量測(cè)范圍:0.5m~30m
分 辯 率:0.01mm
測(cè)量精度:0.06mm
數(shù)顯穩(wěn)定度:24h內(nèi)不大于0.01mm
電源:1.55V氧化銀鈕扣電池SR44w 1節(jié)。
外型尺寸:410mm×100mm×35mm
重量:0.9kg
學(xué)科:坑探工程
詞目:圍巖收斂?jī)x
英文:surrounding rock convergence gauge
釋文:圍巖收斂?jī)x一般由粗測(cè)裝置、精測(cè)裝置、張拉力裝置和支架組成。粗測(cè)裝置是讀取毫米級(jí)以上的數(shù)據(jù),有三種形式:帶刻度的剛性金屬桿式收斂計(jì)(又稱桿式收斂計(jì)或測(cè)桿),其測(cè)量長(zhǎng)度在3米以內(nèi);銦鋼絲收斂計(jì)和帶孔鋼尺式收斂計(jì)(又稱弦式收斂計(jì)),測(cè)量距離可達(dá)20米以上。精測(cè)裝置用于讀取毫米級(jí)以下的位移,主要有機(jī)械百分表、螺旋測(cè)微尺和電子數(shù)顯容柵尺三種形式。張力裝置是為保證每次測(cè)量時(shí)施加在鋼尺上的拉力恒定,盡量減少測(cè)量誤差。有重錘和測(cè)力彈簧兩種,以測(cè)力彈簧應(yīng)用最為普遍。
型號(hào):SL-5868P標(biāo)準(zhǔn):GB/T3785,IEC651typc2,ANSIS1.4type2測(cè)量參數(shù):普通聲級(jí)LP等效聲級(jí)(積分聲級(jí))Leq(10秒、1分鐘、5分鐘、10分鐘…….)統(tǒng)計(jì)聲級(jí)Ln測(cè)...
超聲波探傷儀【性能指標(biāo)及技術(shù)參數(shù)】數(shù)字超聲波探傷儀名 稱 數(shù)字超聲波探傷儀技 術(shù) 數(shù) 據(jù)掃描范圍(mm) 0~10000垂直線性誤差 ≤3%水平線性誤差 ≤0.1%探傷靈敏度余量 ≥62dB (深20...
智能三用表校驗(yàn)儀適用范圍及技術(shù)參數(shù)是?
數(shù)字式三用表校驗(yàn)儀適用于檢定、校驗(yàn)各種0.5級(jí)以下電流電壓表,其中交、直流電壓0—1000V;交直流電流0-2OA;并設(shè)有十一檔X 2中值電阻。由于儀器采取超載保護(hù)等安全措施,所以除具有準(zhǔn)確度高,穩(wěn)定...
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頁(yè)數(shù): 3頁(yè)
評(píng)分: 4.6
介紹了利用測(cè)桿配合全站儀自由設(shè)站法進(jìn)行隧道圍巖絕對(duì)位移值的觀測(cè)方法和原理,指出該監(jiān)測(cè)系統(tǒng)具有成本低廉、操作簡(jiǎn)便、數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)并能提供直觀詳細(xì)的數(shù)據(jù)。
格式:pdf
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頁(yè)數(shù): 4頁(yè)
評(píng)分: 4.7
采用大型數(shù)學(xué)軟件Matlab對(duì)監(jiān)控量測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行回歸分析等數(shù)學(xué)處理,找出監(jiān)控量測(cè)數(shù)據(jù)之間的相關(guān)性并模式化為量測(cè)曲線和數(shù)學(xué)方程,使經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)處理后的數(shù)據(jù)能有效反映圍巖發(fā)展趨勢(shì)及最終位移量。根據(jù)得到的巖性參數(shù)進(jìn)行水平劃分,得到各水平參數(shù)并進(jìn)行正交組合進(jìn)而得到試驗(yàn)方案。