中文名 | 離子遷移 | 外文名 | ion migration |
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定????義 | 另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降 | 產(chǎn)生原因 | 絕緣性能下降 |
離子質(zhì)譜方法 | 產(chǎn)生氣態(tài)離子團(tuán) |
離子遷移影響因素
發(fā)生這一現(xiàn)象的條件是在潮濕環(huán)境下,絕緣體表面或內(nèi)部有形成電解質(zhì)物質(zhì)的潛在因素。包括絕緣體本身的種類,構(gòu)成,添加物,纖維性能,樹(shù)脂性能等。
從基板的構(gòu)成因素來(lái)看,分為三個(gè)方面:
一是樹(shù)脂方面,樹(shù)脂的組成,官能團(tuán),固化程度 ,離子濃度(雜質(zhì)、水解性能等),吸濕性;
二是纖維方面:玻璃纖維的密度,有機(jī)纖維的吸潮性;
三是加工條件方面:通孔的條件(有無(wú)電鍍液殘留),層積條件(樹(shù)脂間粘合性),加工工藝殘留物(粗化、電鍍等的殘液)。
從線路板表面的誘因來(lái)看,因素就更多一些,除基板因素外,還有基板上所安裝的元件和金屬構(gòu)件在電鍍孔隙中留下的未能洗凈的電解質(zhì),焊料,膠類,易發(fā)生電解的物質(zhì),灰塵等離子污染,結(jié)露等。
從更深入的研究來(lái)看,線路和結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)也與是否發(fā)生離子遷移故障有關(guān)連。因?yàn)榫€路板上的電場(chǎng)分布和易氧化金屬材料所帶的電的極性,是與線路和結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)有關(guān)的。其中線路間距和線路間所存在的直流電場(chǎng)與發(fā)生離子遷移有直接的關(guān)系,當(dāng)兩相鄰近的線路間有直流電場(chǎng)存在,包括同相電流間的電位差的存在,在潮濕條件下,極易發(fā)生處于陽(yáng)極狀態(tài)的金屬的離子化并向相對(duì)的陰極遷移。這同時(shí)與安裝在線路中的元件和器件所用的金屬材料的物理性能也有關(guān)系。比如金屬的離子化能、離子的水解性以及離子的遷移度等,都對(duì)離子遷移的發(fā)生有很大影響。
離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場(chǎng)作用下的移動(dòng)速度稱之為離子遷移率,它是分辨被測(cè)離子直徑大小的一個(gè)重要參數(shù)。空氣離子直徑越小,其遷移速度就越快。 離子遷移率是表達(dá)被測(cè)離子大小的重要參數(shù)。離子運(yùn)動(dòng)速度與離子直徑成反比,而離子遷移率與離子運(yùn)動(dòng)速度成正比,故離子遷移率與離子直徑成負(fù)比。
產(chǎn)生離子遷移的原因,是當(dāng)絕緣體兩端的金屬之間有直流電場(chǎng)時(shí),這兩邊的金屬就成為兩個(gè)電極,其中作為陽(yáng)極的一方發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣體向另一邊的金屬(陰極)遷移。從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然,這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導(dǎo)體而造成短路故障。
鈦的重要化合物主要包括氧化物、鈦酸、偏鈦酸及其鹽,還有就是鹵化物及含氧酸。氧化物: TiO2(自然界中稱金紅石,為紅色或桃紅色。純凈的TiO2稱為鈦白粉為白色) Ti2O3(紫色粉末,六方晶系結(jié)構(gòu)...
