中文名 | 電離層不規(guī)則結(jié)構(gòu)的數(shù)值模擬及分維分形研究 | 項(xiàng)目負(fù)責(zé)人 | 蕭佐 |
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項(xiàng)目類別 | 面上項(xiàng)目 | 依托單位 | 北京大學(xué) |
重點(diǎn)研究了中、低緯度擴(kuò)展F層的形成和演化。探用線性理論,非線性數(shù)值模擬以及資料分析相結(jié)合的方法。研究結(jié)果表明:赤道地區(qū)擴(kuò)展F層的線性增長率6月份最小、且極大增長率偏離磁赤道10°左右,說明噴泉效應(yīng)影響赤道擴(kuò)展F的增長;非線性數(shù)值模擬表明中、低緯地區(qū)的聲重波可以激發(fā)擴(kuò)展F、且在聲重波波峰處形成空泡上升、向順風(fēng)向傾斜、與觀測是結(jié)果相一致;發(fā)現(xiàn)中、低緯慢慢離層存在兩數(shù)小尺度波動性擾動,它們對地磁的影響奶不相同,說明它們的激發(fā)機(jī)制不同,很值得進(jìn)一步研究。此外,應(yīng)用高緯宇宙噪音吸收的向爍研究了極區(qū)F層不規(guī)則結(jié)構(gòu),指出極區(qū)不規(guī)則結(jié)構(gòu)表現(xiàn)出混沌狀態(tài)。研究結(jié)果還表明在中、低緯擴(kuò)展F的激發(fā)中,中性風(fēng)和電場起著重要作用。 2100433B
批準(zhǔn)號 |
49374226 |
項(xiàng)目名稱 |
電離層不規(guī)則結(jié)構(gòu)的數(shù)值模擬及分維分形研究 |
項(xiàng)目類別 |
面上項(xiàng)目 |
申請代碼 |
D0411 |
項(xiàng)目負(fù)責(zé)人 |
蕭佐 |
負(fù)責(zé)人職稱 |
教授 |
依托單位 |
北京大學(xué) |
研究期限 |
1994-01-01 至 1996-12-31 |
支持經(jīng)費(fèi) |
9(萬元) |
1、高頻T型開關(guān)T 型開關(guān)適用于視頻及其它頻率高于10MHz的應(yīng)用,如圖4 所示,它由兩個模擬開關(guān)(S1、S3)串聯(lián)組成,另一開關(guān)S2 接在地和S1、S3的交點(diǎn)之間,這種結(jié)構(gòu)的開關(guān)其關(guān)斷隔離高于單個開...
兩種情況:1、模擬招標(biāo)是一種招標(biāo)訓(xùn)練,按照正規(guī)招標(biāo)流程來設(shè)計的招標(biāo)流程演練,鍛煉技能或發(fā)現(xiàn)招標(biāo)過程中的難點(diǎn),以完善招標(biāo)方案,解決方案。2、模擬招標(biāo),一個非正規(guī)的名詞。根據(jù)《招標(biāo)投標(biāo)法》,國家對招標(biāo)行為...
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評分: 4.5
等離子體對大功率電波的歐姆耗散會使電子溫度升高,進(jìn)而導(dǎo)致電子密度和其他等離子體參數(shù)改變,實(shí)現(xiàn)電離層的地面人工變態(tài).本文基于大功率無線電波與低電離層相互作用的自洽模型,分析了不同入射條件下電離層參數(shù)的變化,主要結(jié)論如下:電離層D區(qū)是電波的主要吸收區(qū),并且其吸收強(qiáng)度隨入射頻率的升高而降低,當(dāng)入射頻率為6 MHz(有效入射功率為200 MW)時電子溫度的最大增幅約為520 K,電子密度最大增幅為7300 cm~(-3)左右;電子溫度達(dá)到飽和所需時間小于電子密度的飽和時間,前者具有μs量級,后者具有ms量級;停止加熱后,電子溫度和密度迅速恢復(fù)到初始狀態(tài),恢復(fù)時間均小于各自的飽和時間,但量級相當(dāng);入射功率越高,電子溫度和密度的增幅越大,并且飽和時間也越長,在相同入射條件下,夜晚的飽和時間要大于白天.
