掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像。STEM技術(shù)要求較高,要非常高的真空度,并且電子學(xué)系統(tǒng)比TEM和SEM都要復(fù)雜。
中文名稱 | 掃描透射電子顯微鏡 | 外文名稱 | scanning transmission electron microscopy |
---|---|---|---|
類型 | 電子設(shè)備 | 用途 | 觀察 |
電子顯微鏡的分類 1、透射電鏡 (TEM) 樣品必須制成電子能穿透的,厚度為100~2000 ?的薄膜。成像方式與光學(xué)生物顯微鏡相似,只是以電子透鏡代替玻璃透鏡。放大后的電子像在熒光屏上顯示出來,TE...
電子顯微鏡是根據(jù)電子光學(xué)原理,用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡,使物質(zhì)的細(xì)微結(jié)構(gòu)在非常高的放大倍數(shù)下成像的儀器。 電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點(diǎn)的最小間距來表示。20世紀(jì)70年代,透射...
顧名思義,所謂電子顯微鏡是以電子束為照明光源的顯微鏡。由于電子束在外部磁場或電場的作用下可以發(fā)生彎曲,形成類似于可見光通過玻璃時的折射現(xiàn)象,所以我們就可以利用這一物理效應(yīng)制造出電子束的“透鏡”,從而開...
格式:pdf
大小:227KB
頁數(shù): 5頁
評分: 4.4
本文通過比較高壓系統(tǒng)常用氣態(tài)絕緣介質(zhì)的性能,對比影響氣體絕緣性能的關(guān)鍵參數(shù),給出了透射電子顯微鏡高壓電源箱絕緣材料的優(yōu)化選擇,介紹了六氟化硫(SF6)氣體在透射電子顯微鏡高壓電源絕緣中的應(yīng)用,計算了充SF6絕緣氣體的高壓電源箱,并給出了透射電子顯微鏡高壓箱的絕緣充SF6氣體工藝。
目錄
第一章 電子顯微鏡發(fā)展簡史
第二章 電子光學(xué)基礎(chǔ)
第三章 常用磁透鏡的傍軸光學(xué)參數(shù)
第四章 磁透鏡的象差
第五章 強(qiáng)激勵透鏡和非對稱透鏡
第六章 透鏡磁路與線包的設(shè)計
第七章 電子槍
第八章 偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)
第九章 照明系統(tǒng)和成象系統(tǒng)
第十章 象的觀察與記錄
第十一章 成象理論初步
第十二章 改善分辨本領(lǐng)的努力
第十三章 分析電子顯微鏡
第十四章 掃描透射電子顯微鏡
第十五章 全息法
參考文獻(xiàn)
附錄 商品電子顯微鏡發(fā)展簡史