會(huì)反應(yīng),生成白色的絮狀物
1、安裝操作前須看產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)。2、連接高壓電源供應(yīng)器的插座必須可靠接地。3、易燃易爆的環(huán)境下不可操作離子風(fēng)槍。4、不得擅自進(jìn)行修理。5、使用離子風(fēng)槍要輕拿輕放。
所謂離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。
為了研究產(chǎn)生離子遷移故障的機(jī)理,在實(shí)驗(yàn)中要模擬離子的遷移過(guò)程。通常采用的方法有兩種,
一種是蒸氣試驗(yàn)法。這是將被測(cè)試片放入盛有過(guò)飽和鹽溶液的容器內(nèi),以高濕度和一定溫度下使試片發(fā)生離子遷移現(xiàn)象,然后通過(guò)與試片聯(lián)接的超絕緣電阻器對(duì)試片的絕緣性能的變化進(jìn)行測(cè)量。
另一種方法是水溶液試驗(yàn)方法,所用試片是金屬電極,比如銀電極。將兩個(gè)電極放在玻璃板上,再在上面壓一層透明有機(jī)玻璃板,兩個(gè)電極分別與電源的正副極相聯(lián),在電極間滴入去離子水,模擬結(jié)露狀態(tài)再用相機(jī)拍下在電場(chǎng)作用下不同時(shí)間、不同條件下的電遷移情形。
用這種方法可以直觀地觀測(cè)到離子遷移的物理形態(tài),可以測(cè)到不同時(shí)間下絕緣電阻的變化,直到兩電極間最終形成短路。
離子遷移所造成的故障主要是使印刷PCB的電絕緣性能下降,嚴(yán)重的則是引起線路間的短路,以致于發(fā)生燒毀電器甚至于引起火災(zāi)。這種故障在線間距離趨小的情況下有增長(zhǎng)的可能,因而引起關(guān)注。日本在 1995-1998 年 4 年期間家電所發(fā)生的設(shè)計(jì)和制造方面的故障有 284 起 , 其中因PCB發(fā)熱起火的有8起 , 這8次起火事故中有4起是離子遷移引起的。另外,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無(wú)法加以確定。
防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥,但是PCB制作工藝也十分重要。都已經(jīng)很少用到紙質(zhì)的樹(shù)脂板,并且非常重視防止化學(xué)污染。在所用的電子化學(xué)品中,最容易被忽視的是焊劑,所用的焊劑一般由天然或合成樹(shù)脂、有機(jī)胺酸或有機(jī)磺酸及其鹽、有機(jī)溶劑等組成。這些有機(jī)物特別是有機(jī)酸殘留在PCB上,在潮濕條件下會(huì)成為電解質(zhì)而引發(fā)電遷移。因此,選擇和使用合適的焊劑是十分重要的。應(yīng)選用疏水性強(qiáng)的有機(jī)酸和不含鹵素離子的鹽類做活性劑,并要避免其在PCB上的殘留。尤其在采用無(wú)清洗工藝的時(shí)候,這是更為重要的提示。
由于早期的線路板線間距比較寬,發(fā)生這種故障的幾率很小,并且只有在高溫潮濕的條件下才有發(fā)生的可能,因此這一現(xiàn)象沒(méi)有引起重視。
最早對(duì)這一現(xiàn)象進(jìn)行研究的是美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室的 kohman 等人,他們發(fā)現(xiàn)在電話交換機(jī)的連接件中,有些鍍?cè)阢~接線柱上的銀在酚醛樹(shù)脂基板內(nèi)有檢出,他們證實(shí)是銀離子的遷移。這種現(xiàn)象有時(shí)會(huì)引起基板的絕緣性能下降。其發(fā)生的原因可能是在直流電壓下受潮的鍍層發(fā)生離子化而引起的。經(jīng)研究發(fā)現(xiàn),除了銀外,鋁、錫都有類似現(xiàn)象。但是很長(zhǎng)一個(gè)時(shí)期幾乎沒(méi)有人關(guān)注這方面的研究。直到二十世紀(jì)七十年代,有關(guān)這方面的研究又開(kāi)始引起人們的注意。這時(shí)以陶瓷為基板的高密度印刷線路板和覆銅線路板開(kāi)始向小型化方向發(fā)展,使對(duì)基板材質(zhì)的研究有所發(fā)展,使得又有人開(kāi)始注意到離子遷移對(duì)基板絕緣性能的影響。
這些研究大多數(shù)還只是局限在西方,并且論著并不多見(jiàn)。到了二十世紀(jì)八十年代特別是九十年代以來(lái),日本也開(kāi)始關(guān)注這一課題,關(guān)于這方面的研究報(bào)告也多起來(lái)。由于沒(méi)有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn),這些研究的重現(xiàn)性欠佳,所得的結(jié)論也有所差異。
