《電子測量技術(shù)》期刊簡介

《電子測量技術(shù)》(月刊)創(chuàng)刊于1977年，是經(jīng)國家科委批準(zhǔn)，由工業(yè)和信息化部主管，北京無線電技術(shù)研究所主辦的，國內(nèi)外公開發(fā)行的中國科技核心期刊。作為國內(nèi)第一本專注于電子測量領(lǐng)域的雜志，在充分發(fā)揮自身優(yōu)勢下，《電子測量技術(shù)》先后選入了中國科技論文統(tǒng)計源期刊;中國科技論文核心期刊;美國CODEN碼錄用期刊。

《電子測量技術(shù)》一直堅持嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶W(xué)術(shù)權(quán)威性，以發(fā)表電子測量及其相關(guān)學(xué)科的原創(chuàng)性科技論文為主，同時刊登階段性科研成果報告，報道國內(nèi)外測試測量界重要科技新聞，并以努力辦成電子測量領(lǐng)域的權(quán)威性刊物為奮斗目標(biāo)，下設(shè)【研究與設(shè)計】、【理論與算法】、【信息技術(shù)及圖形處理】、【嵌入式技術(shù)】、【可編程器件應(yīng)用】、【在線測試與故障診斷】、【虛擬儀器技術(shù)】、【數(shù)據(jù)采集及信號處理】、【智能化儀器及其應(yīng)用】、【傳感器及非電量檢測技術(shù)】、【通信技術(shù)】、【集成電路測試技術(shù)】、【網(wǎng)絡(luò)測試技術(shù)】、【測試系統(tǒng)與模塊化組件】等欄目。稿件涉及范圍主要包括(不局限于此):

在眾多的電子測量科技類期刊中，《電子測量技術(shù)》以審稿周期2~3周、發(fā)表周期1~2個月、信息含量大、報道成果時效性強(qiáng)、覆蓋學(xué)科廣等獲得了電子測量、控制及相關(guān)學(xué)科作者和讀者的廣泛認(rèn)可，同時她還獲得了包括:北京航空航天大學(xué)、天津大學(xué)、上海交通大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)、電子科技大學(xué)、東北大學(xué)、南京大學(xué)、燕山大學(xué)、中國科學(xué)院電子信息研究所、中國電子科技集團(tuán)第四十一研究所等十幾所著名大學(xué)及科研院所的書面認(rèn)可，被指定為其相關(guān)學(xué)科的研究生畢業(yè)、職稱評定的定點(diǎn)刊物。

電子測量技術(shù)

作 者: 劉世安，田瑞利 主編

出 版 社: 電子工業(yè)出版社

出版時間: 2010-1-1

開 本: 16開

I S B N : 9787121100307

定價:￥29.00

本書較為全面地介紹了電子測量的基本知識、儀器的工作原理、使用方法和測試技術(shù)。主要內(nèi)容包括電子測量的基本知識、誤差和測量結(jié)果數(shù)據(jù)處理、信號發(fā)生器、電子示波器及測試技術(shù)、時間與頻率測量技術(shù)、電壓和電流測量技術(shù)、頻域測量技術(shù)、電子元器件測量技術(shù)、數(shù)據(jù)域測量技術(shù)、虛擬儀器與LabVIEW編程基礎(chǔ)、光纖通信常用儀表及測試技術(shù)。

本書基于"適應(yīng)性、實用性、通俗性、靈活性"的原則，編寫時降低了理論深度，省略了公式中復(fù)雜的數(shù)學(xué)推導(dǎo)過程，注重和強(qiáng)調(diào)理論聯(lián)系實踐。在理論的敘述上，力求簡明扼要，通俗易懂，突出重點(diǎn)，并注重實用性。作為教材，每章后附有習(xí)題和實訓(xùn)實驗內(nèi)容，與章節(jié)重點(diǎn)知識緊密結(jié)合，可操作性強(qiáng)，便于教師組織課堂教學(xué)、實踐和學(xué)生自學(xué)。同時，本教材增加了大量儀器示例和一些新知識內(nèi)容，如虛擬儀器的應(yīng)用、光纖通信常用儀表及測試技術(shù)等。

本書可作為高職高專通信、電子、自動控制、工業(yè)自動化，儀器儀表及計算機(jī)技術(shù)等專業(yè)的教材，也可作為培訓(xùn)教材、電子技術(shù)工程人員及計量人員的學(xué)習(xí)參考用書。

第1章 電子測量的基本知識

1.1 電子測量的意義、特點(diǎn)和基本方法

1.2 電子測量儀器的基礎(chǔ)知識

1.3 誤差的概念與表示方法

1.4 誤差的合成

1.5 測量數(shù)據(jù)的處理

小結(jié)

習(xí)題

第2章 信號發(fā)生器

2.1 信號發(fā)生器概述

2.2 低頻信號發(fā)生器

2.3 高頻信號發(fā)生器

2.4 函數(shù)信號發(fā)生器

2.5 合成信號發(fā)生器

小結(jié)

綜合實訓(xùn)