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頁數(shù): 3頁
評分: 3
不規(guī)則基坑變形的數(shù)值模擬分析與應(yīng)用研究——運(yùn)用falc3d的基本原理,對不規(guī)則基坑變形進(jìn)行數(shù)值模擬分析,總結(jié)出了不規(guī)則基坑的變形規(guī)律,對不規(guī)則基坑穩(wěn)定的問題處理有一定的指導(dǎo)意義。
《高等學(xué)校教材·化工過程數(shù)值模擬及軟件(第2版)》旨在介紹化工過程模擬的基本概念和方法,提供利用相關(guān)模擬軟件進(jìn)行實(shí)際化工過程的模擬的步驟和技巧。
《高等學(xué)校教材·化工過程數(shù)值模擬及軟件(第2版)》可作為高等學(xué)校應(yīng)用化學(xué)、化學(xué)及化工類專業(yè)本科生和研究生的教材,也可供石油與化工、輕工等行業(yè)從事開發(fā)的工程技術(shù)人員參考。
為明確酸堿調(diào)質(zhì)過程中污泥顆粒形態(tài)結(jié)構(gòu)變化,研究選取分維作為表征污泥顆粒形態(tài)的重要參數(shù),考查了三種測量方法——圖像法、小角度光散射法和沉降法在污泥分維測量中的應(yīng)用。比較這三種測量方法得出:在污泥分維測量中小角度光散射法具有較好的適用性研究了不同酸堿調(diào)質(zhì)條件下,污泥粒徑(d0.5)、比表面積(SSA)、表面Zeta電位、剪切敏感性(KSS)、絮體強(qiáng)度(FS)、絮凝能力(FA)等特性的變化從污泥比阻、分形維數(shù)及污泥粒徑等方面,研究冰凍解凍、微波、磁化三種物理調(diào)質(zhì)方法對污泥脫水性能的改善以及污泥結(jié)構(gòu)的變化,并分析了其作用機(jī)理。微波處理不需投加任何藥劑,并具有殺菌作用,泥餅和濾液的處置都很方便,并且經(jīng)濟(jì)可行,是一種值得進(jìn)一步研究和應(yīng)用的新型工藝。將微波與CPAM聯(lián)用可大幅度改善污泥結(jié)構(gòu)及脫水性能。 研究分析了污泥調(diào)質(zhì)過程中污泥結(jié)構(gòu)參數(shù)的改變對污泥脫水性能的影響。微波調(diào)質(zhì)過程中,污泥比阻(SRF)及濾餅含水率隨著d0.5、D3、FS的增大而減小。微波與CPAM聯(lián)合調(diào)質(zhì)過程中,SRF及濾餅含水率在一定范圍內(nèi)隨d0.5和FS的增大而減小,而當(dāng)d0.5與FS持續(xù)增大時,SRF與含水率有增大的趨勢,SRF及含水率隨D3的減小而減小。 通過分別建立了這兩種調(diào)質(zhì)方法下的污泥比阻特性模型,從污泥結(jié)構(gòu)上判斷污泥脫水性能提供了依據(jù),同時也說明降低SRF的途徑包括:提高粒徑,增大分維,提高絮體強(qiáng)度。獲得大而密實(shí)且強(qiáng)度高的絮體是污泥調(diào)質(zhì)的最終目標(biāo)。
數(shù)值模擬研究的主要工作程序?qū)σ粋€油氣藏進(jìn)行綜合的數(shù)模研究,往往需要花較大的精力和較長時間(有時會達(dá)一年甚至更長的時間),同時還對計算機(jī)硬件和技術(shù)人員有很高的要求,然而盡管在不同的項(xiàng)目中,面對的問題會千差萬別,但大多數(shù)油藏數(shù)值模擬的基本研究過程是一樣的。為了使讀者一開始就對數(shù)模研究工作有一個明確的整體概念,下面簡要地介紹一下油藏數(shù)值模擬的主要工作程序。
問題的定義:開展油藏數(shù)模工作的第一步,是確定研究的目標(biāo)和范圍。即首先要給本次數(shù)模研究一個明確的定位,明確本次模擬要解決的主要問題是什么,需要研究哪些油藏動態(tài)特性,這些項(xiàng)目的完成對油藏的經(jīng)營管理者會產(chǎn)生什么影響等等。從而根據(jù)項(xiàng)目的要求進(jìn)行數(shù)值模擬研究程序設(shè)計,并收集有關(guān)的油藏基礎(chǔ)地質(zhì)、流體及生產(chǎn)動態(tài)數(shù)據(jù)。