地質(zhì)測(cè)量方法

地質(zhì)測(cè)量方法是測(cè)繪地質(zhì)圖的方法。基本內(nèi)容是：①地層劃分與對(duì)比，主要根據(jù)巖石性質(zhì)、巖石組合、古生物及地層學(xué)的原理與方法;運(yùn)用地層剖面測(cè)量解決此項(xiàng)任務(wù)。最終成果是調(diào)查區(qū)的綜合地層柱狀圖;②路線地質(zhì)調(diào)查。沿走向追索以查明界線性質(zhì)、特征、地質(zhì)體沿走向的變化，用橫穿路線(路線方向與地質(zhì)界線或地質(zhì)體走向大致垂直)以查明地質(zhì)體的性質(zhì)及其橫向變化。

地質(zhì)測(cè)量的精細(xì)程度及主要任務(wù)取決于比例尺，一般分為小比例尺(1/20萬(wàn)～1/100分以上)，中比例尺(1/5萬(wàn)～1/1萬(wàn))和大比例尺 (1/5千～1/5百以下)三種。小比例尺圖的填圖單元(被測(cè)地質(zhì)體單元)較大。填圖面積大，地質(zhì)點(diǎn)及觀測(cè)線的間距大。反映區(qū)域性地質(zhì)規(guī)律;大比例尺圖的填圖單元?jiǎng)澐趾芗?xì)。地質(zhì)體的細(xì)微特征均應(yīng)反映，填圖面積很小，地質(zhì)點(diǎn)及觀測(cè)線間距很小。一般用于礦體、地基及重要地質(zhì)意義地區(qū)。一般在某區(qū)進(jìn)行地質(zhì)測(cè)量時(shí)先作小比例尺測(cè)量，然后逐步向大比例尺過(guò)渡。從第一張地質(zhì)圖問(wèn)世以來(lái)已有近150年的發(fā)展歷史。本法隨著地質(zhì)基礎(chǔ)科學(xué)的發(fā)展而前進(jìn)。遙測(cè)遙感技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、地球物理與地球化學(xué)技術(shù)的引進(jìn)是本法的發(fā)展趨勢(shì)。 2100433B

地質(zhì)測(cè)量方法是測(cè)繪地質(zhì)圖的方法。

基本內(nèi)容是：①地層劃分與對(duì)比，主要根據(jù)巖石性質(zhì)、巖石組合、古生物及地層學(xué)的原理與方法；運(yùn)用地層剖面測(cè)量解決此項(xiàng)任務(wù)。最終成果是調(diào)查區(qū)的綜合地層柱狀圖；②路線地質(zhì)調(diào)查。沿走向追索以查明界線性質(zhì)、特征、地質(zhì)體沿走向的變化，用橫穿路線(路線方向與地質(zhì)界線或地質(zhì)體走向大致垂直)以查明地質(zhì)體的性質(zhì)及其橫向變化。

地質(zhì)測(cè)量的精細(xì)程度及主要任務(wù)取決于比例尺，一般分為小比例尺(1/20萬(wàn)～1/100分以上)，中比例尺(1/5萬(wàn)～1/1萬(wàn))和大比例尺(1/5千～1/5百以下)三種。小比例尺圖的填圖單元(被測(cè)地質(zhì)體單元)較大。填圖面積大，地質(zhì)點(diǎn)及觀測(cè)線的間距大。反映區(qū)域性地質(zhì)規(guī)律；大比例尺圖的填圖單元?jiǎng)澐趾芗?xì)。地質(zhì)體的細(xì)微特征均應(yīng)反映，填圖面積很小，地質(zhì)點(diǎn)及觀測(cè)線間距很小。一般用于礦體、地基及重要地質(zhì)意義地區(qū)。一般在某區(qū)進(jìn)行地質(zhì)測(cè)量時(shí)先作小比例尺測(cè)量，然后逐步向大比例尺過(guò)渡。從第一張地質(zhì)圖問(wèn)世以來(lái)已有近150年的發(fā)展歷史。地質(zhì)測(cè)量方法隨著地質(zhì)基礎(chǔ)科學(xué)的發(fā)展而前進(jìn)。遙測(cè)遙感技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、地球物理與地球化學(xué)技術(shù)的引進(jìn)是地質(zhì)測(cè)量方法的發(fā)展趨勢(shì) 。