實驗一 低頻信號發(fā)生器的使用

實驗二 高頻信號發(fā)生器AS1053的使用

習(xí)題

第3章 電子示波器

3.1 概述

3.2 示波器顯示原理

3.3 波形顯示的基本原理

3.4 通用示波器

3.5 取樣示波器

3.6 數(shù)字存儲示波器

3.7 示波器的基本測試技術(shù)

小結(jié)

綜合實訓(xùn)

實驗一 示波器的一般應(yīng)用

實驗二 李沙育圖形法觀測頻率

實驗三 數(shù)字示波器的測試

習(xí)題

第4章 時間與頻率的測量

4.1 時間、頻率的基本概念

4.2 電子計數(shù)法測量頻率

4.3 電子計數(shù)法測量周期

4.4 通用計數(shù)器

4.5 其他測量頻率的方法

小結(jié)

綜合實訓(xùn)

實驗一 電子計數(shù)器的應(yīng)用

習(xí)題

第5章 電壓測量

5.1 概述

5.2 模擬式直流電壓的測量

5.3 交流電壓的測量

5.4 電平的測量

5.5 數(shù)字電壓表

5.6 數(shù)字電壓表的工作原理

5.7 數(shù)字多用表

5.8 電流測量

小結(jié)

綜合實訓(xùn)

實驗一 毫伏表的使用

實驗二 數(shù)字多用表的使用

習(xí)題

第6章 頻域測量技術(shù)及儀器

第7章 電子元器件參數(shù)測量技術(shù)

第8章 數(shù)據(jù)域測量

第9章 虛擬儀器與LabVIEW編程基礎(chǔ)

第10章 光纖通信常用儀表及測試

參考文獻(xiàn)

本書根據(jù)教育部最新制訂的高職院校電子測量技術(shù)課程教學(xué)的基本要求，結(jié)合編者多年的教學(xué)實踐，為進(jìn)一步提高學(xué)生的職業(yè)技能與自主創(chuàng)新能力編寫而成。在內(nèi)容取材及安排上，以"必須"和"夠用"為前提，講清概念，強(qiáng)化應(yīng)用。

全書分為10章，分別是電子測量的基礎(chǔ)知識、測量誤差與數(shù)據(jù)處理、電流電壓與功率的測量、常用電子元器件的測量、測量用信號發(fā)生器、時間與頻率的測量、電子示波器、頻域測量技術(shù)、數(shù)據(jù)域測試技術(shù)及現(xiàn)代電子測量技術(shù)。每章均配有經(jīng)典例題和習(xí)題，此外，每章最后還編寫有相應(yīng)的實驗與實訓(xùn)。

本書可作為高職院校應(yīng)用電子、機(jī)電一體化、電氣自動化、數(shù)控技術(shù)和通信技術(shù)等專業(yè)的教材，也可供從事電子電工技術(shù)的工程技術(shù)人員參考使用。專科可對其中的內(nèi)容進(jìn)行選講。

測量誤差按其性質(zhì)可分為系統(tǒng)誤差和偶然誤差兩類。

在相同的觀測條件下進(jìn)行的一系列觀測，若誤差的數(shù)值和符號保持不變，或按照一定的規(guī)律變化，這種誤差稱為系統(tǒng)誤差。例如30m的鋼尺經(jīng)檢定其實際長度為30.005m，則用該尺每丈量一整尺就有5mm的誤差，它隨尺段數(shù)成比例地增加并保持其符號不變;水準(zhǔn)儀因視準(zhǔn)軸與水準(zhǔn)管軸不平行而引起的水準(zhǔn)尺讀數(shù)誤差，它與視線的長度成正比而符號不變;經(jīng)緯儀因視準(zhǔn)軸與橫軸不垂直而引起的方向誤差，它隨視線豎直角的大小而變，但符號不變，水準(zhǔn)尺刻畫不精確所引起的讀數(shù)誤差，以及由于觀測者照準(zhǔn)目標(biāo)時，總是習(xí)慣于偏向中央某一側(cè)而使測結(jié)果帶有誤差等都屬于系統(tǒng)誤差。系統(tǒng)誤差主要來源于工具上的一些缺陷以及觀測者的某些習(xí)慣的影響。例如有些人習(xí)慣地把讀數(shù)估讀得偏大或偏小，也有來自風(fēng)、溫度及大氣折射等自然環(huán)境的影響。系統(tǒng)誤差可以在測量過程中采取一定的措施，使其得以清除或減弱其影響。例如在鋼尺量距中，對測量結(jié)果加尺長改正可消除鋼尺長度的誤差;在水準(zhǔn)測量中保持前視和后視距離相等來消除視準(zhǔn)軸與水準(zhǔn)管軸不平行所產(chǎn)生的誤差;在測水平角中采取盤左和盤右觀測，取其平均值以消除視準(zhǔn)軸與橫軸不垂直所帶來的誤差。系統(tǒng)誤差的特點(diǎn)是具有累積性，對測量結(jié)果影響較大，因此在測量工作中應(yīng)該盡量設(shè)法清除或減弱系統(tǒng)誤差的影響。

