mock測(cè)試

術(shù)語(yǔ)“負(fù)載測(cè)試”在測(cè)試文獻(xiàn)資料中通常都被定義為給被測(cè)系統(tǒng)加上它所能操作的最大任務(wù)數(shù)的過(guò)程。負(fù)載測(cè)試有時(shí)也會(huì)被稱為“容量測(cè)試”，或者“耐久性測(cè)試/持久性測(cè)試”。 容量測(cè)試的例子：

通過(guò)編輯一個(gè)巨大的文件來(lái)測(cè)試文字處理軟件；

通過(guò)發(fā)送一個(gè)巨大的作業(yè)來(lái)測(cè)試打印機(jī)；

通過(guò)成千上萬(wàn)的用戶郵箱來(lái)測(cè)試郵件服務(wù)器；

有一種比較特別的容量測(cè)試是叫作“零容量測(cè)試”，它是給系統(tǒng)加上空任務(wù)來(lái)測(cè)試的。 耐久性測(cè)試/持久性測(cè)試的的例子：在一個(gè)循環(huán)中不停的運(yùn)行客戶端超過(guò)一個(gè)擴(kuò)展時(shí)間段。

負(fù)載測(cè)試的目的：

找到一些在測(cè)試流程中前面的階段所進(jìn)行的粗略測(cè)試中沒(méi)有被找出的bugs，例如，內(nèi)存管理bugs，內(nèi)存泄露，緩沖器溢出等等。保證應(yīng)用程序達(dá)到性能測(cè)試中確定的性能基線。這個(gè)可以在運(yùn)行回歸試驗(yàn)時(shí)，通過(guò)加載特定的最大限度的負(fù)載來(lái)實(shí)現(xiàn)。盡管性能測(cè)試和負(fù)載測(cè)試似乎很像，但他們的目的還是有差異的。一

方面，性能測(cè)試使用負(fù)載測(cè)試的技術(shù)，工具，以及用不同的負(fù)載程度來(lái)測(cè)度和基準(zhǔn)化系統(tǒng)。在另一方面來(lái)講，負(fù)載測(cè)試是在一些已經(jīng)定義好的負(fù)載程度上進(jìn)行測(cè)試的，通常對(duì)系統(tǒng)加上最大負(fù)載之后，系統(tǒng)應(yīng)該仍然可以提供全部功能。這里需要明確一點(diǎn)，負(fù)載測(cè)試并不是要對(duì)系統(tǒng)加載上過(guò)度的負(fù)載而使系統(tǒng)不能工作，而是要使系統(tǒng)像一個(gè)上滿了油的機(jī)器嗡嗡叫。 在負(fù)載測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容中，我想應(yīng)該非常重要的是要有十分充足的數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行測(cè)試。從我的經(jīng)驗(yàn)中得知，假若不用非常大的數(shù)據(jù)*去測(cè)的話，有很多嚴(yán)重的bug是不會(huì)的到的。比如說(shuō)，LDAP/NIS/ActiveDirectory數(shù)據(jù)庫(kù)中成千上萬(wàn)的用戶，郵件服務(wù)器中成千上萬(wàn)的郵箱，數(shù)據(jù)庫(kù)中成G成G的表，文件系統(tǒng)中很深的文件或者目錄的層次，等等。顯然，測(cè)試人員就需要使用自動(dòng)化工具來(lái)產(chǎn)生這些龐大的數(shù)據(jù)集，比較幸運(yùn)的是任何優(yōu)秀的腳本語(yǔ)言都可以勝任這些工作。

飛針測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)的在線測(cè)試機(jī)上所有的傳統(tǒng)針床(bed-of-nails)界面，飛針測(cè)試使用四到八個(gè)獨(dú)立控制的探針，移動(dòng)到測(cè)試中的元件。在測(cè)單元(UUT, unit under test)通過(guò)皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測(cè)試機(jī)內(nèi)。然后固定，測(cè)試機(jī)的探針接觸測(cè)試焊盤(pán)(test pad)和通路孔(via)從而測(cè)試在測(cè)單元(UUT)的單個(gè)元件。測(cè)試探針通過(guò)多路傳輸(multiplexing)系統(tǒng)連接到驅(qū)動(dòng)器(信號(hào)發(fā)生器、電源供應(yīng)等)和傳感器(數(shù)字萬(wàn)用表、頻率計(jì)數(shù)器等)來(lái)測(cè)試UUT上的元件。當(dāng)一個(gè)元件正在測(cè)試的時(shí)候，UUT上的其它元件通過(guò)探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾(圖一)。

飛針測(cè)試機(jī)可檢查短路、開(kāi)路和元件值。在飛針測(cè)試上也使用了一個(gè)相機(jī)來(lái)幫助查找丟失元件。用相機(jī)來(lái)檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復(fù)性達(dá)到5-15微米的范圍，飛針測(cè)試機(jī)可精密地探測(cè)UUT。

飛針測(cè)試解決了在PCB裝配中見(jiàn)到的大量現(xiàn)有問(wèn)題，如在開(kāi)發(fā)時(shí)缺少金樣板(golden standard board)。問(wèn)題還包括可能長(zhǎng)達(dá)4-6周的測(cè)試開(kāi)發(fā)周期；大約$10,000-$50,000的夾具開(kāi)發(fā)成本；不能經(jīng)濟(jì)地測(cè)試少批量生產(chǎn)；以及不能快速地測(cè)試原型樣機(jī)(prototype)裝配。這些情況說(shuō)明，傳統(tǒng)的針床測(cè)試機(jī)缺少測(cè)試低產(chǎn)量的低成本系統(tǒng)；缺乏對(duì)原型樣機(jī)裝配的快速測(cè)試覆蓋；以及不能測(cè)試到屏蔽了的裝配。

因?yàn)榫哂芯o密接觸屏蔽的UUT的能力和幫助更快到達(dá)市場(chǎng)(time-to-market)的能力，飛針測(cè)試是一個(gè)無(wú)價(jià)的生產(chǎn)資源。還有，由于不需要有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師，該系統(tǒng)可認(rèn)為是節(jié)省人力的具有附加價(jià)值和時(shí)間節(jié)省等好處的設(shè)備。

壓 力測(cè)試 主要考驗(yàn)一個(gè)服務(wù)器承載上限，此類測(cè)試 有 機(jī)器人調(diào)試 和真實(shí)測(cè)試。機(jī)器 通過(guò)不斷添加機(jī)器人數(shù)據(jù)，測(cè)試服務(wù)器正常承載上限 。