剖面測(cè)量的任務(wù)是測(cè)定剖面線上地形點(diǎn)、地物點(diǎn)及工程點(diǎn)的位置和高程。

進(jìn)行剖面測(cè)量時(shí)剖面線端點(diǎn)、定向點(diǎn)、控制點(diǎn)均可設(shè)站，根據(jù)剖面圖的比例尺、精度要求、設(shè)備和地形條件，可采用全站儀數(shù)字測(cè)圖法、經(jīng)緯儀視距法等。

剖面點(diǎn)的密度，取決于剖面圖的比例尺、地形條件等，通常是剖面圖上間距為一厘米測(cè)一剖面點(diǎn)。

剖面測(cè)量施測(cè)方法：安置經(jīng)緯儀于1點(diǎn)，照準(zhǔn)剖面線上的端點(diǎn)或轉(zhuǎn)點(diǎn)，根據(jù)視線方向，測(cè)出剖面線上的2、3、4、…點(diǎn)相對(duì)于1點(diǎn)的平距和高差。當(dāng)視線太長(zhǎng)或不通視，可遷站于其他點(diǎn)，仍按上述方法進(jìn)行測(cè)定。

地質(zhì)勘探一般包括普查、詳查和勘探在內(nèi)的地質(zhì)勘探T作。地質(zhì)勘探工程測(cè)量主要為地質(zhì)勘探工作服務(wù)，其主要任務(wù)是：

(1)根據(jù)地質(zhì)勘探工作的需要，為地質(zhì)勘探區(qū)提供相關(guān)的控制測(cè)量資料和地形圖資料。

(2)按照地質(zhì)勘探工程的設(shè)計(jì)要求，在實(shí)地定點(diǎn)、定線，提供相關(guān)工程的施工位置和方向，指導(dǎo)地質(zhì)勘探工程的施工。

(3)及時(shí)準(zhǔn)確地測(cè)量已施工的相關(guān)工程的平面坐標(biāo)和高程，為編寫(xiě)地質(zhì)報(bào)告和計(jì)算儲(chǔ)量提供必要的測(cè)繪資料。

地質(zhì)勘探工程測(cè)量的主要內(nèi)容包括地質(zhì)填圖測(cè)量，勘探線及勘探網(wǎng)的測(cè)設(shè)，鉆孑L、探井、探槽等項(xiàng)目的勘探工程測(cè)量，地質(zhì)剖面測(cè)量。

進(jìn)行地質(zhì)勘探工程測(cè)量時(shí)，首先在地質(zhì)勘探區(qū)建立測(cè)量控制網(wǎng)作為地質(zhì)勘探工程測(cè)量的依據(jù)。勘探區(qū)的首級(jí)平面控制網(wǎng)可以根據(jù)勘探區(qū)的勘探面積、勘探網(wǎng)的密度和現(xiàn)場(chǎng)地形條件，布設(shè)成四等獨(dú)立控制網(wǎng)、導(dǎo)線網(wǎng)或GPS網(wǎng)，以首級(jí)平面控制網(wǎng)為基礎(chǔ)，可以采用線形鎖、交會(huì)法及導(dǎo)線法加密平面控制網(wǎng)點(diǎn)?？碧絽^(qū)的首級(jí)高程控制網(wǎng)可以采用四等水準(zhǔn)測(cè)量的方法或者精密三角高程測(cè)量的方法實(shí)測(cè)．加密點(diǎn)的高程可以首級(jí)高程控制網(wǎng)為基礎(chǔ)，采用一般水準(zhǔn)測(cè)量或一般三角高程測(cè)量的方法實(shí)測(cè)。如果地質(zhì)勘探區(qū)在進(jìn)行地形測(cè)量時(shí)布設(shè)有地形測(cè)量控制網(wǎng)，且地形測(cè)量控制網(wǎng)的精度能夠滿足地質(zhì)勘探工程測(cè)量的要求時(shí)，可以將其作為地質(zhì)勘探工程測(cè)量的控制網(wǎng)，若密度不夠時(shí)可采用適當(dāng)?shù)姆椒ㄟM(jìn)行加密。 2100433B