在相同的觀測條件下進(jìn)行一系列的觀測，若誤差的數(shù)值和符號沒有任何明顯的規(guī)律性，這種誤差稱為偶然誤差。如估讀誤差、照準(zhǔn)誤差等。例如在水平角測量中照準(zhǔn)目標(biāo)時，可能稍偏左，也可能稍偏右，偏差的大小也不一;又如水準(zhǔn)測量或鋼尺量距中估讀毫米數(shù)時，可能偏大，也可能偏小，其大小不一，這些都屬于偶然誤差。

產(chǎn)生偶然誤差的原因很多，主要是由于人的感覺器官能力的限制以及環(huán)境中不能控制的因素所造成。偶然誤差既無法把它找出后加以改正，也不能把它完全消除，但采用重復(fù)多次的觀測可減少它的影響。

偶然誤差是測量中不可避免的誤差，它的大小和符號也無法預(yù)知，純屬偶然性質(zhì)。但是在相同的條件下，進(jìn)行重復(fù)觀測所出現(xiàn)的大量偶然誤差，卻存在著一定的規(guī)律。這就是表面上看來毫無規(guī)律的一組偶然誤差，其內(nèi)部卻隱藏著一種必然的規(guī)律。從下面這個例子中可以看到這種規(guī)律。

一次實驗中，在相同的觀測條件下觀測了162個三角形的全部內(nèi)角。由于觀測值中都帶有偶然誤差，三角形三個內(nèi)角之和都不等于三角形內(nèi)角和的理論值180度。設(shè)三角形內(nèi)角和的真值為X，三角形內(nèi)角和的觀測值為△，則三角形內(nèi)角和的真誤差△i為:

△i=X-Li (6-1)

這里所述的真誤差是指真值與觀測值的差，而真值在大部分的場合實際上就是理論上的值，對于三角形的真值就是理論值180度，即X=180度。確定真誤差是將觀測值與真值相減，比如使用儀器觀測了一個三角形的三個角后相加為179°59′55″，則這個三角形一次觀測值的真誤差為5″。

電子測量概論,基本測量理論與測量數(shù)據(jù)處理,電流、電壓與功率測量,電子元器件與集成電路測量,測量用信號發(fā)生器,頻率與時間測量,波形顯示與測量,頻域測量技術(shù),數(shù)據(jù)域分析測試技術(shù),智能儀器與自動測量技術(shù),電子測量技術(shù)的綜合運(yùn)用等

功能測試涉及模擬、數(shù)字、存儲器、RF和電源電路，通常要用不同的測試策略。測試包括大量實際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗證(確定沒有硬件錯誤)，以彌補(bǔ)前面測試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵不斷加到被測單元(UUT)上，同時監(jiān)測同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過程。

功能測試可在產(chǎn)品制造生命周期不同階段實施，首先是工程開發(fā)階段，在系統(tǒng)生產(chǎn)驗證前確認(rèn)新產(chǎn)品功能;然后在生產(chǎn)中也是必須的，作為整個流程的一部分，通過昂貴的系統(tǒng)測試降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本(遺漏成本);最后，在發(fā)貨付運(yùn)階段也是不可缺少的，它可以減少在應(yīng)用現(xiàn)場維修的費(fèi)用，保證功能正常而不會被送回來。如果你經(jīng)常坐飛機(jī)，而且也知道現(xiàn)代飛機(jī)里裝有多少電子設(shè)備，那么你一定會感謝這最后工作所作的一切。

功能測試是在最終系統(tǒng)測試或集成測試之前，可用于線路板或模塊。如今高集成電子設(shè)備已將這些概念混淆，線路板和模塊又都放在一個可更換模組中。雖然很多測試儀結(jié)構(gòu)類似，但測試程序以及線路板和模塊的運(yùn)送過程卻大不相同，而且測試地點(diǎn)也有很大影響，是在應(yīng)用現(xiàn)場測試維修(前向測試)，還是在維修中心，或送回工廠是完全不同的。

功能測試有多種形式，這些形式在成本、時間、效果和維護(hù)性方面各有優(yōu)缺點(diǎn)，我們將其分為下面四種基本類型，分別分析其特性。

1.模型測試系統(tǒng)

2.測試臺

3.專用測試設(shè)備(STE)

4.自動測試設(shè)備(ATE)

從理論上說檢驗一個設(shè)備(線路板或模塊)功能最簡單的方法就是把它放在和真的環(huán)境一樣的模型系統(tǒng)或子系統(tǒng)中，然后看它工作是否正常。如果正常，我們可以有很大把握認(rèn)為它是好的，如果不正常，技術(shù)人員將進(jìn)行檢測希望找出失效的原因以指導(dǎo)維修。但實際上，這種插入上電方式有很多缺點(diǎn)而且很少有效，雖然它有時可作為其它測試方案的補(bǔ)充。