離子遷移譜(ion mobiIity spectrometry,IMS),也稱離子遷移率譜,是在 20 世紀(jì) 70 年代初出現(xiàn)的一種新的氣相分離和檢測(cè)技術(shù)。它以離子漂移時(shí)間的差別來(lái)進(jìn)行離子的分離定性,借助類似于色譜保留時(shí)間的概念,起初被稱為等離子體色譜。在早期的研究工作中,IMS裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單和靈敏度高的特點(diǎn)引起了人們極大的興趣。IMS技術(shù)發(fā)展初期主要是在爆炸物和毒劑的檢測(cè)方面,并于 20世紀(jì) 80 年代初研制出軍用現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)儀器。但是因?yàn)槠浞直媛实偷娜秉c(diǎn)和當(dāng)時(shí)對(duì)大氣壓力下離子化的特性了解不多,民用方面的發(fā)展緩慢。進(jìn)入 20世紀(jì) 90 年代,隨著公開(kāi)發(fā)表文獻(xiàn)的增多和商品化的離子遷移譜儀的推出,國(guó)際上研究 IMS 技術(shù)的機(jī)構(gòu)和研究人員逐漸增多。近年來(lái)反恐稽毒的需求極大地促進(jìn)了現(xiàn)場(chǎng)高靈敏、高選擇性檢測(cè)設(shè)備的發(fā)展。IMS特別適合于一些揮發(fā)性有機(jī)化合物的痕量探測(cè),如化學(xué)戰(zhàn)劑、毒品、爆炸物和大氣污染物等,已經(jīng)廣泛地應(yīng)用在機(jī)場(chǎng)安檢和戰(zhàn)地勘查,并在環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)生產(chǎn)等方面有應(yīng)用 。2100433B
離子遷移所造成的故障主要是使印刷PCB的電絕緣性能下降,嚴(yán)重的則是引起線路間的短路,以致于發(fā)生燒毀電器甚至于引起火災(zāi)。這種故障在線間距離趨小的情況下有增長(zhǎng)的可能,因而引起關(guān)注。日本在 1995-1998 年 4 年期間家電所發(fā)生的設(shè)計(jì)和制造方面的故障有 284 起 , 其中因PCB發(fā)熱起火的有8起 , 這8次起火事故中有4起是離子遷移引起的。另外,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無(wú)法加以確定。
防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥,但是PCB制作工藝也十分重要?,F(xiàn)在都已經(jīng)很少用到紙質(zhì)的樹(shù)脂板,并且非常重視防止化學(xué)污染。在所用的電子化學(xué)品中,最容易被忽視的是焊劑,現(xiàn)在所用的焊劑一般由天然或合成樹(shù)脂、有機(jī)胺酸或有機(jī)磺酸及其鹽、有機(jī)溶劑等組成。這些有機(jī)物特別是有機(jī)酸殘留在PCB上,在潮濕條件下會(huì)成為電解質(zhì)而引發(fā)電遷移。因此,選擇和使用合適的焊劑是十分重要的。應(yīng)選用疏水性強(qiáng)的有機(jī)酸和不含鹵素離子的鹽類做活性劑,并要避免其在PCB上的殘留。尤其在采用無(wú)清洗工藝的時(shí)候,這是更為重要的提示。
一種產(chǎn)生離子質(zhì)譜信息的方法,包括下列步驟:產(chǎn)生氣態(tài)離子團(tuán);沿第一軸及時(shí)分離氣態(tài)離子團(tuán),形成多個(gè)離子組,各離子組具有與其相關(guān)的單一離子遷移率;沿垂直于第一軸的第二軸順序地及時(shí)分離至少一些離子組,形成多個(gè)離子小組,各離子小組具有與其相關(guān)的單一離子質(zhì)量;和處理至少一些離子小組,由此確定質(zhì)量的特定信息。
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鍍鉻污水離子遷移法處理設(shè)備是北京銀燕環(huán)保設(shè)備工程公司開(kāi)發(fā)的一種新型槽邊循環(huán)處理設(shè)備。該設(shè)備在處理過(guò)程中僅消耗電能,不需使用任何化學(xué)藥劑,使用方便,維護(hù)簡(jiǎn)單?;厥盏你t酸濃度高,可直接回用于鍍槽。
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本文提出利用IMA測(cè)量介質(zhì)膜中可動(dòng)離子漂移遷移率的新方法,并用該方法測(cè)量了熔凝玻璃膜中Na~+漂移遷移率,研究了Na~+遷移率與溫度的關(guān)系。
銀離子遷移或簡(jiǎn)稱銀遷移(Silver Migration)現(xiàn)象是指在存在直流電壓梯度的潮濕環(huán)境中,水分子滲入含銀導(dǎo)體表面電解形成氫離子和氫氧根離子:
H2O→H++OH-
銀在電場(chǎng)及氫氧根離子的作用下,離解產(chǎn)生銀離子,并產(chǎn)生下列可逆反應(yīng):