通過(guò)采用數(shù)值模擬軟件Midas/GTS模擬各試驗(yàn)方案下圍巖的最終位移量,由此得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)庫(kù)。然后通過(guò)Matlab編制的巖性參數(shù)反演程序進(jìn)行反分析,得出該段巖體的等效巖性參數(shù)。最后利用Midas/GTS正演計(jì)算,得到隧道在開(kāi)挖支護(hù)后圍巖的應(yīng)力-應(yīng)變分布和最終位移值,以此來(lái)評(píng)價(jià)圍巖穩(wěn)定性。
分為便攜式測(cè)斜儀和固定式測(cè)斜儀,便攜式測(cè)斜儀分為便攜式垂直測(cè)斜儀和便攜式水平測(cè)斜儀,固定式分為單軸和雙軸測(cè)斜儀,應(yīng)用最廣的是便攜式測(cè)斜儀。測(cè)斜儀是一種通過(guò)測(cè)定鉆孔傾斜角從而求得水平向位移的原位監(jiān)測(cè)儀器 。
測(cè)斜儀的基本配置包括測(cè)斜儀套管、測(cè)斜儀探頭、控制電纜及測(cè)斜讀數(shù)儀 。
晶體測(cè)角儀(goniometer)是測(cè)量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測(cè)角儀和反射測(cè)角儀。最普通的接觸測(cè)角儀(contact goniometer)相當(dāng)于量角器加一小尺,適用于較大晶體的測(cè)量,精度較低,只達(dá)12°。反射測(cè)角儀有單圈反射測(cè)角儀和雙圈反射測(cè)角儀兩種。
單圈反射測(cè)角儀(one circle reflection goniometer)主要由水平圈、光管、視物管(望遠(yuǎn)鏡)和掣晶臺(tái)四部分組成。根據(jù)晶面對(duì)光線反射的性質(zhì),利用光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量,精度較高,可達(dá)1′,適用于測(cè)量粒徑約數(shù)毫米而且晶面平整光滑的小晶體。
雙圈反射測(cè)角儀(two circle reflection goniometer)比單圈反射測(cè)角儀多一個(gè)直立圈,使晶體可繞互相垂直的兩個(gè)軸任意轉(zhuǎn)動(dòng),大大簡(jiǎn)化了測(cè)量手續(xù),是晶體測(cè)量的主要儀器。用接觸測(cè)角儀或單圈反射測(cè)角儀測(cè)得的是每?jī)蓚€(gè)晶面法線間的夾角值,即面角值。而由雙圈反射測(cè)角儀測(cè)得的則是每一個(gè)晶面的一組球面坐標(biāo)值——方位角和極距角值,前者相當(dāng)于地球上的經(jīng)度,而后者則相當(dāng)于緯度 。[1]2100433B
科技名詞定義
中文名稱:激光測(cè)徑儀
英文名稱:diameter measuring gauge
定義:用激光測(cè)量工件或材料直徑的儀器。
應(yīng)用學(xué)科:機(jī)械工程(一級(jí)學(xué)科);光學(xué)儀器(二級(jí)學(xué)科);激光器件和激光設(shè)備-激光應(yīng)用(二級(jí)學(xué)科)
測(cè)徑儀大至可分為激光掃描測(cè)徑儀,CCD投影測(cè)徑儀,激光衍射測(cè)徑儀,其中前兩者都屬光學(xué)的幾何原理,后者為利用激光衍射原理。測(cè)徑儀廣泛運(yùn)用于電線電纜,漆包線,金屬絲,PVC管,以及醫(yī)療器械等各種行業(yè)。在線檢測(cè)和離線檢測(cè)均可,并能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)反饋控制以及與電腦的聯(lián)機(jī)通訊。測(cè)徑儀行業(yè)經(jīng)過(guò)發(fā)展已經(jīng)衍生出了可旋轉(zhuǎn)測(cè)徑儀和手持式測(cè)徑儀。