首先，子系統(tǒng)的成本通常比傳統(tǒng)測試平臺要高，尤其是后者是通用設(shè)備可用于多種場合的時候。此外，模型環(huán)境下的子系統(tǒng)維護(hù)非常復(fù)雜、耗時且成本高。集中式維修中心很快就會被不斷出現(xiàn)的模型子系統(tǒng)填滿，而每個都需要特定的文件和培訓(xùn)、操作指導(dǎo)與維護(hù)。同時，僅僅將被測設(shè)備插在系統(tǒng)中還不夠，還必須執(zhí)行一系列正確的操作步驟以保證其工作正常，或檢查它為什么不能正常工作。這些專門的測試步驟成本和復(fù)雜性都非常高，而且很耗時，在操作中還需要熟練的技術(shù)人員來執(zhí)行。最后，即使進(jìn)行了專門的改造，在系統(tǒng)上進(jìn)行單元調(diào)試也很麻煩且不實際，操作流程控制上的局限性以及缺乏診斷工具很快使這種方法在經(jīng)濟(jì)上變得不可接受。

測試臺是一個常規(guī)測試環(huán)境，包括與被測設(shè)備之間的激勵/響應(yīng)接口、專門測試規(guī)程規(guī)定的測試序列與控制。激勵與響應(yīng)通常由標(biāo)準(zhǔn)電源及實驗儀器、專用開關(guān)、負(fù)載以及終端自定義電子設(shè)備(如數(shù)字激勵)提供。在這里夾具是非常重要的一個部分，可提供到被測設(shè)備正確的信號路徑和連通。在很多情況下，夾具基本上是針對每個應(yīng)用而定制的，需要結(jié)合手工操作進(jìn)行設(shè)置。測試過程和控制通常手動進(jìn)行，有時靠PC協(xié)助，通過書面的協(xié)議或規(guī)程進(jìn)行規(guī)定。測試臺連接到具體的產(chǎn)品，優(yōu)點(diǎn)是成本相對較低，設(shè)備比較簡單，但在應(yīng)對多種產(chǎn)品時靈活性較差，即使針對某一個產(chǎn)品當(dāng)需要多個激勵/響應(yīng)時它也不夠。測試臺通常見于工程部門，因為那里有很多儀器可以很快組合起來，且手頭也有相關(guān)資料，不用正規(guī)步驟?；緛碇v，高性能產(chǎn)品測試臺并不足以應(yīng)對生產(chǎn)測試或發(fā)貨階段的測試。

從理論上專用測試設(shè)備就是使測試臺操作自動化的系統(tǒng)，系統(tǒng)的心臟通常是一臺電腦，通過專用總線(采用IEEE、VXI、PXI或PCI標(biāo)準(zhǔn))和一些可編程儀器進(jìn)行控制。速度、性能、適用情況、成本及其它因素影響著儀器總線和結(jié)構(gòu)的選擇。各種儀器和通用設(shè)備堆疊在一個或多個垂直機(jī)箱里(基本型STE通常稱為"機(jī)架系統(tǒng)")，然后再連到被測設(shè)備上。連線與接通一般完全自動進(jìn)行并由軟件控制，不過這會使接收器的內(nèi)部連接非常復(fù)雜，數(shù)字資源(信道)通常在一個專用機(jī)架上，然后由另外一個單獨(dú)機(jī)架包含開關(guān)陣列對模擬儀器進(jìn)行連接及分配。如果需要模擬/數(shù)字信道，夾具可以提供跳線，為使成本、空間和靈活性達(dá)到最優(yōu)，通常還要專門針對具體的項目或程序進(jìn)行設(shè)置，因此新的項目要設(shè)計新的STE。幸好有了自動化處理，設(shè)置時間、測試時間以及整體操作都比手工測試臺更加快速而容易。生成測試程序雖然不會太簡單，但所需文件將大大減少，STE可以擴(kuò)展為滿足多種性能需要，通常用于生產(chǎn)或維修中心。

STE也有缺點(diǎn)，最明顯的是總體成本:設(shè)備投資成本、操作成本以及程序開發(fā)成本。設(shè)備投資成本包括平臺的開發(fā)、材料、制造、測試、文件系統(tǒng)以及折舊，操作成本包括夾具成本、維護(hù)與備件成本、工具、間接材料與易耗品、人工以及管理開銷，最后對每類設(shè)備測試程序開發(fā)與調(diào)試費(fèi)用也要算在一起。

除非要重復(fù)制作大量STE，否則系統(tǒng)開發(fā)與文件制作的非經(jīng)常性工程(NRE)費(fèi)用將是成本主要部分。硬件結(jié)構(gòu)必須適應(yīng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，而這樣對靈活性、體積、信號連通與接口都有不利的影響。打開STE的前蓋你就會對系統(tǒng)信號源及接收器之間的線路數(shù)量與復(fù)雜性感到驚奇，夾具也非常復(fù)雜，如果是包括數(shù)十個模塊用于整個項目的夾具其成本會迅速占到主要部分。有些STE需要的測試源可能很難在市面上找到，一方面可能很少另外也可能太貴，例如在需要大量數(shù)字激勵/響應(yīng)信道時就會出現(xiàn)這種情況。在可接受成本范圍內(nèi)(每通道10到100歐元)性能和靈活性方面的選擇可能非常少，性能也有能達(dá)到要求的但成本要1,000歐元每通道。如果在硬件上進(jìn)行折衷，成本將轉(zhuǎn)向軟件開發(fā)，測試工程師必須面對STE在性能上的局限。測試開發(fā)成本不僅因為STE性能不夠而增加，由于缺乏用于測試的語言(在測試儀上用C編程可不是一件有趣的事)、用戶接口以及調(diào)試工具受限等等，簡單軟件結(jié)構(gòu)對測試開發(fā)時間和成本都有不利的影響。