在電場(chǎng)的作用下,銀離子從高電位向低電位遷移,并形成絮狀或枝蔓狀擴(kuò)展,在高低電位相連的邊界上形成黑色氧化銀。通過(guò)著名的水滴試驗(yàn)可以很清楚地觀察到銀遷移現(xiàn)象。水滴試驗(yàn)十分簡(jiǎn)單,在相距很近的含銀的導(dǎo)體間滴上水滴,同時(shí)加上直流偏置電壓就可以觀察到銀離子遷移現(xiàn)象。筆者試驗(yàn)中導(dǎo)體間距為偏置電壓為5V。加蒸餾水滴樣品起始電流為0.08mA,20min后銀遷移發(fā)生形成導(dǎo)通。加自來(lái)水滴時(shí)起始電流為0.15mA,10min后形成導(dǎo)通。在厚膜電路陶瓷基板上,和PCB上均可觀察到銀遷移現(xiàn)象。
銀離子的遷移會(huì)造成無(wú)電氣連接的導(dǎo)體間形成旁路,造成絕緣下降乃至短路。除導(dǎo)體組份中含銀外,導(dǎo)致銀遷移產(chǎn)生的因素還有:基板吸潮;相鄰近導(dǎo)體間存在直流電壓,導(dǎo)體間隔愈近,電壓愈高愈容易產(chǎn)生;偏置時(shí)間;環(huán)境濕度水平;存在離子或有沾污物吸附;表面涂覆物的特性等。
銀遷移造成旁路引起失效有以下特征:
在高濕存在偏壓的情況下產(chǎn)生;銀離子遷移發(fā)生后在導(dǎo)體間留下殘留物,在干燥后仍存在旁路電阻,但其伏-安特性是非線性的,同時(shí)具有不穩(wěn)定和不可重復(fù)的特點(diǎn)。這與表面有導(dǎo)電離子沾污的情況相類似。
銀遷移是一個(gè)早已為業(yè)界所熟知的現(xiàn)象,是完全可預(yù)防的:在布局、布線設(shè)計(jì)時(shí)避免線間距相鄰導(dǎo)體間直流電位差過(guò)高;制造表面保護(hù)層避免水汽滲入含銀導(dǎo)體。對(duì)產(chǎn)品使用環(huán)境特別嚴(yán)酷的(如接近100%RH,85℃)可將整個(gè)電路板浸封或涂覆來(lái)進(jìn)行保護(hù)。此外,焊接后清洗基板上助焊劑殘留物,亦可防止表面有導(dǎo)電離子沾污。
硝酸銀顯色法常用來(lái)測(cè)定水泥基材料中氯離子的滲透深度,文獻(xiàn)中報(bào)道的測(cè)試的變色邊界處氯離子濃度在很大的范圍內(nèi)波動(dòng),其氯離子分析測(cè)試的過(guò)程也很復(fù)雜。本項(xiàng)目通過(guò)各種因素對(duì)硝酸銀顯色反應(yīng)機(jī)理和動(dòng)力學(xué)過(guò)程、水泥基材料的顏色對(duì)顯色的影響及取樣過(guò)程的系統(tǒng)研究,澄清顯色反應(yīng)機(jī)理及各種因素對(duì)顯色反應(yīng)的影響,找出簡(jiǎn)單的確定在不同環(huán)境和條件下變色邊界處氯離子濃度的方法。用簡(jiǎn)單的硝酸銀顯色法來(lái)取代現(xiàn)在通用的混凝土切片加化學(xué)分析的復(fù)雜過(guò)程,然后基于菲克第二定律來(lái)計(jì)算混凝土中氯離子的表觀遷移系數(shù)。此法不僅可用于實(shí)驗(yàn)室中混凝土中氯離子遷移的測(cè)試和研究,還可用來(lái)對(duì)在氯離子環(huán)境中現(xiàn)有鋼筋混凝土結(jié)構(gòu)進(jìn)行隨時(shí)監(jiān)控、評(píng)估及壽命預(yù)測(cè)。
通過(guò)理論計(jì)算和試驗(yàn)研究確定了精確的氯離子變色邊界自由氯離子濃度范圍, 同時(shí)對(duì)水泥基材料中自由氯離子濃度測(cè)量方法及表面氯離子濃度進(jìn)行理論分析與試驗(yàn)研究,并對(duì)硝酸銀顯色法測(cè)量非穩(wěn)態(tài)電遷移系數(shù)進(jìn)行了誤差評(píng)估,最后對(duì)硝酸銀顯色法測(cè)量自然擴(kuò)散條件下氯離子表觀擴(kuò)散系數(shù)進(jìn)行了理論基礎(chǔ)及試驗(yàn)應(yīng)用研究。發(fā)明了一種混凝土切削取樣機(jī),填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)該種功能儀器的空白。取樣安全、衛(wèi)生及快捷,較國(guó)外類似功能儀器更經(jīng)濟(jì),切削刀具成本低廉很多。建立水泥基材料中氯離子吸附雙電層模型,通過(guò)相關(guān)實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)量,計(jì)算出壓濾孔溶液濃度。結(jié)果表明孔溶液氯離子濃度并不存在所謂的“濃縮”,所謂“濃縮”是由于壓濾改變了水泥基材料雙電層溶液氯離子濃度引起測(cè)量結(jié)果升高的現(xiàn)象??紤]氯離子表觀擴(kuò)散系數(shù)計(jì)算方法及表面氯離子濃度變化規(guī)律,理論分析了硝酸銀顯色法精確測(cè)量氯離子表觀擴(kuò)散系數(shù)的關(guān)鍵問(wèn)題。試驗(yàn)結(jié)果表明當(dāng)表層氯離子濃度與浸泡液氯離子濃度相近時(shí),硝酸銀顯色法測(cè)量的表觀擴(kuò)散系數(shù)與NT Build443方法測(cè)量的表觀系數(shù)十分相近。 2100433B