第1章 光彈性原理與數(shù)據(jù)測定
1.1 概述
1.2 光彈性中的應力一光性定律
1.3 平面偏振光通過受力模型后的光效應
1.4 圓偏振光通過受力模型后的光效應
1.5 整數(shù)級等差線的觀測
1.6 小數(shù)級次等差線的觀測
1.7 等傾線的觀測
1.8 主應力跡線
第2章 平面光彈性
2.1 概述
2.2 邊界應力的大小和符號的確定
2.3 應力集中及應力集中系數(shù)的確定
2.4 內部應力的確定
第3章 光彈性模型材料及模型制作
3.1 概述
3.2 制造環(huán)氧樹脂模型的材料
3.3 制造模型的模具
3.4 光彈性模型的澆鑄工藝
3.5 常溫下模型材料主要性質的測定
3.6 凍結溫度下模型材料的主要性質
3.7 聚碳酸酯光彈性材料
第4章 三向光彈性
4.1 概述
4.2 凍結應力
4.3 次主應力
4.4 三向模型自由表面應力的測定
4.5 三向模型在任意載荷作用下內部應力的確定
4.6 工程實例
4.7 實驗誤差的來源與提高實驗精度的措施
第5章 光彈性貼片法
5.1 概述
5.2 反射式光彈性儀
5.3 貼片中的光學效應及構件表面主應力(或主應變)的測定
5.4 貼片的主應力(或主應變)的分離方法
5.5 貼片厚度給貼片應變指示數(shù)帶來的誤差及其修正
5.6 貼片材料與粘貼工藝
5.7 例題
第6章 光彈性散光法
6.1 概述
6.2 光通過未受力模型的散射現(xiàn)象
6.3 散光法的應力一光性定律
6.4 平面偏振光入射時的散射光強
6.5 散光光彈儀
6.6 例題
第7章 云紋法
7.1 概述
7.2 面內位移的測量
7.3 離面位移的測量--投影云紋法
第8章 模型相似理論
8.1 概述
8.2 量綱分析
8.3 彈性構件大變形下的應力相似問題
8.4 彈性構件大變形下的位移和應變相似問題
8.5 彈性構件小變形(即線性變形)下的應力相似問題
8.6 彈性構件小變形(即線性變形)下的位移和應變相似問題
8.7 不同種類載荷作用下線性構件的應力、位移和應變的相似關系
8.8 廣義相似
第9章 全息干涉法
9.1 概述
9.2 全息照相
9.3 雙曝光全息干涉法測量位移
9.4 時間平均全息干涉法測量振幅和振型
9.5 全息光彈性
第10章 散斑干涉法
10.1 概述
10.2 散斑的形成
10.3 單光束散斑干涉法--面內位移的測量
10.4 雙光束散斑干涉法
10.5 剪切(或錯位)散斑干涉法
第11章 電子散斑干涉法和數(shù)字散斑相關法
11.1 電子散斑干涉法
11.2 數(shù)字散斑相關法
第12章 云紋干涉法
12.1 概述
12.2 透射式云紋干涉法
12.3 反射式云紋干涉法
12.4 柵線頻率的測量
第13章 光力學圖像的采集與處理技術
13.1 概述
13.2 圖像與圖像的采集系統(tǒng)
13.3 光力學干涉圖像的圖像處理
13.4 光干涉圖像的預處理
13.5 骨架線的提取
13.6 骨架線的修飾
13.7 圖像處理技術在云紋干涉圖像中的應用
第14章 動態(tài)光力學方法
14.1 概述
14.2 動態(tài)光彈性法
14.3 脈沖激光干涉法
附錄A 光學基礎
A.1 光矢量的振動方程
A.2 光矢量的波動方程
A.3 光的干涉
A.4 白光和單色光
A.5 自然光和平面偏振光
A.6 光的雙折射
A.7 四分之一波片
A.8 圓偏振光
附錄B Jones向量和Jones矩陣
B.1 概述
B.2 用Jones向量表示各種偏振光
B.3 用Jones矩陣表示各種光學器件
B.4 Jones向量和矩陣在光彈性中的應用
參考文獻
全書分成十四章和兩個附錄,內容包括:二維和三維光彈性、光彈性貼片法、光彈性散光法、云紋法、模型相似律、全息干涉法、散斑干涉法;電子散斑干涉法、數(shù)字散斑相關法、云紋干涉法、光力學圖像的采集與處理技術、動態(tài)光力學方法等;在附錄中還包括了光學基礎與Jones向量和Jones矩陣等內容。
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光力學原理及測試技術基本信息
作 者:佟景偉 主編;李鴻琦 副主編
版 次:1字 數(shù):326000 印刷時間:2009-3-1開 本:16開紙 張:膠版紙 印 次:1I S B N:9787030236784包 裝:精裝
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陶瓷材料力學性能測試技術
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《智能變電站原理及測試技術》以智能變電站工程技術應用為主線,系統(tǒng)闡述了智能變電站的原理和測試技術,包括智能變電站概述,IEC61850協(xié)議體系介紹,電子式互感器原理及測試技術,過程層原理及測試技術,站控層原理及測試技術,智能變電站對時、同步原理及其測試技術,變電站智能狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng),物聯(lián)網在智能變電站的應用,智能變電站工程測試技術,常用測試儀器及軟件等內容。
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本書以光電測試方法為主線,較全面地介紹了在光電測試技術中所涉及的基本理論和概念、主要測試原理、測試方法、儀器組成和主要技術特點。
本書除緒論外共8章,緒論介紹了光電測試技術的發(fā)展歷史、概況、特點,以及在光電測試技術中的數(shù)據(jù)處理方法;第1章介紹了光電測試技術中的光輻射體和光輻射探測器的基本性能和特點;第2章介紹了光學系統(tǒng)性能的測試技術;第3章介紹了光學元件特性的測試技術;第4章介紹了色度學的基本原理和色度測試技術;第5~7章介紹了激光測試技術,包括激光準直、測速、測距以及干涉、衍射測試技術;第8章介紹了技術成熟應用廣泛的莫爾條紋、圖像測試、光纖傳感、層析探測、共焦掃描顯微技術及納米技術中的光電測試技術等。
上述光電測試技術廣泛地應用于工業(yè)、農業(yè)、文教、衛(wèi)生、國防、科研和家庭生活等各個領域。
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