不過STE很常見，尤其是對特定程序如模塊測試，但也應(yīng)該仔細(xì)研究ATE帶來的其它方案，尤其是那些具有開放架構(gòu)優(yōu)點(diǎn)可能改變這一趨勢的系統(tǒng)，內(nèi)部測試資源更應(yīng)該專用于生成測試方案，和設(shè)計專門測試平臺相比這些資源具有更為獨(dú)特的技能與知識。

通用自動測試設(shè)備(GPATE，或簡稱為ATE)是一種非常先進(jìn)靈活的方案，可以滿足多種產(chǎn)品與程序測試要求，從最初出現(xiàn)迄今已有三十多年歷史。當(dāng)微型計算機(jī)控制的儀器出現(xiàn)以后，ATE的結(jié)構(gòu)設(shè)計為直接針對測試需要，系統(tǒng)集成、信號連通靈活性、增值軟硬件、面向測試的語言、圖形用戶界面等是ATE，比如SEICA的VALID S40功能測試平臺，和STE之間的主要區(qū)別。

泰瑞達(dá)公司創(chuàng)始人Alex d'Arbeloff在2002年10月國際測試大會的主題演講中，對廣泛采用開放架構(gòu)趨勢提出批評，認(rèn)為它只是簡單將不同模塊加在一起然后用于所有測試提供商的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架上。他說:"這種方法對ATE業(yè)界沒有什么好處，測試設(shè)備用戶所得到的只是來自于ATE供應(yīng)商提供的系統(tǒng)集成，否則用戶就得自己做或者要另外付費(fèi)。"實際上，基于專用技術(shù)硬軟件架構(gòu)同時也通過向第三方儀器供應(yīng)商與標(biāo)準(zhǔn)開放，這種滿足開放架構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)將很可能成為廠商最佳選擇。

讓我們仔細(xì)看一看現(xiàn)代ATE的架構(gòu)并探討其優(yōu)點(diǎn)。

功能測試ATE是一種商用系統(tǒng)，有很多公司都提供這類設(shè)備，雖然它和普通設(shè)備如在線測試儀或MDA不一樣。功能測試更為復(fù)雜，需要有實力的供應(yīng)商的經(jīng)驗和認(rèn)真投入?？梢栽谑袌錾腺徺I(有時又稱為COTS)有很多優(yōu)點(diǎn)，它使ATE能充分利用供應(yīng)商多年的經(jīng)驗以及NRE投資，這對于ATE供應(yīng)商提供創(chuàng)新新技術(shù)同時又保持現(xiàn)有特性特別有意義。它對軍事/航空產(chǎn)品非常重要，因為這類產(chǎn)品具有較長生命周期，且有很多新舊產(chǎn)品并存同時都要不斷進(jìn)行測試，比如ATE經(jīng)過改進(jìn)可以為低電平器件進(jìn)行可重復(fù)測試，但同時舊的CMOS電平測試仍然需要提供。另一個例子與用于診斷的指引探測技術(shù)有關(guān)，該技術(shù)幾乎不能用于某些新封裝技術(shù)，但你是否會買一個不帶這種功能的測試儀呢?

用于并行測試的數(shù)字通道是ATE主要部分之一，通常使用專用結(jié)構(gòu)，因為它專門設(shè)計用于滿足各種測試要求，速度、控制性能、數(shù)據(jù)深度、整個時序范圍靈活性、寬電壓幅值等等都是需要了解的特性，以便知道它如何方便地使系統(tǒng)滿足每個人的測試需求。串行數(shù)字測試帶有大量協(xié)議，通常由集成到系統(tǒng)內(nèi)部的專門儀器提供，IEEE 1194.2或JTAG/邊界掃描測試技術(shù)也是同樣情況，可以完整集成到綜合測試環(huán)境中。

與STE結(jié)構(gòu)類似，ATE系統(tǒng)結(jié)構(gòu)中集成了很多商用儀器以提供模擬測試功能。這里需要澄清什么叫"集成"。驅(qū)動儀器最簡單的方法是通過在計算機(jī)與儀器之間建立一個雙向通信很容易地實現(xiàn)，使用戶可以與其進(jìn)行交流，但這并不是"集成"，只是一個簡單的接口。這種方式下通過交換字符串或調(diào)用C程序?qū)x器編程，使得任務(wù)冗長而復(fù)雜，同時程序文件編制、程序改變或調(diào)試操作都需要技巧與耐心，此外如果儀器已經(jīng)陳舊需要更換，那么所有程序都需要糾正，通常STE上用戶使用儀器就是采用這種方式。

