GSI公司的V-STARS系統(tǒng)、挪威Metronor公司的Metronor系統(tǒng)和德國AICON 3D公司的DPA-Pro系統(tǒng)等。

Kendall's Coefficient of Concordance的縮寫。是一種MSA（測量系統(tǒng)分析方法），用于判斷屬性數(shù)據(jù)的測量系統(tǒng)，分級(jí)別的測量系統(tǒng)。

中文名

KCC

外文名

Kendall's Coefficient of Concordance

用途

判斷屬性數(shù)據(jù)、分級(jí)別

如一種產(chǎn)品有5種不同的狀態(tài)，我們?nèi)绻袛辔覀兊臏y量系統(tǒng)是OK的，也就是如何判斷我們的操作人員能分的出5種狀態(tài)嗎？

方法：在MINTAB中，菜單-統(tǒng)計(jì)-質(zhì)量工具-屬性一致性分析，然后在對話框的“結(jié)果”，選擇最后一項(xiàng)“此外，KAPPA和kendall...",然后就能計(jì)算出來。

最終判斷測量系統(tǒng)（MSA）通過的依據(jù)是：KCC>0.7。（KCC的取值在-1和1之間）

如下面的例子

取6個(gè)零件，3個(gè)人來進(jìn)行判斷，零件的狀態(tài)有5種級(jí)別（分別為1~5），結(jié)果如下表，我們將其輸入MINTAB中，如圖1

Proposal Judge 1 Judge 2 Judge 3

1 4 3 3

2 4 2 4

3 5 4 5

4 3 4 4

5 3 2 1

6 2 3 2

最后輸出的結(jié)果如下，

Attribute Agreement Analysis for Judge 1, Judge 2, Judge 3

Between Appraisers

Assessment Agreement

# Inspected # Matched Percent 95 % CI

6 0 0.00 (0.00, 39.30)

# Matched: All Appraisers' assessments agree with each other.

Fleiss' Kappa Statistics

Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)

1 -0.058824 0.235702 -0.24957 0.5985

2 0.035714 0.235702 0.15152 0.4398

3 -0.107692 0.235702 -0.45690 0.6761

4 0.000000 0.235702 0.00000 0.5000

5 0.437500 0.235702 1.85616 0.0317

Overall 0.033058 0.132073 0.25030 0.4012

Kendall's Coefficient of Concordance

Coef Chi - Sq DF P

0.670034 10.0505 5 0.0738

我們只需要看這個(gè)值：coef就能判斷測量系統(tǒng)是否達(dá)到要求，本例中Kendall 的一致性系數(shù)KCC(coef)為0.67，沒有大于0.7,所以測量系統(tǒng)不能通過，需要改進(jìn)。

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