儀器集成還包括儀器層之間的通信，但用更高層指令保護(hù)編程與調(diào)試，以避免上面的所有問題，例如對任意DMM編程進(jìn)行電壓測量可用如下簡單語句:

MEASURE V at PIN ACK1

TEST (4.9V MIN, 5.1V MAX);

軟件驅(qū)動器可以給ATE提供儀器與附加接口層，語言則保證儀器集成的有效性，系統(tǒng)控制管理DMM和UUT上ACK1引腳之間的連接。

如果因為儀器陳舊改變DMM，只需要一個新的驅(qū)動軟件和協(xié)議層，所有測試程序均保持不變。

除了儀器全面集成帶來的優(yōu)點(diǎn)之外，ATE還能為信號路由和連接提供更好方案。ATE專用背板大多數(shù)情況下包括一個模擬總線，可以讓儀器直接連到任何引腳，而不會使內(nèi)外引線變得復(fù)雜。這種靈活性通常可擴(kuò)展到將模擬和數(shù)字通道合在一起(混合通道)，使用戶在任何時候連接數(shù)字或模擬激勵，并測量接收器任意引腳。其結(jié)果是不僅使成本大大簡化降低，同時測試程序也更易于實現(xiàn)。

ATE的模塊化設(shè)計可使其通用特性在不同項目間完全得到表現(xiàn)，即相同的系統(tǒng)、相同的軟件、相同的培訓(xùn)與文件系統(tǒng)，以及相同的操作。

不管是開發(fā)、生產(chǎn)還是運(yùn)送測試，ATE都可以作為整個流程的一部分，其本身也有一個結(jié)構(gòu)化流程以便達(dá)到最佳使用效果。測試程序編制還包括鏈接到CAE數(shù)據(jù)庫，程序編制不管是人工還是用模擬驅(qū)動，通常都有很好的結(jié)構(gòu)可連接到外部程序資源、并行測試生成部分、圖形編程、無縫修正、文件自生成以及和調(diào)試等的全面鏈接。調(diào)試與運(yùn)行功能包括失效停止、循環(huán)、條件分支、實時改變、模擬與數(shù)字內(nèi)部探測，及所有可以簡化程序員與操作員工作的功能。

簡而言之，ATE和所有其它系統(tǒng)一樣，并不僅僅是部件的簡單相加。

由于觀測者感覺器官鑒別能力有一定的局限性，在儀器安置、照準(zhǔn)、讀數(shù)等方面都會產(chǎn)生誤差。同時觀測者的技術(shù)水平、工作態(tài)度及狀態(tài)都對測量成果的質(zhì)量有直接影響。

每種儀器有一定限度的精密程度，因而觀測值的精確度也必然受到一定的限度。同時儀器本身在設(shè)計、制造、安裝、校正等方面也存在一定的誤差，如鋼尺的刻畫誤差、度盤的偏心等。

觀測時所處的外界條件，如溫度、濕度、大氣折光等因素都會對觀測結(jié)果產(chǎn)生一定的影響。外界條件發(fā)生變化，觀測成果將隨之變化。

上述三方面的因素是引起觀測誤差的主要來源，因此把這三方面因素綜合起來稱為觀測條件。觀測條件的好壞與觀測成果的質(zhì)量有著密切的聯(lián)系。

例如，對某一三角形的三個內(nèi)角進(jìn)行觀測，其和不等于180';又如所測閉合水準(zhǔn)路線的高差閉合差不等于零，這說明觀測值中包含有觀測誤差。研究觀測誤差的來源及其規(guī)律，采取各種措施消除或減小其誤差影響，是測量工作者的一項主要任務(wù)。

測量的精度高，測量誤差就小;反之，精度低，誤差就大。測量誤差的大小決定于所用儀器的質(zhì)量、觀測者的操作水平和觀測時的環(huán)境等因素，這些因素統(tǒng)稱為觀測條件。若觀測條件相同，則可認(rèn)為等精度觀測。反之，稱為不等精度觀測。

1.進(jìn)行各類誤差的判別與原因分析;

2.進(jìn)行誤差的計算和比較;

3.運(yùn)用誤差傳播定律進(jìn)行相關(guān)分析計算。

本單元主要學(xué)習(xí)測量誤差的相關(guān)知識，誤差分類與成因、誤差確定方法。

書 名:電子測量技術(shù)

定 價:￥21.00

作 者:孟鳳果

出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社

層次:高職高專

出版時間:2012-1-1

I S B N:9787111344865

本書根據(jù)目前高職教育的特點(diǎn)，從電子測量技術(shù)的實際應(yīng)用出發(fā)，簡明扼要地介紹了電子測量技術(shù)及常用電子測量儀器的使用技術(shù)，并有重點(diǎn)地討論了相關(guān)儀器的正確操作方法和典型應(yīng)用。每章后附有相關(guān)實驗內(nèi)容，這些實驗題目選題典型、可操作性強(qiáng)，通過實驗操作能使學(xué)生更好地掌握相關(guān)知識。

全書共分為9章，主要內(nèi)容包括電子測量的基本知識，信號發(fā)生器、電子示波器及測量技術(shù)、電壓測量技術(shù)、時間與頻率測量技術(shù)、掃頻儀與晶體管特性圖示儀和數(shù)字集成電路測試儀、數(shù)據(jù)域測量技術(shù)、計算機(jī)仿真測量技術(shù)以及電子儀器的發(fā)展趨勢和自動測試系統(tǒng)。

本書可供高職高專電子技術(shù)應(yīng)用類專業(yè)使用，也可供從事電子技術(shù)應(yīng)用類工作的工程技術(shù)人員參考和作為職業(yè)技術(shù)工人的培訓(xùn)教材。

為方便教學(xué)，本書配有電子教案、電子課件、習(xí)題參考答案、模擬試卷等

第2版前言

第1章 電子測量的基本知識

1.1概述

1.1.1電子測量的內(nèi)容

1.1.2電子測量的特點(diǎn)

1.2電子測量的分類

1.2.1按測量手段分類

1.2.2按測量性質(zhì)分類

1.3電子測量實驗室的常識

1.3.1電子測量實驗室的環(huán)境條件

1.3.2電子測量儀器的組成

1.3.3電子測量儀器的接地

1.3.4電子測量儀器的主要技術(shù)指標(biāo)

1.4計量的基本概念

1.4.1計量器具

1.4.2單位制

1.5測量誤差的基本概念

1.5.1測量誤差的表示方法

1.5.2測量誤差的來源與分類

1.6誤差的合成

1.6.1和、差函數(shù)的合成誤差

1.6.2積函數(shù)的合成誤差

1.6.3商函數(shù)的合成誤差

1.6.4和、差、積、商函數(shù)的合成誤差

1.7測量結(jié)果的處理

1.7.1數(shù)據(jù)處理

1.7.2圖解分析法

本章小結(jié)

練習(xí)題

第2章 信號發(fā)生器

2.1概述

2.1.1信號發(fā)生器的分類

2.1.2信號發(fā)生器的一般組成

2.1.3信號發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)

2.2低頻信號發(fā)生器

2.2.1低頻信號發(fā)生器的組成與原理

2.2.2低頻信號發(fā)生器的主要性能指標(biāo)

2.2.3低頻信號發(fā)生器的使用方法

2.2.4低頻信號發(fā)生器在測量放大倍數(shù)時的應(yīng)用

2.3高頻信號發(fā)生器

2.3.1高頻信號發(fā)生器的組成與原理

2.3.2高頻信號發(fā)生器的主要性能指標(biāo)

2.3.3高頻信號發(fā)生器在調(diào)收音機(jī)中頻時的應(yīng)用

2.3.4鎖相技術(shù)簡介

2.4函數(shù)信號發(fā)生器

2.4.1 函數(shù)信號發(fā)生器的組成與原理

2.4.2正弦波形成電路

2.4.3函數(shù)信號發(fā)生器的性能指標(biāo)

本章小結(jié)

綜合實驗

實驗一低頻信號發(fā)生器的使用

實驗二高頻信號發(fā)生器的使用

練習(xí)題

第3章 電子示波器及測量技術(shù)

3.1概述

3.1.1電子示波器的特點(diǎn)

3.1.2電子示波器的類型

3.2示波管及波形顯示原理

3.2.1示波管

3.2.2波形顯示原理

3.3通用電子示波器

3.3.1通用電子示波器的基本組成

3.3.2示波器的垂直系統(tǒng)(y軸系統(tǒng))

3.3.3示波器的水平系統(tǒng)(X軸系統(tǒng)

3.3.4主機(jī)系統(tǒng)(Z軸系統(tǒng))

3.4通用電子示波器的使用

3.4.1示波器的選擇

3.4.2示波器的正確使用

3.5 SR8型示波器的面板圖

……

第4章 電壓測量技術(shù)

第5章 時間與頻率測量技術(shù)

第6章 掃頻儀與晶體管特性圖示儀和數(shù)學(xué)集成電路測試儀

第7章 數(shù)據(jù)域測量技術(shù)

第8章 計算機(jī)仿真測量技術(shù)

第9章 電子儀器的發(fā)展趨勢和自動測試系統(tǒng)

參考文獻(xiàn)

書 名:電子測量技術(shù)

層 次:高職高專

配 套:電子課件

作 者:李延廷

出版社: 機(jī)械工業(yè)出版社

出版時間:2011-07-27

ISBN:978-7-111-27309-7

開本: 16開

定價:￥22.0

內(nèi)容簡介

本書共8章，主要內(nèi)容包括電子測量概述、簡單電子測量儀器、信號發(fā)生器、信號示波測量技術(shù)、電子元器件和電路特性的測量、數(shù)據(jù)域測量技術(shù)、電路仿真測量技術(shù)及自動測量技術(shù)。同時，為了便于教學(xué)、自學(xué)和自我檢測，各章都含有學(xué)習(xí)目標(biāo)、小結(jié)、習(xí)題和實訓(xùn)項目，在本書最后還提供了各章習(xí)題的參考答案。 本書具有較強(qiáng)的系統(tǒng)性、實用性和先進(jìn)性，注重科學(xué)性與通俗性的有機(jī)結(jié)合，盡量淡化復(fù)雜的理論分析，強(qiáng)調(diào)對學(xué)生實踐能力的培養(yǎng)。

目錄

前言

第1章 電子測量概述

1.1 電子測量的意義

1.2 電子測量的特點(diǎn)

1.3 電子測量的內(nèi)容

1.4 電子測量的方法

1.5 電子測量儀器的分類

1.6 電子測量常識

1.7 測量誤差的基本概念

1.7.1 測量誤差的表示方法

1.7.2 測量誤差的產(chǎn)生原因和分類

1.8 測量結(jié)果的處理

1.8.1 有效數(shù)字的處理

1.8.2 測量數(shù)據(jù)的表示方法

本章小結(jié)

習(xí)題一

第2章 簡單電子測量儀器

2.1 數(shù)字萬用表

2.1.1 數(shù)字萬用表的組成

2.1.2 數(shù)字萬用表的特點(diǎn)及主要技術(shù)指標(biāo)

2.1.3 數(shù)字萬用表實例

2.2 電容電感表

2.2.1 電容電感表的組成

2.2.2 電容電感表實例

2.3 晶體管毫伏表

2.3.1 晶體管毫伏表的組成

2.3.2 晶體管毫伏表實例

2.4 超高頻毫伏表

2.4.1 超高頻毫伏表的組成

2.4.2 超高頻毫伏表實例

2.5 數(shù)字頻率計

2.5.1 數(shù)字頻率計的組成

2.5.2 數(shù)字頻率計的主要測量功能

2.5.3 數(shù)字頻率計實例

2.6 實訓(xùn)1:基本電學(xué)量的測量

2.7 實訓(xùn)2:數(shù)字頻率計的使用

本章小結(jié)

習(xí)題二

第3章 信號發(fā)生器

3.1 信號發(fā)生器的組成和分類

3.1.1 信號發(fā)生器的基本組成

3.1.2 信號發(fā)生器的分類

3.1.3 信號發(fā)生器的主要性能指標(biāo)

3.2 低頻信號發(fā)生器

3.2.1 低頻信號發(fā)生器的組成

3.2.2 低頻信號發(fā)生器實例

3.3 高頻信號發(fā)生器

3.3.1 高頻信號發(fā)生器的組成

3.3.2 高頻信號發(fā)生器的分類

3.3.3 高頻信號發(fā)生器實例

3.4 函數(shù)信號發(fā)生器

3.4.1 函數(shù)信號發(fā)生器的基本組成

3.4.2 函數(shù)信號發(fā)生器實例

3.5 電視信號發(fā)生器

3.5.1 電視信號發(fā)生器的組成

3.5.2 電視信號發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)

3.5.3 電視信號發(fā)生器的使用方法

3.6 實訓(xùn)1:低頻信號發(fā)生器的使用

3.7 實訓(xùn)2:高頻信號發(fā)生器的使用

3.8 實訓(xùn)3:函數(shù)信號發(fā)生器的使用

3.9 實訓(xùn)4:電視信號發(fā)生器的使用

本章小結(jié)

習(xí)題三

第4章 信號示波測量技術(shù)

第5章 電子元器件和電路特性的測量

第6章 數(shù)據(jù)域測量技術(shù)

第7章 電路仿真測量技術(shù)

第8章 自動測量技術(shù)

習(xí)題參考答案

參考文獻(xiàn)

《電子測量技術(shù)基礎(chǔ)(第2版)》重點(diǎn)講述了電子測量的基本概念，主要物理量(電壓、頻率、時間、相位)、元件參數(shù)、阻抗、噪聲等的基本測量原理、測量方法及常規(guī)儀器(示波器、信號源、計數(shù)器等)的工作原理和操作使用，并對數(shù)據(jù)域測量、智能測量系統(tǒng)、虛擬儀器這些體現(xiàn)現(xiàn)代高科技的測量技術(shù)與儀器在《電子測量技術(shù)基礎(chǔ)(第2版)》的最后一章作了適度的介紹。

《電子測量技術(shù)基礎(chǔ)(第2版)》編寫思路清晰，概念和原理講述透徹，深入淺出，通俗易懂，方法明了實用，必要的數(shù)學(xué)推導(dǎo)簡明扼要，結(jié)論明確醒目。各章末配有小結(jié)與難度適中的習(xí)題，書末配有部分習(xí)題的參考答案。

《電子測量技術(shù)基礎(chǔ)(第2版)》既可作為高等工業(yè)院校測控技術(shù)與儀器、通信工程、電子信息工程、探測制導(dǎo)與控制技術(shù)、智能科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)學(xué)生的教學(xué)用書，也可作為從事電類專業(yè)的工程技術(shù)人員的參考書。